正焦，过焦，还是欠焦，哪个图像正确？

我觉得欠焦像倒是挺适合你的情况，你说的CCD引进的背景应该不会这样。
另外，我注意到你的照片上有两处黑痕，是CCD相机上的吗？

请问能说明原因么? 为什么defocus会引入一些正焦反而不能观察出来的
细节(或者是假相)? 为什么过焦和欠焦的图像不同?
对..ccd可能比较脏,有几个地方有灰尘

你看到的结构是真实的，至于为何在正焦时观察不到，而欠焦与过焦衬度翻转，可以用相位衬度理论很好地解释。不过，这不是大家所熟悉的弱相位物体近似（因为像在正焦附近，非薛泽欠焦附近），而是一个称为投影电荷密度（Projected Charge Density）的近似。有兴趣者，可参阅 Cowley & Moodie (1960) Proc. Phys. Soc. 76, 378
简而言之，像强度在接近正焦附近，可表达为：I(x,y)=1+2L S D P(x,y)。这里的L是波长，S是作用常数sigma，D是离焦量，P(x,y）是投影电势（无法敲入希腊字母，痛苦）。当正焦D=0，相位衬度太低，像衬以质厚衬度为主，可用密度解释；当过焦和欠焦变化时D>0或者D<0，相位衬度就发生了翻转。轻元素的投影势小，故在欠焦的情形下表现为亮，在过焦的情形下表现为暗。至于背底仍受质厚衬度支配，改变聚焦时没有太大的变化。是否可以圆满地解释你的高分子材料了？
发文章时别忘了在参考文献中引用TEM_ABC（2006）Instrument.com.cn啦

这个公式很好，说明了很多问题。I（x,y)应该没有包括质厚存度，否则d＝0
，I＝1，成常数了？是不是应该是I＝I相位＋I质厚？P（x，y）是由什么决定的？密度？所以轻物质投影电势小？类似质厚存度？所以defocus为负数（欠焦）才是正确的包括质厚和相位的图像？
有个问题，大家的defocus一般是多少？在5000倍的时候，我的defocus＝－60um，是不是太大了？不过相位纯度变得相对清晰，在20000倍的时候，defocus减小到－20um好像比较好。另外这个相位存度的尺寸会随D的增加而变大，而我很关心这个尺寸的准确度，所以不知道该怎么样选择合适的defocus大小？ 什么尺寸才是真实的？
多谢TEM—ABC，真是TEM百科全书，哈哈。。一定引用你的大名，

我在前面也提到，此公式是相位衬度理论，故D=0的时候质厚衬度支配。P(x,y)是投影势场，由总原子序数（高分辨率下，沿厚度方向的总和）或投影密度（低倍数下，也包含厚度的积分）决定。相位衬度又决定样品不可以过厚（至少是相位物体），否则公式不再成立。
通常所说的最佳欠焦量（薛泽欠焦）是针对最佳分辨率而言的。对你的分辨率几个纳米的应用，并不关键。你所追求的是足够的衬度，亦即以欠焦增加相位衬度。对于类似的低衬度样品，欠焦几个微米到几十个微米都不罕见，只要你的衬度合适。通常会在衬度适应的前提下，尽可能地少点欠焦，以补偿分辨率的损失。
此外，你的欠焦量是读出来的还是测出来的？前者会有一些水分，后者（用FFT）会准确地多。

我又糊涂了，按你给出的定义，这相位存度和质厚存度不是一回事么？他们的区别究竟在什么地方？AFM里面相位图是由于材料的硬度决定，和高度图是有明显区别的。TEM里面相位存度和质厚存度在一张图里面，是不是说明这两种信息的来源其实是近似的？ 我理解相位存度可以在defoucs的情况下表现一些质厚存度无法体现的细节对比。这种对比同样反应了材料的密度对比，和质厚存度表达的信息是一致的。
另外你说的样品不可以过厚，是大概什么量级呢？100nm？
我的defocus的量是直接读出来的，请问怎么从fft上看defocus的量？
从你的公式中，当defocus为负数的时候，D为负，P越小I越大啊，说明轻物质
反而有更大的相位存度？过焦的时候才正确？
不好意思，我是个问题篓子。