EDXRF中连续谱强度问题

强度和激发是一个相反的路径

会有很大的衍射峰，覆盖低含量元素的谱峰。

我的理解连续谱主要是背景和噪音吧！
强度越大实际上对关心元素影响越大。

应助达人

X光管发射出的X射线实际上是由靶材特征线叠加在连续谱上的，如你所言，管电流越大，连续谱强度越大。

与我最初的认识相反的是，XRF中，其实是拿连续谱去激发样品的，靶材的特征谱线往往要被过滤掉。

明白上上述问题，你就可以知道，管电流越大，连续谱强度也越大，这样样品激发出来的荧光强度就越大。这是有利的一面。

不利的方面就是仗剑老师说的，样品荧光强度中连续谱部分也会增强，这就增加了背底和噪声。

我在用软件模拟了30kev能量电子打到Cr金属上产生的谱线，里面有特征谱和背景，这里的背景包括连续谱吗？

应助达人

你的图片好小，看不清楚。我保存下来放大了看也看不清楚。

按照道理讲，应该有连续谱（就是谱图上的背底）和Cr特征峰，CrKa应该在5.4keV左右，但是我没有看到明显的特征峰，不知道你用的什么软件？放个大点的图上来看看。

绿色背景 黄色特征谱

应助达人

先回答你的问题：这个背景就是来自于连续谱啊。

我对你用的软件倒是很有兴趣，呵呵，能给个下载地址吗？

从你的截图上看，这个软件并不完善，表现在CrKa、CrKb、CrLa峰强度比例有很大问题，你实际用个含有Cr的样品测试一下就会发现这三个峰的强度比不应该是这样的。可能软件只是考虑了光管段和样品段的理论模型的计算，一些诸如检测器的低能段响应等问题没有考虑进去。

是不是连续谱强度越大对最后荧光光谱测量的背景和特征谱的计数率影响越大？而这个强度只是单纯的影响了计数率？