对于CCD SPARK-OES而言，如何只用一块纯物质估算检出限？

LOD=3*SD

通常，直读光谱仪验收时，厂家的安装工程师会使用一块纯物质（比如纯铁），选择相应的程序连续激发11次，其测量浓度的标准偏差乘以3，得到的结果即为检出限。此外，我遇到的几家计量检定单位，也是用此方法测量检出限的。

要是仔细考究的话，这种方法好像还是有些问题的，因为它与仪器检出限、方法检出限和测量下限的定义都不完全吻合，

但我觉得在实际的应用中，特别是工厂中，由于条件的限制，用这种方法还是可行的，类似于一种估算方法，虽然没有严格参照标准的定义，但这种方法简单省事，也能较好地反映检出限的

大家可能理解错了。
我指的是，就一块纯金属物质且已知含量，没有校准曲线，如何估算检出限？

采用一套中低合金钢或一套不锈钢校准曲线去估算检出限，靠谱吗？
DL=3*SD，在什么条件下成立？