第5楼2006/03/06
X射线分析显微镜
概要:
主要用于对样品进行非破坏分析,可以同时进行样品的形态和样品元素的分析。
特点:
最小可对φ10μm 的点位进行分析能够测量最小波长为512μm的X射线。能够对Na~U的元素同时进行分析,并可同时记 录31种元素的测定结果。能够在大气中进行分析。(不需要进行导电处理等前处理)可同时进行元素分析和物体内部X射线成像。
主要技术指标:
X光微细光束发生器
X光束开关机构:Ф10μm或Ф100μmXGT
X光发生器:X光管(靶材:Rh)
管电压:15、30、50KV(可选)
管电流:0.1、1.0 MA
样品台
样品尺寸:300(宽)×300(长)×30(高)mm(最大)
扫描范围:512×512μm(最小)―100×100mm(最大)
进给量:2μm
扫描分析时间:加载时间3秒(最小)
(扫描分析范围512×512μm)
定量功能(谱线测量)
能量范围:40Kev(10Kev/每通道)
调准,自动谱线测量,多点分析
显示:
彩显
计算机:OS:
视窗98
X光探头
① 硅探头:高纯硅X光探头(Xerophy
② Nal探头
光学显微镜:
放大倍数10
映象分析
高速积分方式(X荧光图象)
同时可测图象数:一个透射X光映象
31个X荧光映象(256×256像素)或
15个X荧光映象(512×512像素)
伪彩色、RGB混色、图象线分析、图象间处理
定量分析
(FPM和测量线定量)
电源:
AC100~240V±10%Hz .3KVA(最大)