请大家修改WDXRF建立土壤（压片制样）曲线的分析线和干扰线

应助达人

仪器为波长色散型仪器，布鲁克公司的 S8 Tiger 压片制样 30吨压力*30秒

常量元素可不考虑微量元素的干扰。

应助达人

S8 Tiger不像S8 Dragon一样带能谱通道吧...有的话，仪器貌似就没啥可比性了...
F用XRF测仅仅是无奈之举，参考X-ray-induced alteration of specimens as crucial obstacle in XRF spectrometry of fluorine in rocks and soils一文，其从本质上解释了因为射解作用，土壤及岩石中F为何不能用XRF测定的原由。一定要霸王硬上弓的话，干扰线应该考虑Fe的L系线。熔融制样的话卤素均存在挥发损失的情况，若有定量打算的话，条件需尽量保持一致。此外卤素在熔融过程中还可能出现挥发饱和的情况，但这一情况应该在土壤/水系沉积物中遇不到(即便是盐碱土)。
Na不用考虑La的干扰，Zn的干扰可以添加(但基本上用处不大)，为定量准确计，可以设置4背景点。
Mg不用考虑Se及Ca的高次线干扰，在设置背景点时可参考Na，因其背景是一条倾斜的曲线，对于部分含量较低的样品，左右各一点设置背景出现净强度负值的几率更大。
Al、Si算是土壤/水系沉积物的主量元素，不用考虑干扰线，单点背景即可，可尽量压缩扫描时间。
S选用XRF分析也不太稳定，仅仅是出于效率/成本方面的考量，干扰线也可无视，需要自己多做做基体校正的工作。
Cl的情况与F类似，但受影响程度更小，在选取干扰线的时候建议遵循这一原则：土壤/水系沉积物中主量元素基本可以无视次量/痕量元素的谱线重叠干扰，而次量及痕量元素若无法使用康普顿散射内标法，则应尽量加入。后边元素我就捡着说说了。
Ti考虑Ba的干扰就行了，Cu不用关心，基体校正的时候注意相邻过渡元素的影响。
V考虑Ti的干扰即可，Ba及其他不用考虑。
Cr考虑V的干扰即可，Pm是放射性稀土元素，自然界中基本不存在，算了吧...
Co/Ni/Cu/Zn 康普顿散射内标法伺候，不用选杂七杂八的干扰线，使用碳化钨模具其实对粉末压片中Co测量结果影响极小，不用担心。
Ge/As/Se 检出限基本无法满足要求...
Br视仪器情况而定，我们因为没有配置弯晶，所以方法中没有。
Rb、Sr、Y、Zr、Nb保留间的干扰即可，视情况可添加铝滤光片，优化峰背比。
Mo灵敏度虽高，但含量实在太低，低于检出限...这里说一下第二个需要注意的地方，虽然某些痕量元素含量通常低于仪器检出限而不包含在方法中，但在部分样品中可能出现超富集的情况，如此一来即有可能产生意料之外的影响，是否测量该元素以备谱线重叠校正由使用者决定，应综合考虑样品通量、准确地要求等方面；
Ag/Cd/In含量本身就低，再隔上一层黄铜滤光片...结果可想而知...
Sn/Sb/Te/I/Cs的检出限在某些论文中可以满足要求，实际中WDXRF测定就算了吧...
Ba的K线60 kV激发的效果好么...L线也可以测，考虑TI的干扰即可。
La检出限不是太好，勉强用，干扰不用考虑。
Ce选择两条线是对的，特殊情况下Ba/Ce比较悬殊的时候，Ce Lα线受影响比较严重，但准确性也不是太好。
剩余轻稀土元素中除了Nd可以一试，Pr/Sm的检出限应该也是无法满足要求的。
至于重稀土...看看扫描的峰图，即便用最高含量的样品在不借助辅助标示的情况下能不能肉眼定位峰位...
Hf的结果老实说也不行，可以试试，但是重稀土、二次线、Ta的干扰可以不用考虑。
Ta最高点浓度*10，看看能不能出峰...
W/Hg/Tl检出限无法满足要求的典型，一般土壤中Hg的含量往往是0.0XXppm...
Pb为了节省时间，选择Lβ线即可，选择Lα线还需要考虑As异常的干扰。
Bi检出限无法满足要求，但为校正Th，应选择加入。
Th OK.
U含量较Th低，检出限一般也是不足的。

应助达人

非常感谢。常量 微量元素 痕量元素在XRF如何划分呢？ 主量：1%-100%，次量：0.2%-1%，痕量：小于0.2%——这样划分合适吗？

如果不合适，请给出正确的。谢谢

应助达人

1.S8 Tiger 仅仅是波长色散。

2.制样方法为压片。

3.Na: La和Zn含量处在同一数量级，是否因为同含量条件下，ZnLβ1比LaMr强度要大的多而不选后者呢？

4.背景点的选择：我之前建立曲线最多选择两个，对含量低就在右侧选择一个背景点。我将来再建立曲线时，对Na Mg如何四个背景点再请教你。

5.对于Al、Si等主量元素，是否可以设置高分辨分析线而不需要选择高灵敏度分析线呢？

6.S的含量范围太大，价态差异大，如何做好基体校正的工作呢？
7.在选取干扰线的时候建议遵循这一原则：土壤/水系沉积物中主量元素基本可以无视次量/痕量元素的谱线重叠干扰——这个我理解啦，但主次痕量元算如何划分呢？

8.次量及痕量元素若无法使用康普顿散射内标法——如何使用康普顿散射内标呢？次量痕量元素若用康普顿散射内标法校正，是否仍然需要扣除相关干扰谱线呢？

9.基体校正的时候注意相邻过渡元素的影响——过渡元素的影响如何理解呢？

10.Rb、Sr、Y、Zr、Nb保留间的干扰即可——保留见的干扰是指保留它们之间的相互干扰就行了是吧？

11.虽然某些痕量元素含量通常低于仪器检出限而不包含在方法中，但在部分样品中可能出现超富集的情况，如此一来即有可能产生意料之外的影响，是否测量该元素以备谱线重叠校正由使用者决定，应综合考虑样品通量、准确地要求等方面——样品通量是什么意思呢？超富集是什么情况呢？

12.Ba的K线60 kV激发的效果好么...L线也可以测，考虑TI的干扰即可——建议使用BaLA1做分析线是吧？

应助达人

非常感谢你的热心而又精彩的答复，尚有些问题麻烦您来解答～～问题在五楼。

应助达人

3. 元素谱线强度K>L>M，土壤和水系沉积物基本不用考虑M线的影响，La即便用Lα线分析尚且困难，M线除非是镧富集物一类的样品咯。
4. 设置多背景点的原则是高低兼顾，PHD的设置也是如此，含量处于两极的样品峰型往往存在差异，在扫描定背景点位置的时候，采用先高后低的原则。
5. Al/Si用Kα线即可，不用考虑干扰，探测器也不会饱和。
6. S现在说来没有好办法，标准序列本身就缺乏S价态的相关信息，建议结果和其他成熟方法对比。一般而言，一批相同来源的样品，其中S的价态分布应该也接近，因此可以考虑在处理数据时以经典方法的结果对XRF分析结果进行校正。
7. 就土壤/水系沉积物而言，应该是依据其地壳丰度，在《岩石矿物分析》第三版第三章19页有提到，但实际上我个人认为还应考虑各待测元素的在XRF分析中灵敏度，例如书中将F、Cl均列为次量元素，但考虑F、Cl尤其是F在WDXRF中的灵敏度我更倾向于将其定义为痕量。
8. 使用康普顿散射内标需要在方法中额外测量Rh靶Kα、Kβ的康普顿散射线，如何将其设置为内标请询问仪器应用工程师，一般地质样品中(Cr以后)痕量元素分析方才使用康普顿散射内标法，除非有明显的谱线重叠现象，Co/Ni/Cu/Zn/Pb Lβ1无须扣除，你试试就知道。
9. 那句话是针对Ti而言的，第三周期过渡元素尤其是Ti-Fe，可能存在吸收增强效应，在校正时需注意。
10. 是。
11. 样品通量sample throughout样品通量高基本等于=分析速度快，超富集我这词儿没用对地儿，换句话说含量异常，远高于背景值，打个比方你标准序列中含有100+ ppm以上As的样品绝对是凤毛麟角。异常高的Mo可能对Nb Kα线的背景产生干扰，设置背景时需注意。或者说高含量的Zn遇上低含量的Na这种罕见情况。
12. 是，注意Ti Kβ线的干扰就好。

应助达人

非常感谢你热情而又及时的回答，这个帖子原以为需要很长时间才能结贴，看来现在就行。我从你们那里学到很多知识，当然有的还需要我再消化消化。

设置多背景点的原则是高低兼顾，PHD的设置也是如此，含量处于两极的样品峰型往往存在差异，在扫描定背景点位置的时候，采用先高后低的原则。

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我想问两个问题：1.在扫描定背景点位置的时候，采用先高后低的原则。其中先高后底是指什么呢？【先扫描待测元素高含量再扫面低含量的吗？ 还是扣背景点位时，先扣除衍射角大的（波长长/能量低的，即右侧的）后扣除小的呢？】

2.PHD设置上下下限用于扣除高次线、仪器基线，在实际设置PHD时有啥讲究呢？——我们工程师针对信号强度给出了PHD上下限参数值，但某部分的强度值（低于100KCPS）没有给出其参数。

应助达人

对，先扫描高含量再低含量，特别是Na/Mg，因为高含量的峰背景往往好扣，而低含量则需要更多的点位以模拟背景的走势。在处理某些痕量元素的时候甚至可以不设置背景(在SuperQ软件中即是背景和峰处于同一位置，手动设定背景值，在背景杂乱难以选择时可以考虑，文献中也有提过)
土壤/水系沉积物中PHD的设置并没太多讲究，仪器默认参数值即可或略作修改，一般需要在处理某些矿物样品时才会遇到，比如PHD上下限过窄，精矿样品超出上下限的情况。PHD中逃逸峰的处理也是众说纷纭，加入逃逸峰可以改善检出限，但是峰背比变差，看软件是否支持两段PHD设置，比如25-31、35-75，如果具备这一功能，可以加入看看。