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测试过程中雾化效率降低的解决方法?.

  • 依风1986
    2015/03/14
  • 私聊

ICP光谱

  • 测试过程中雾化效率降低的解决方法?.
    1..熄火拆下清洗或更换;
    2.不熄火继续吸入去离子水或其它无机酸(1% HF ,<30s)清洗;
    3.置之不理,重新标准化或运行QC来校正曲线斜率处理。
    包括上面三种方法大家还用其它哪些呢,测试过程中雾化效率降低的解决方法?.您会如何选择 ?
  • 该帖子已被版主-tang566加2积分,加2经验;加分理由:话题
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  • tang566

    第1楼2015/03/15

    应助达人

    先釆用第二种方式,第二种方式未改善后,取下清洗。

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  • 依风1986

    第2楼2015/03/15

    应助达人

    也只能这样一步一步去排除了

    tang566(tang566) 发表:先釆用第二种方式,第二种方式未改善后,取下清洗。

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  • tang566

    第3楼2015/03/15

    应助达人

    这样排查用时多。

    依风1986(xurunjiao5339) 发表: 也只能这样一步一步去排除了

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  • tang566

    第4楼2015/03/15

    应助达人

    有备用件,直接换备用件。

    依风1986(xurunjiao5339) 发表: 也只能这样一步一步去排除了

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  • 光哥

    第5楼2015/03/16

    应助工程师

    不考虑更换样品的前处理?
    雾化效率降低,除非是测试之前就坏掉了,否则原因应该是样品盐度太大导致的。这时候应该要考虑更换样品的前处理方式了,否则换了备用件,还不一样继续堵

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  • abcpgf

    第6楼2015/03/16

    应助达人

    高盐样品也是一个原因,要是堵了还是选择第一种吧。

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  • 依风1986

    第7楼2015/03/17

    应助达人

    你这样说就是需要特殊考虑进样的配件了

    光哥(xsh1234567) 发表:不考虑更换样品的前处理?
    雾化效率降低,除非是测试之前就坏掉了,否则原因应该是样品盐度太大导致的。这时候应该要考虑更换样品的前处理方式了,否则换了备用件,还不一样继续堵

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