huanghaiyan0904
第2楼2016/03/22
布鲁克全反射XRF 18221083873
全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术
TXRF:它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、准确度高(可用内标法)、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会;该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X射线荧光光谱仪范围内,能谱仪(EXRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差