单道顺序扫描和全谱直读，究竟那个引领未来呢？

应助达人

全谱直读的才是当今的趋势啊！

应助达人

非常感谢老师。

貌似单道出来的比较早，，全谱晚点，，近十几年全谱发展迅速！！

应助达人

1.m2887871：http://bbs.instrument.com.cn/boardlist/bbs/topic?threadid=5313635
在背景和干扰校正上有何优势，为何准确度要比PMT的好？
影响准确度的因素有两个：一是光源激发所产生的基体效应干扰，二是光谱干扰。基体效应干扰是由光源决定的，无论用哪种探测器都会存在，现在普遍的方式是通过干扰系数法来校正。光谱干扰（背景和干扰元素的光谱）则可以通过软件的方式扣除。背景干扰：举个例子，假设我们要爬一座山峰，我们关注的是从山脚下到山顶的高度，PMT测量的是山顶海拔高度，而CCD测量的是形貌图，包含山顶和山脚的海拔高度，因此，在山峰高度的评判上，CCD比PMT要准。元素干扰：再假设有两座相连的山峰，是因为玉帝老儿的天空漏了两个窟窿落下来的土造成的，我们现在想知道每个窟窿到底漏了多少土，PMT测量是很粗暴地直接从中间切断，CCD是测绘处山峰的整体形貌，再根据这种形貌特点计算出中间重叠部分与多少土属于左边山峰，多少土属于右边山峰，因此，在堆土量的判断上，CCD比PMT更准。
2.andrew-zhang：http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130404/4656286/
全谱直读可以分为全谱同时直读和全谱扫描直读。如果固态检测器一次曝光读出的数据覆盖了整个波段范围，可以认为是全谱同时直读（全谱直读型）；如果固态检测器一次以上曝光，分段读出的数据覆盖了整个波段范围，可以认为是全谱扫描直读（顺序扫描型）。
全谱直读等离子体发射光谱仪:光源发出的光通过两个曲面反光镜聚焦于入射狭缝，入射光经抛物面准直镜反射成平行光，照射到中阶梯光栅上使光在X向上色散,再经另一个光栅(Schmidt 光栅)在Y向上进行二次色散，使光谱分析线全部色散在一个平面上，并经反射镜反射进入面阵型CCD检测器检测。
单道扫描光谱仪从光源发出的光穿过入射狭缝后，反射到一个可以转动的光栅上，该光栅将光色散后，经反射使某一条特定波长的光通过出射狭缝投射到光电倍增管上进行检测。
所以我认为是分为3类的，但是据说优势倒不一定全谱直读就是最高的，各有优点。
单道扫描光谱仪优点：波长选择更为灵活方便，分析样品的范围更广，适用于较宽的波长范围。
全谱直读优点：测试速度快，分析效率高，而且所有的元件都牢固地安置在机座上成为一个整体，没有任何活动的光学器件，因此具有较好的波长稳定性。
3.czcht：http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130407/4660177/index_1.shtml
单道扫描光谱仪从光源发出的光穿过入射狭缝后，反射到一个可以转动的光栅上，该光栅将光色散后，经反射使某一条特定波长的光通过出射狭缝投射到光电倍增管上进行检测。光栅转动至某一固定角度时只允许一条特定波长的光线通过该出射狭缝，随光栅角度的变化，谱线从该狭缝中依次通过并进入检测器检测，完成一次全谱扫描;和多道光谱仪相比，单道扫描光谱仪波长选择更为灵活方便，分析样品的范围更广，适用于较宽的波长范围。但由于完成一次扫描需要一定时间，因此分析速度受到一定限制。
只让特定波长的光经过，这样光谱干扰岂不是好很多
但是比较靠近谱线波长的光谱还是会受干扰啊。如果不是很靠近目标谱线的话就算全谱扫进去了也不会对目标谱线产生干扰啊。
个人觉得抗干扰会好一些！不过具体的看样品
只知道PE7000同样浓度，同一条谱线，强度比瓦里安710要大很多，检出限应该会低很多。

单道搭配高分辨，上个图自己体会

应助达人

先感谢老师分享资料，我慢慢学习。
1.对于复杂基体，选择谱线的重要性；
2.这个分辨率，应该是分光元件而不是检测器的分辨率吧？
3.能否共享多一些方面的资料呢？

limila(limila) 发表:单道搭配高分辨，上个图自己体会

应助达人

各有优势吧，全谱用的多点。