X射线荧光光谱仪（XRF）操作问题20问答

1.R o HS测试时，为什么记数率变化很大？
答：由于材料不同，X荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变化并不影响实际的测量结果。

2. 样品测试时间有多长？

答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的测试记数率有关，记数率越小，所用的测量的时间越长，一般测试时间120-200秒，记数率较小时，我们建议200秒为佳。

3. 液体，油墨可以测试吗？

答：液体，粉体和固体中的有害金属成份，测试方法非常简单。

4. 为什么测试结束后，没有弹出含量结果框？

答：因为样品命名适用了特殊字符，样品命名不能使用“/，﹨：，？特殊字符，这是由Windows操作系统的限制。

5. 为什么一个峰，一半是汞的颜色，一半是铅的颜色？

答：（1）峰漂移，这种情况应重新初始化。

（2）其他元素的干扰。这种元素的并非是汞和铅。

6.为什么测不锈钢要把电流降低到150微安？

答：因为不锈钢容易受激发，电流太大造成记数率太高，造成的光谱堆积现象严重，即得测量的误差加大。

7.为什么不可测针脚？

答：针脚是可以测试的，如果测试其ROHS指标，可直接进行测试，如果测试镀层，需要使用小的准直器，并使用标样标定，同时要测试多点的平均值，这样就可以达到测试的要求。

8.为什么测量小样品时，要用直径小的准直器？

答：在测量小样品时，使用大的准直器是可以测量的，其测量的结果比较准确。使用小的准直器多是测量样品的某点含量的样品的干扰，如：测量PCB板上的焊点，可以减少“绿油”的影响。

9.为什么相近元素，会相互干扰？

答：因为相近元素的电子受激发的能量相近，光谱会相互叠加，同时会互相抬高背景。所以容易相互干扰。

10.为什么测不出锡中的镉？

答：锡中的镉是可以测量出的，只是由于目前的锡标样很多没有镉的标准含量值，所以目前没有测量其结果，同时因为锡峰干扰了镉的峰，测试的结果偏差稍大。

11.仪器的精确度和准确性怎么样？

答：仪器的精度由于样品和含量的不同，其测量的精度不同，以塑胶为例：1000ppm左右的含量其偏差在30ppm左右；在100ppm左右的含量，其偏差为10ppm左右。高含量的绝对偏差大，但相对偏差小；低含量绝对偏差小，而相对偏差大。

12.为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量？

答：因为X荧光原理决定的，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬，PBB和PBDE的含量无法检测。

13.仪器对周围环境有什么要求？

答：环境温度16-30℃，最好有空调。相对温度≦70％，越低越好。

14.同样的样品，他们测量结果和SGS的测量结果为什么不一样？

答：X荧光测试设备属于表面测试，对不同物质，表面穿透能力不一样。SGS是湿化学分析法，它是将样品均匀溶解，然后进行测量。如果多测的材质是均匀的样品，两者的测量结果相当，其相差在同等数量级上。如果表面有涂附层，那么两者测量的偏差是比较大。

15.为什么测试会弹出“除零错误”？

答：选择工作曲线不正确，准直器放错，测试时间太短，样品太小，记数率偏低都有可能出现“除零错误”，同时，如果工作曲线的数据被破坏，同样会造成“除零错误”：如果操作系统使用在“来宾”帐户下，同样也会出现“除零错误”的。

16.记数率偏低，为什么？

答：跟样品的材质、大小和厚度有关：同时，探测器或X光管处于有污染物，同样对探测记数率有很大的影响。

17.曲线出现负斜率，为什么？

答：（1）标样的谱测试不正确，或者含量值输入不正确

（2）人为勿加入非标样点，即数据错误。

18.为什么测试时，有很高的峰谱，而结果确是ND？

答：这种情况是由于其它元素光谱的干扰，其干扰在软件中已经做了校正处理，所以看到的结果是ND的。还有一种情况就是软件中的标准测试数据有错误，或者被更正。

19.为什么重新调出以前测试的样品谱结果不一样？

答：（1）选择的样品类型与上次测量的类型不一样。

(2)这个样品谱无意中被另外的样品测试时覆盖过了。

20.在测试中，为什么对提示样品太小？

答:这一问题出现在成份分析软件中，在ROHS软件中无此现象，其多是在“一起参数”选项中选择了“控制记数率”项后，在测量时因为以下原因产生：

（1）选错工作曲线

（2）样品没有放好或太小

（3）选错准直器

（来自互联网）