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固体半导体探测器分辨率好,为啥没将其用到WDXRF呢?

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 如题,谢谢。
    对5.9keV处MnKA,SiLi的半高宽小于200eV,而WDXRF的FPC和SC探测器半高宽一般甚至大大于700eV。
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  • kgdrh

    第1楼2015/09/07

    同问, 坐等解答人

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  • sweetapple986

    第2楼2015/09/07

    半导体检测器容易计数饱和,在WDX的大功率管照射下根本无法工作,死时间100%

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  • envirend

    第3楼2015/09/07

    应助达人

    谢谢老师的解释,今后有时间我了解一下EDXRF。

    sweetapple986(v2644276)发表:半导体检测器容易计数饱和,在WDX的大功率管照射下根本无法工作,死时间100%

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  • sonne86400

    第4楼2015/09/07

    容易饱和 不采用半导体检测器

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  • 水清鱼读月

    第5楼2015/09/10

    应助达人

    WDXRF不需要靠这个来分光啊,分光晶体已经把光分好了,WDXRF中检测器只要计数就好了,不需要靠他来分辨能量邻近的谱线。而且FPC、SC之类的响应速度快,量子效率高,对高低能量都有很好的响应。
    如果一定要以能量来衡量,WDXRF中能量分辨率大约在十几个eV的样子。WDXRF中唯一需要能量分辨的地方是脉冲高度分析器(PHA),这主要是区分高次线用的。这个时候能量差别巨大,700eV已经绰绰有余了。
    至于前面有版友提到的半导体检测器饱和的问题,我觉得不是理由,可能早期的教材上有这么说的,但是现在SDD检测器计数率达到几十万甚至上百万已经并不鲜见,与闪烁体计数器并不差,那么为什么WXDRF中不用SDD之类的半导体检测器呢?我想原因还是响应问题,半导体检测器效率最好是在8-12keV这一段,能量较高的比如InKa线,能量低的比如NKa线,SDD检测器的响应能力很低的,类似于我们的耳朵,超声波听不见,次声波也听不见。这样如果使用SDD之类的半导体检测器,WDXRF就没有办法宣称可以测试到Be了。

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  • envirend

    第6楼2015/09/10

    应助达人

    因最近忙于其它仪器,加之能力太有限,让我思索您的解惑。非常感谢老师一直以来的帮助,节日快乐。

    水清鱼读月(loaferfdu)发表:WDXRF不需要靠这个来分光啊,分光晶体已经把光分好了,WDXRF中检测器只要计数就好了,不需要靠他来分辨能量邻近的谱线。而且FPC、SC之类的响应速度快,量子效率高,对高低能量都有很好的响应。
    如果一定要以能量来衡量,WDXRF中能量分辨率大约在十几个eV的样子。WDXRF中唯一需要能量分辨的地方是脉冲高度分析器(PHA),这主要是区分高次线用的。这个时候能量差别巨大,700eV已经绰绰有余了。
    至于前面有版友提到的半导体检测器饱和的问题,我觉得不是理由,可能早期的教材上有这么说的,但是现在SDD检测器计数率达到几十万甚至上百万已经并不鲜见,与闪烁体计数器并不差,那么为什么WXDRF中不用SDD之类的半导体检测器呢?我想原因还是响应问题,半导体检测器效率最好是在8-12keV这一段,能量较高的比如InKa线,能量低的比如NKa线,SDD检测器的响应能力很低的,类似于我们的耳朵,超声波听不见,次声波也听不见。这样如果使用SDD之类的半导体检测器,WDXRF就没有办法宣称可以测试到Be了。

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  • acronis

    第7楼2015/09/16

    水清鱼读月(loaferfdu) 发表:WDXRF不需要靠这个来分光啊,分光晶体已经把光分好了,WDXRF中检测器只要计数就好了,不需要靠他来分辨能量邻近的谱线。而且FPC、SC之类的响应速度快,量子效率高,对高低能量都有很好的响应。
    如果一定要以能量来衡量,WDXRF中能量分辨率大约在十几个eV的样子。WDXRF中唯一需要能量分辨的地方是脉冲高度分析器(PHA),这主要是区分高次线用的。这个时候能量差别巨大,700eV已经绰绰有余了。
    至于前面有版友提到的半导体检测器饱和的问题,我觉得不是理由,可能早期的教材上有这么说的,但是现在SDD检测器计数率达到几十万甚至上百万已经并不鲜见,与闪烁体计数器并不差,那么为什么WXDRF中不用SDD之类的半导体检测器呢?我想原因还是响应问题,半导体检测器效率最好是在8-12keV这一段,能量较高的比如InKa线,能量低的比如NKa线,SDD检测器的响应能力很低的,类似于我们的耳朵,超声波听不见,次声波也听不见。这样如果使用SDD之类的半导体检测器,WDXRF就没有办法宣称可以测试到Be了。

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