为什么TEM正焦时样品的衬度最弱？

因为TEM主要是phase contrast，对于薄样品需要defocus来引入衬度。

谢谢大侠，我知道通过defocus来引入衬度，但我的问题是为什么defocus可以引进衬度，它的原理是什么?

干涉。 正焦相当于你在样品下表面看，如果是相物体，没有什么振幅信息。你defocus一下相当于离开样品一段距离看。样品两个位置的出射波在真空中又传播了一段距离相遇了，就可以干涉了。一干涉由于位相差电子强度出现变化衬度就出来了。

建议看高分辨的书，一看就明白了～不只是正负焦，还有样品厚度等，对拍出来效果影响很大的

衬度传递函数

相关的书有没有推荐的，正在学，谢谢！

中低倍率下，振幅衬度是主要的衬度来源，聚焦状态对衬度的影响不是很大。而高倍率下，视野变得很小（单位区域的光强度也会变小），相邻区域间的振幅差异几乎可以忽略掉，如果采用正焦，意味着你还是希望看到的是振幅差异引起的衬度，当然就会造成衬度最小的现象，正确的做法就是偏离正焦状态，才能使相邻区域间的电子波产生干涉成像，形成相位衬度，如上面那位老师所说的，至于采用过焦还是欠焦，看书吧！

有什么经典高分辨的书么？麻烦推荐一下，谢谢！

谢谢楼上的大侠回复，我感觉不管是高倍还是低倍，在正焦时衬度都是最弱的，所以不是这个方面的原因。关于CTF函数，我也研究过一段时间，它的平台（sina=-1)在欠焦时是最宽的，也就是说我们在欠胶的时候图像失真最小。但是我就是不明白为什么在正焦时候衬度最弱（个人认为这个衬度应该来源于衍射衬度，因为正焦或离焦造成了外围衍射斑点的放大或缩小）