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【网络会议】：2015年10月22日 10:00 XPS实验技术和图谱分析基础

网络讲堂

2015/09/22

XPS及其它能谱仪

【网络会议】：XPS实验技术和图谱分析基础
【讲座时间】：2015年10月22日 10:00
【主讲人】：葛青亲
博士，毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。2013年加入赛默飞世尔科技（中国）有限公司，担任应用专家一职，为客户提供现场技术支持及应用解决方案。

【会议介绍】
X射线光电子能谱(XPS) 技术是一种重要的表面分析手段。该技术基于光电效应，采用X射线激发被测样品表面纳米尺度内的原子发射光电子，通过系统探测到所发射光电子的动能等信息，进而实现样品表面的元素种类及化合态的定性和定量的分析。XPS的分析范围广泛，可对从Li到U范围内的元素进行研究，因而不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域，还被广泛地应用于机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域。

本次《XPS实验技术和图谱分析基础》网络讲堂主要涉及一下几个方面：
a.XPS实验技术基础简介
b.XPS样品制备和影响图谱质量的相关因素探讨
c.Thermo Avantage软件中图谱的一般处理功能介绍
d.复杂XPS图谱介绍

e.XPS图谱谱峰拟合方法介绍 (单峰拟合\双峰拟合\非线性最小二乘拟合）

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1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名，通过审核后即可参会。

2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~

3、报名截止时间：2015年10月22日 9:30

4、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1669

5、报名及参会咨询：QQ群—379196738

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