谱线若存在自吸收现象，测定的结果是偏高还是偏低？

应助达人

从原理上讲应该是偏低，因为在测量峰中间出现了凹陷，峰值经过积分的累积量自然就减少了。（参看下图）

这样看来就是低了

可能还要分情况吧 如果是样品原因引起的自吸 浓度是偏低的 但若是由于等离子体光源引起的自吸 则需要具体分析

自吸导致的结果：
谱线强度降低，但分析结果是偏高了。

应助达人

能不能分析一下结果升高的原因？

理论上会有自吸，但是实际上直读光谱可以忽略该问题，如果是CCD的，每个元素都有好几天谱线，在检测时，会根据浓度/光强自动选择谱线，则避免了该问题的发生，同样，PMT的，在做配置的时候厂家也考虑到这个问题，高含量的元素都选择了次灵敏线。

应助达人

自吸导致本身谱线检测强度变小，但是谱线容易出现超范围伪测定现象，可能在不同含量的单位出现不同的干扰

Mg I 285.2127/Al I 265.2484nm标准曲线（Mg I 285.2127明显存在自吸）：

标准样品中Mg含量（国家标准物质）为1.46%
实测值如下：