X射线荧光光谱法（XRF）测定电子电气产品中氯和溴

应助达人

啊哦，先给一个大大的赞
提两个吹毛求疵的小错误：1. 前言不是前沿，^_^； 2. 氧弹燃烧法不是氢弹燃烧法；
然后给几个建议：
1. 电子业界涉及到无卤的标准文件有三个，都是针对PCB板的，分别是 JPCA-ES-01-2003、IEC61249-2-21:2003、IPC-4101B；把这些标准写上去，文章会显得更专业一些；
2. 不过今天无卤概念的外延大大拓展，远远超出PCB的产品范围，但到底包含哪些产品，目前尚没有共识，也没有标准。当然目前比较一致的看法是要消灭PVC材料和溴系阻燃剂BFRs；
3. 这个背后当然是有原因的，业界一直有反对无卤的声音，因为：1. 无卤的环保意义不是那么明确，覆盖的范围太广，卤素系的阻燃剂部分被证明有害，部分被证明无害，更多的是到底有没有害不清楚；2. 替代物难找，新的替代物目前比较集中在磷系阻燃剂，可是磷会造成水质的富营养化，也注定只是一个过渡；3. 检测上的困难，IC的方法效率低，而EDXRF对于Cl的测试，其实困难多多，并没有你的文章中展示的那么美妙，这主要是由于Cl的荧光产额低，特征能量弱造成的。比如你的EC681k的Cl测试结果误差就偏大，你考虑过偏大的原因吗？那是因为EC681k中含有S。

谢谢专家高手的解惑，原来是硫的问题导致681K测试不准确，安装工程师安装的时候也没说清楚为什么681的氯测试不准，其他标准片都没问题。

在非真空的状态下，空气中的Ar气 ，Cl元素也会受到些影响。

应助达人

S对Cl有荧光吸收，通俗的说，就是Cl荧光信号激发产生后，在往样品外面逸出过程中，如果遇到S原子，会去激发S，从而损失自己的强度；
几个关键的数据如下：
ClKa 特征能量： 2.62keV；
SKa特征能量： 2.31keV； 吸收边2.47keV；
ClKa正好靠近S的吸收边并略大于吸收边，所以会被S剧烈吸收。因此尽管EC681k中S含量不高，才630ppm，对于Cl的影响可达100ppm左右；

应助达人

呃，这个，Ar对Cl没有影响的，部分分辨率高的机型，Ar和Cl的峰是分开的，这个分辨率的界限在160eV（5.9keV处）左右，比这个分辨率数值低的，Ar和Cl峰是分开的。即使是常见的Si-PIN检测器，分辨率在200-230eV，也可以通过数学上分峰的办法，分离Ar对Cl的干扰。
当然，如果是正比计数管，分辨率在700eV左右，这个时候Cl和Ar就是一个峰，那就没有招了。^_^

理解了，谢谢补充

写的非常好学习了

应助达人

类似于精密化学仪器的文章写法，然而XRF在有害物质检测只是初步筛选仪器，本文得出的部分结论不严谨。标准物质基体是什么？很单一，而现实中电子电器产品的材质远比标准物质复杂得多，你比比复杂样品的测试结果看看。

应助达人

感觉像是一次测试过程的描述，没有看到太多的亮点，有些问题安装工程师是不会说的，要自己在实际应用过程中遇到问题，然后想办法来解决掉。