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有没有研究过背景FP法与X射线散射的朋友,进来交流下

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 本人一直希望能用无标样FP法解决含有不可测轻元素的成分分析(比如矿石)和用无标样薄膜FP法测试含有不可测元素镀层的厚度(比如化学镀镍NiP)。
    要实现上述功能只能将散射背景引入FP法中。可找遍参考书,只有瑞利散射率和康普顿散射率的公式。没有表现强度的积分式,只好自己推导。
    因为是自己推的,所以没绝对把握。有没有人知道现成的完整公式啊?
    计算出来的散射系数图如下(对黄金24号样的散射):

    对黄金24号样的散射背景:

    样品的实测谱图:

    理论计算背景曲线图与实际谱的背景虽然类似但还是有一定差异。
    有没人试过,能不能做到拟合更接近实际的?
    +关注 私聊
  • XRF西凡科技

    第1楼2017/03/28

    膜拜大神。可以我不是研发完全不会算啊

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