【讨论】请问X荧光光谱仪测量镀层厚度的原理,和测的效果怎样?谢谢（已审至1页/5楼）

原理和测含量一样的。只是把浓度换算成厚度而已。

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测试原理和含量测试是一样的，只是最后把测量的强度值换算成厚度。具体测试效果其实大家的仪器都是一样的，镀层测试最好能有标样，常用的经验系数法对测试多层镀层效果不佳，而且对镀层标样来说，每家的标样都不一样，且有的差距也很大。比如说牛津的和菲舍尔的标样都有很大的差距，所以一般情况下我们都鼓励客户自己来做，因为自己做的标样都是在自己日常生产的条件下进行的，这样就避免了标样差异过大而长生的影响，只要标样做好了，对于仪器来说，国内的和国外的在测试精度上没有什么区别，特别是多层镀层。

测试镀层厚度主要有两种方法：发射法和吸收法，前者测镀层元素的强度，后者测基体元素的强度，最好有标样，做的就比较放心和正确。但现在的仪器完全有能力不需标样直接测镀层厚度，用基本参数法，象Bruker S4有个多层镀软件。其原理是先假设一个镀层厚度，通过计算可以计算出理论强度，和测量的强度比对，通过迭代，当计算出来的理论强度与测量强度吻合时，迭代停止。此时的厚度就是镀层的厚度。