X射线荧光光谱仪(XRF)
sonne86400
第1楼2012/12/09
直接找sgs联络下看看呢
XRF_INFO
第2楼2012/12/10
是不是建立校准曲线测量的样品?如果不是,最好建立校准曲线来测量。另外,你可以试一下其他厂家的仪器看一下结果。
里海
第3楼2012/12/11
你用的什么分析曲线啊,分析曲线要适合你的样品的
第4楼2012/12/12
帕纳科的IQ软件估计测量结果没大问题,不如尝试一下
qianguiyun1
第5楼2012/12/12
玻璃成分往往是不均匀的,上层氧化钠偏高,氧化硅偏低,下层反之。
toddtian
第6楼2012/12/22
谢谢各位回帖,这几天没有上来原因已经初步找到:由于SiO2与Al2O3难熔,而且二者粒度较大,SiO2粒径估计有0.4mm,所以二者都没有完全熔完,所以测得结果远远小于设计值继续求助帕纳科XRF,可以加我QQ:99397436
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