仪器信息网APP
选仪器、听讲座、看资讯

XRF中CCD用微区扫描玻璃样品可以直接测出玻璃缺陷中元素含量吗?

  • 奋楫者先
    2018/12/09
  • 私聊

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • XRF中CCD用微区扫描玻璃样品可以直接测出玻璃缺陷中元素含量吗?我们做了一系列的实验,效果不是很好,比如测硅灰石析晶缺陷,得不到硅和钙的比例
    +关注 私聊
  • 玉米馒头

    第1楼2018/12/09

    应助达人

    现在貌似各大厂商新款的WDXRF都有微区扫描功能,如果是老款,可能不支持吧

0
    +关注 私聊
  • sonne86400

    第2楼2018/12/20

    玻璃穿透比较容易 xrf直接测估计比较难 建议用化学分析方法

0
    +关注 私聊
  • 水清鱼读月

    第3楼2018/12/21

    应助达人

    X光聚焦不易,不知道你所说的微区是多大的微区?mm尺度还是微米尺度?Si本身是轻元素,荧光产额低,要想测试微区内的Si,那就是难上加难。
    微米尺度上,这样的需求建议考虑用“电子探针EPMA”来对应,这个仪器有点类似于SEM,但是它使用更大的激发电流,不是加EDS能谱探头来测试元素,而是采用WDXRF的分光光路来测试元素,无论是检出限还是元素谱峰的分辨率都碾压SEM-EDS。当然价格也比较感人就是了。

0
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
举报帖子

执行举报

点赞用户
好友列表
加载中...
正在为您切换请稍后...