以前看过FEBS上一篇文献用electron microscopy grid来定位,将grid粘在圆铁片上,然后粘上云母;另外还有国内上海应用物理所,用光学标记和AFM标记的方法来定位,06年发表在国内的文献上,你可以搜索一下 :《一种高效、简便原子力显微镜液体中原位实验方法》。
qijw 发表:显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
有时要对比样品处理前后的不同,那么最有说服力
的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
比较难以找到上一次的地方。要做标记,就这个问题希望大家
讨论一下。
我现在的标定方法是两步:1.在宏观下先标定出一个大概范围
这样比较容易找到上一次的地方
2.我用纳米刻痕在样品中标定,这样就能比较准确地找到同一位置
给出对比图
谁有更好地方法希望不吝赐教