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【讨论】关于AFM的定位问题,大家都来说说哈

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
    有时要对比样品处理前后的不同,那么最有说服力
    的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
    比较难以找到上一次的地方。要做标记,就这个问题希望大家
    讨论一下。
    我现在的标定方法是两步:1.在宏观下先标定出一个大概范围
    这样比较容易找到上一次的地方
    2.我用纳米刻痕在样品中标定,这样就能比较准确地找到同一位置
    给出对比图

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  • JayZHONG

    第1楼2007/01/21

    以前看过FEBS上一篇文献用electron microscopy grid来定位,将grid粘在圆铁片上,然后粘上云母;另外还有国内上海应用物理所,用光学标记和AFM标记的方法来定位,06年发表在国内的文献上,你可以搜索一下 :《一种高效、简便原子力显微镜液体中原位实验方法》。

    qijw 发表:显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
    有时要对比样品处理前后的不同,那么最有说服力
    的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
    比较难以找到上一次的地方。要做标记,就这个问题希望大家
    讨论一下。
    我现在的标定方法是两步:1.在宏观下先标定出一个大概范围
    这样比较容易找到上一次的地方
    2.我用纳米刻痕在样品中标定,这样就能比较准确地找到同一位置
    给出对比图

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  • jeasy

    第2楼2007/01/25

    不太会说
    原位扫面是不是在不抬针的情况下,检测随时间变化的样品

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  • JayZHONG

    第3楼2007/01/25

    你说的一般用来是研究相互作用,比如药物与蛋白等
    楼主关心的是抬针拿走样品后对样品进行一系列操作,比如加温,辐射等,再又拿回重新扫描,这个时候需要定位回原来扫描的位置。

    jeasy 发表:不太会说
    原位扫面是不是在不抬针的情况下,检测随时间变化的样品

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  • jeasy

    第4楼2007/01/25

    哦,明白了
    楼主的办法不错,那就标记吧,先扫大范围,逐步缩小

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  • leaflet

    第5楼2007/03/07

    我原来也做过这方面的实验,先是在样品上做宏观标记,并标记样品在样品台的位置,利用CCD找到样品上的标记,并调整样品位置,使标记在CCD窗口中比较容易分辨的位置上(如在一角或网格线的某个地方),然后先扫描一个大范围,如果没发现上次的区域,就以刚扫描的图片的四角为中心扩展扫描,基本上就能找到了。

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  • JayZHONG

    第6楼2007/03/14

    总觉得说原位似乎更准确一些。
    显微系统的定位问题,让我想到的意思是“显微系统在整个科学中的位置”

    qijw 发表:显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
    有时要对比样品处理前后的不同,那么最有说服力
    的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
    比较难以找到上一次的地方。要做标记,就这个问题希望大家
    讨论一下。
    我现在的标定方法是两步:1.在宏观下先标定出一个大概范围
    这样比较容易找到上一次的地方
    2.我用纳米刻痕在样品中标定,这样就能比较准确地找到同一位置
    给出对比图

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