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透射电镜TEM测试-金鉴实验室

检测服务



  • 我司金鉴实验室目前有2台FEI Tecnai F20 场发射透射电镜TEM可供客户选择，均配备能谱仪。



    透射电子显微镜（TEM）可用于观察样品的微观形貌、可进行样品的晶体结构分析、可进行纳米尺度的微区或晶粒的成分分析，其广泛应用于材料、物理、化学、生物、电子等领域。公司专注于芯片、激光器件等半导体材料的检测与服务，其具体功能如下：



    FIB制样介绍

    样品制备是TEM分析技术的关键一环，但是由于电子束的穿透力很弱，因此用于TEM的样品必须制备成厚度小于100nm的薄片。通常会用到FIB制样，我司目前拥有三台FIB可用于TEM样品制备。



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