XPS及其它能谱仪
zhuyongfa
第1楼2007/05/23
XPS是分析X射线激发产生的光电子的能量,属于表面分析技术EDS是分析电子激发产生的荧光X射线的能量,探测深度大约在500nm,是体相分析技术
fengbin0705
第2楼2007/05/27
谢谢
eigen
第3楼2007/08/01
謝謝指點
catfl
第4楼2007/09/02
长知识了,谢谢楼上!!
charley86577
第5楼2007/09/04
,其实原来俺也不懂,哈哈,长见识了
sun-guo
第6楼2007/09/09
哦,原来是这样。 那么两者的分析范围、定量精度有怎样的区别?
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