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HITACHI FT110A XRF萤光镀层厚度测量仪使用稳定性与准确性

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • FT110A的稳定性与准确性是其最大的卖点之一。通过精准的X射线源和先进的探测器技术，该仪器能够提供可靠且一致的镀层厚度数据。其稳定性得益于稳固的硬件设计和智能的软件算法，能够确保在长时间运行下仍保持测量的准确性和重复性。
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