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【讨论】请问粉末样品如何观察切面

lipinggnipil

2007/07/04

扫描电镜（SEM/EDS）

氧化铬粉末，粒度在2微米左右，分布窄，为了达到一定性能，掺杂了一定物质，理论上掺杂物质进入了氧化铬的晶格间隙，ICP测量发现几种掺杂物质掺杂量在0.5%。

打算通过SEM+EDAX达到如下目的：
观察到掺杂成分的存在和分布状态！！

而普通制样方法下扫描电镜图谱如附件所示，EDAX观察发现不了任何掺杂成分的存在。

请问该用什么方法能够达到上述目的？
我想通过观察粉末截面的方式，那么请问该如何制备粉末以使能在SEM中观察到截面

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lipinggnipil

第1楼2007/07/05

请版主将帖子改为求助帖，发贴不小心错误！
敬礼！

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