【求助】请教X SERIES2 和 ELEMENT 2 的区别（用于分析纯硅）

完全取决于您所测定的样品中的杂质量级
Element 2应该比常规的四级杆质谱仪检出限低2个量级，对于易干扰元素要低的更多

应该不是这样的。
Element2这样的磁质谱要用分辨来减小干扰的影响，X II就只能靠四极杆或者动态反应池来减小。最后的检测限未必能够差很多。

四极杆较好

主要看分析样品类型,举个例子,高纯稀土或复杂的合金样品,再没有标样的情况下,高分辨基本上可以得到正确的结果,但是四极杆能力就差很多.无法解决多种氧化物,氢氧化物的干扰.

谢谢各位！
听说磁聚焦高分辨率的机器现在应用还不如四极杆的成熟，价格也高，可能还是考虑四极杆的了。

是分析高纯硅吗？多晶硅厂？

不用考虑ELEMENT 2，因为价格贵，维护成本高，性能没有优势。 高分辨可以分开干扰但灵敏度下降太多。现在，冷等离子技术和碰撞反应池技术可以达到相同的目的。

Thermo X ICPMS在半导体行业，晶园厂，超纯试剂，高纯材料等分析中没有市场，仪器性能比不过Agilent 和 PE.Agilent占70-80% 半导体分析市场.

附Si分析文献一篇.
Si wafer [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp]ICPMS Analysis[/url]

做半导体用不着磁聚焦吧，不过我们分析环境中的超微量金属还是选磁聚焦的，四极杆灵敏度不够。

是啊！做硅片也不用高分辨呀！

四级杆就可以，不过Thermo的仪器的确在半导体这行用的少

xuexi