膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪

膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪

参考价：¥12万
型号： HS2100
产地： 上海
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上海嗨思电子科技有限公司
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设备咨询  吴先生



反射膜厚测量仪
型号：-HS-100；波长范围：380 - 1000 nm；测量范围：10nm-100um
型号：-HS-200；波长范围：250 - 1000 nm；测量范围：2nm-100um
型号：-HS-300；波长范围：700 - 1200 nm；测量范围25nm-1mm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量反射率，膜厚，颜色，折射率

透射测量仪
型号：A3-ST-100：波长范围380 - 780 nm
型号：A3-ST-200：波长范围250 - 1000 nm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量透射率，膜厚，颜色，折射率

上海嗨思电子科技有限公司为您提供膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪HS2100，nullHS2100产地为上海，属于其它显微镜，除了膜厚仪/透明膜测厚仪/光刻胶测厚仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它显微镜,海思科技客服电话，售前、售后均可联系。

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