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M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品。样品尺寸最大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如精工细作的珠宝或不同厚度的样品。
技术参数：
M1 MISTRAL根据所配探测器不同分为二种型号：正比计数器（PC）型和高分辨的硅漂移探测器（SDD）型
M1 MISTRAL(PC)
激发源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
电压及功率 40 kV, 40 W
探测器 大面积正比计数器，1100 mm²感应面积
光斑尺寸 准直器交换器，0.3 mm或以上
样品观察 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台 马达驱动Z方向样品台，自动对焦。
选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能
定量分析 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型
镀层分析：基本参数法模型
电源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 最大功率100 W
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL(SDD)
激发源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
电压及功率 50 kV, 50 W
探测器 电制冷高性能XFlash® 硅漂移探测器，30 mm²感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 准直器交换器，0.5 mm或以上
样品观察 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台 马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能。
定量分析 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型
镀层分析：基本参数法模型
电源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, 最大功率120 W
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg
主要特点：
M1 MISTRAL的微焦斑X射线光管，即使光斑尺寸小到100µm也可以产生足够的射线强度，光斑大小取决于所使用的准直器。
采用视频显微镜进行准确定位，可以测量任何想测的位置。可选计算机控制的自动样品台，并自动聚焦。
不管您是根据标准来控制样品的质量，还是测量完全未知样品的组成，XSpect分析软件都提供了合适的工具：对于块状样品和多层膜样品，进行有标样定量和无标样定量（基本参数法）。点击一下鼠标就可以自动进行重复测量。
M1 MISTRAL可配两种不同类型的探测器：大面积的充气正比计数器，可用于质量控制中的标准应用；或者配置硅漂移探测器，具有超快的检测速度和非常好的能量分辨率，检出限可以达到0.01%。先进的探测器、数字脉冲处理器及优化的几何结构，确保了X射线探测的最大效率，以快速地得到准确的分析结果。
M1 MISTRAL及其软件的设计，让操作人员只需经过简单培训即可使用。
仅一个电源接口就可以运行仪器，采用空气冷却，无需消耗品。坚固的结构确保最高的稳定性，并且完全免维护。
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