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红外焦平面阵列是热成像系统**重要的核心部件。探测器电路（核心）的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限，红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须**地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此，测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。
FT是一个完备的测试系统，它产生**控制时空分布的红外，辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面；被测红外焦平面阵列（或热像仪核心）进行表征所需的输出信号进行半自动分析。
该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数（噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数）。可测试不同光谱波段（LWIR或MWIR）、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供，并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化，还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。
FT测量系统一个模块化的系统，可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站：FT-N，FT-I，和FT-S。
1.FT-N——噪声和响应参数的测量；
2.FT-I——成像质量参数的测量
3.FT-S——光谱参数测量。
产品参数
红外焦平面阵列的参数可分为三大类：
噪声/灵敏度参数：
1.标准噪声特性：NETD（高频时间噪声）、FPN（高频空间噪声）、不均匀性（低频空间噪声），
2.响应参数：SiTF，线性，动态范围，饱和水平，
3.高级噪声参数：3D噪声模型、NPSD、1/f噪声、坏像素数和坏像素定位，
4.D*（归一化探测率）和相关参数可选（需要知道FPA的积分时间）。
图像质量参数：
1.调制传递函数MTF，
2.能量损耗（PVF），
3.串扰。
光谱参数：
1. 相对光谱灵敏度（平均值、偏差、信号相关性）
FT测试系统可以以不同版本、不同测试能力和不同价格水平交付。
可使用下表所示的代码**确定版本。
A | B | |
编号 | 测试能力 | 测试完整的热像仪 |
1 | 噪声/相应参数 | 否 |
2 | 成像参数 | 是 |
3 | 光谱参数 | |
4 | 噪声相应和成像参数 | |
5 | 所有参数 |
示例代码：
代码FT40–测量红外焦平面传感器/摄像机芯的噪声/响应和成像参数的系统。不能测试完整的热像仪。
代码FT52-测量红外焦平面传感器/摄像机核心的噪声/响应、成像和光谱参数的系统。能够测试完整的热像仪。
1年
否
有
按照合同履行
无
免费维修
8小时内响应
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