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光矢量相关的资讯

  • 武汉光电国家研究中心王健教授团队研发新型矢量多普勒测量仪
    2021年7月7日,《自然通讯》(Nature Communications)杂志在线发表了武汉光电国家研究中心王健教授团队题为“Vectorial Doppler metrology”的最新研究成果。此研究将具有空间变化偏振分布的矢量光场应用于光学测量,提出并实现了新型矢量多普勒测量仪,其对于复杂运动信息的全矢量测量具有重要意义。多普勒效应是一种经典的物理现象,属于波的基本特性之一。该效应来源于波源与观测者之间的相对运动,使得观测者接收到的波的频率相对于波源频率具有一定偏移量。无论是机械波,还是电磁波,通过测量其多普勒频移,可以推算出观测者相对于波源的运动速度。多普勒效应已广泛应用于医学诊断、交通测速、精密测量、激光制冷以及天文学与航空航天等领域。光波属于电磁波,相对于机械波,如声波、水波等,具有超高速、大带宽、方向性好且能在真空中传播等优点,因此开发光的多普勒效应具有独特的优势。对于传统的平面相位光束,不考虑相对论效应,只有当运动物体在光束传播方向上有相对运动才能产生多普勒频移,称之为线性(或纵向)多普勒效应。最近二三十年,随着科学家对光的基本属性的进一步认知,光学研究已由简单的平面光束向更复杂多样的结构光束展开。结构光束的旋转(或横向)多普勒效应也受到了越来越多的关注,这为光学多普勒测量提供了更多的可测量维度。纵观多普勒效应的发现及发展应用历程,该效应针对的只是波的标量属性,即由相位(或强度)的连续改变产生多普勒频移。对于本振频率比较低的机械波,通常可以直接提取其多普勒频移,从而测定目标物体的运动速度与方向信息。对于光波(电磁波),由于其超高的本振频率,提取多普勒频移必须采取与参考光进行干涉拍频。然而,干涉拍频虽然能提取多普勒频移量,但却丢失了符号信息,即无法区分多普勒蓝移与红移。因此,如果不采用额外的测量手段,如外差检测或双频检测,直接基于干涉测量提取多普勒频移无法推断出目标运动物体的方向信息,这无疑导致了光学多普勒测量的应用局限。光波是一种横波,除了振幅与相位自由度,还有偏振自由度。光的偏振描述的是电磁场在正交于传播方向的平面上的谐振情况。传统的平面相位光束,其偏振取向在光束横截面上是均匀分布的。对于一类特殊的结构光场,其偏振取向在横截面上呈空间周期性变化分布,称之为矢量光。针对这类矢量结构光场,近期,华中科技大学武汉光电国家研究中心多维光子学实验室(MDPL: Multi-Dimensional Photonics Laboratory)王健教授团队研究发现,粒子在这类光场中运动能产生新的多普勒效应,即矢量多普勒效应。区别于基于标量光场的传统多普勒效应(多普勒信号表现为随时间变化的一维强度信号),基于新的矢量结构光场的矢量多普勒效应,其多普勒信号表现为随时间变化的二维偏振信号。这类新的多普勒偏振信号,除了携带目标运动物体的速度大小信息外,还同时携带了速度方向信息。具体表现为,不同的运动方向导致多普勒偏振信号呈现出不同的旋转手性,如图1和图2所示。实验或实际应用中,利用两个检偏器分析两路信号光的相对相位差,就能轻松分辨出多普勒偏振信号的旋转手性,进而直接测定目标物体的运动速度大小与方向。研究还发现,基于矢量结构光的矢量多普勒效应,不仅能直接测定粒子的运动矢量信息(速度大小与方向),还能潜在地追踪粒子运动的瞬时相对位置与瞬时速度,并且测量无须参考光束干涉,有很强的抗环境干扰能力。进一步,针对各项异性的运动粒子,理论分析发现,即使粒子在旋转的同时还处于自旋状态,通过对多普勒偏振信号进行标准的斯托克斯参数分析,或简单地利用两个检偏器分析,能同时测定粒子的旋转速度矢量(大小与方向)和自旋速度矢量(大小与方向)。该工作于2021年7月7日以Vectorial Doppler metrology为题发表在《自然通讯》(Nature Communications)上,华中科技大学武汉光电国家研究中心为论文第一单位,华中科技大学武汉光电国家研究中心博士后方良与硕士生万镇宇为共同第一作者,华中科技大学名誉教授、南非金山大学Andrew Forbes教授为论文合作者,华中科技大学武汉光电国家研究中心王健教授为论文唯一通讯作者。该项工作是对传统基于标量光场多普勒效应的一次突破,极大丰富了多普勒测量的内涵,同时对于矢量结构光场的基础研究及拓展应用研究具有重要科学意义。Liang Fang, Zhenyu Wan, Andrew Forbes, Jian Wang*, “Vectorial Doppler metrology,” Nature Communications, 12, 4186 (2021).https://www.nature.com/articles/s41467-021-24406-z图1矢量多普勒效应概念示意图图2基于矢量结构光场的矢量多普勒效应测量粒子的运动矢量(速度大小和方向)。(a)(c)相反运动的粒子在矢量结构光场(以HE31为代表)中与局部偏振光相互作用示意图。(b)(d)粒子采样反射或散射的二维多普勒偏振信号因粒子运动方向不同表现出不同的手性。二维多普勒偏振信号同时携带粒子运动的速度大小与方向信息。多维光子学实验室(MDPL)研究人员(从左至右):方良、王健、万镇宇
  • 我国首台超高精度光矢量分析仪问世 打破美国垄断
    可在几百米的光纤中测出小至0.1毫米的误差,较国外垄断产品,测量分辨率提高了1600倍,相位精度提高了10倍̷̷记者19日从南京航空航天大学获悉,该校研发的我国首台超高精度光矢量分析仪问世。  超高精度光矢量分析仪就像“火眼金睛”,从家用光纤路由器到航天飞船等大量应用的光学器件领域都需要用到它。它可以对光器件的两个最关键指标——幅度响应和相位响应进行精确测量,从而在研发和应用中掌握其性能。第一代仪器仅能测量幅度响应,第二代仪器可以同时测量幅度响应和相位响应,但目前全球仅有美国纳斯达克上市公司LUNA的OVA5000一款产品,并且其高精度版不对我国销售。  2010年,南京航空航天大学潘时龙教授开始筹建微波光子学实验室。他带领团队在研究中发现,国外光矢量分析仪采用“以光测光”的办法,费时费力而且精度不高,自主研发的光矢量分析仪采用“以电测光”的方法,把光信号转换为微波信号。课题组先后掌握了光频梳通道化技术、平衡光电探测技术和新型电光调制技术,基本攻克了相关的技术难点。该光矢量分析仪的第二代样机先后被中科院半导体所、江苏光扬光电等十余家单位试用 还帮助某海军单位实现了光纤干涉器的自动化测量,测量精度提高10倍,节省成本一半以上。
  • 宁波材料所研发的水下矢量推进器成功完成深海4500米级海试
    近日,由中国科学院深海科学与工程研究所主持的中科院A类先导项专项研发的深海底多功能移动作业系统在我国南海进行了海上试验。中国科学院宁波材料技术与工程研究所精密驱动与智能机器人团队参与了该项目,并提供了2套水下矢量推进器,实现了深海底爬行式多功能移动作业平台的入水出水定向、海水中调姿和海底爬行辅助推进等多项功能,顺利完成预定的各项任务和考核指标。   深海底爬行式多功能移动作业系统设计最大工作水深4500米,可在深海底实现爬行作业,属于有缆深海作业装置。该装置由光电缆提供电源动力和长距离通信,然而在作业装置的下放和回收过程中易由于海流和浪涌影响而产生不可控的旋转,不仅有损坏光电缆的风险,而且可能导致作业装置无法回收等严重问题。因此需要调姿系统时刻保持作业装置的准确航向,避免其翻转、倾覆。   为保证深海底多功能作业系统在布放与回收时的姿态控制,宁波材料所精密驱动与智能机器人团队将推进和姿态调整功能集成到一个系统,研制了基于对转双转子电机的水下矢量推进器。该推进器使用永磁同步双转子电机直接驱动对转螺旋桨,可解决传统推进装置重量大、效率低、噪声大、易侧翻或侧滚等问题,提高了水下作业装置的平稳性;矢量调姿系统采用三自由度并联机构和直线驱动系统改变推进方向,可显著增强水下作业装置的调姿灵活性和机动性。   该团队成功研发了深海电动推杆、新型矢量调节机构、对转双转子直驱电机及基于碳化硅的高效率电机控制器等功能部件,攻克了深海环境下并联机构及推进器的耐压、防腐、密封等技术难题,完全实现了推进器的国产化。研制的矢量推进器额定功率3kW,额定输出推力800N,电机效率达到82%以上;推进器的矢量姿态调节角度最大达到±30°,通过调节左右2套推进器的推力,可实现水下作业装置的定向精度优于0.1°。与传统的单桨推进器相比,该矢量推进器具有效率高、推力大、可调姿、噪音低等优点,可广泛应用于水下潜航器、作业装置等的推进和调姿。   此次海试由探索二号试验船担任母船,宁波材料所精密驱动与智能机器人团队2名科研人员参航。水下矢量推进器搭载于深海底爬行式多功能作业系统,完成了一系列功能与性能验证测试,达到了4500米级深海装备标准,通过了现场海试专家组的考核,圆满完成了试验任务。

光矢量相关的方案

  • 矢量图快速读出荧光寿命及内涵
    介绍采用矢量图方法,解析采用频域荧光寿命测试技术,涉及寿命数值的拟合及意义。对比TCSPC,我们获得的是直接的衰减曲线,通过对衰减曲线的直观观察,在对数纵坐标情况下,直线或弧线,倾斜的差异,我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异。但是对于频域技术测试荧光寿命,我们获得是相差以及模的变化,无法直接给出寿命的判断,但是我们利用创造性的矢量图,可以快速直接得到寿命的细节信息,包括指数个数、寿命的数值大小。为进一步利用频域技术的快速测试打下基础,也是测试技术突破性进步。
  • 差示旋光法测定片剂中维生素C的含量
    片剂中的维生素 C 的含量测定,常用的方法有碘量法,紫外分光光度法,但操作较为繁琐,周期长。研究利用 维生素 C 在不同 pH 值时旋光度变化,而制剂中辅料旋光度不变的性质,运用 pH 差示旋光法测定片剂中维生 素 C 含量。应客户的要求,用安东帕 MCP5100 旋光仪对样品进行检测。检测结果和客户用碘量法进行比较, 结果基本一致。
  • 释光测年分析中年剂量测量方法
    年剂量测量方法很多, 但是归纳起来有三种, 元素含量分析、厚源α 粒子计数法和热释光剂量测定法。其中,:厚源α 粒子计数法是测量年剂量最常用的方法, 其优点是样品用量少(1 g 左右), 仪器简单, 成本低, 使用方便, 测量速度快, 普通陶瓷类样品连续测量24 小时即可. 还有一个优点是可以从测量得到的α 计数率直接得到年剂量。

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  • 【求助】关于确定位错柏氏矢量的操作

    各位大侠,小弟是一名TEM新手,最近在做柏氏矢量判别的工作,但做出来的效果不好,我把自己的操作流程在这里列一下,请大家指正其中的不妥之处,另外如果有更好的操作方法,还请各位不吝指教。我一般先拍一张能够包含尽量多位错的明场像,然后利用菊池线将Zone调正,拍下衍射谱进行标定,对位错的柏氏矢量猜测性的判别一下,选择目前衍射谱中满足消光条件的g矢量,倾转样品台,使与g相对应的菊池线中心位于1/2g处,即使g尽可能满足双光束条件,然后将g移至中心,利用选区光阑套住中心斑点成明场像,但此像的质量很差,往往充斥大量的条纹,无法判别位错是否不可见,一直搞不懂为什么会出现这种情况,还请各位多多指教。

  • 柏氏矢量b的长度

    刚学习衍衬理论知识,理解通过不同的衍射矢量g1,g2 (当分别用g1,g2成像,位错线衬度消失时) 根据联立方程 g1.b=0 及g2.b=0 可求出位错的柏氏矢量b 原理是与两条非平行的矢量均垂直即可确定方向,但好像方程组只能确定方向,可是b矢量的大小是如何获得的?我想到哪就问到哪了,请见谅。

  • 烧矢量如何定义?

    各位前辈,我现在做飞灰熔融固化试验,经常见到“烧矢量”一词,它是如何定义的呢?我查过一些文献,说:高温下灼烧时产生的一系列化学反应而引起的质量增加和减少的代数和。如果说烧矢量为83.5%,是说在灼烧过程中质量增加83.5%还是减少83.5%?有没有出现负值的情况如烧矢量为-25.1%的?哪这又咋解释?? 一句话,我现在对烧矢量的概念很模糊,请高人赐教!!

光矢量相关的资料

光矢量相关的仪器

  • 矢量光场发生系统 400-860-5168转1545
    紧凑型矢量光场生成系统Model: CVOFG-1001, 概述矢量光场可广泛应用于光学捕获和操纵、表面等离子体、光学加工、焦场工程、量子信息处理、超分辨率显微成像、光通信等方面。上海瞬渺光电近期推出的Model:CVOFG-100是一款基于反射型液晶空间光调制器的便携式、紧凑型多功能矢量光场发生器,可以生成任意复杂光束。2, 功能特征Model:CVOFG-100可以完全控制逐像素级的所有空间自由度(相位、振幅、偏振比、椭偏率),既可以独立地调制矢量光场的每个单一自由度,也可以针对光束的所有自由度进行综合调制,与目前常用的方法相比,具有很好的灵活性及功能的全面性。该系统更加紧凑、集成化,可应用于光学微加工、光学纳米制造、表面等离子体激发、光学微操作、光学成像等应用领域。图1 紧凑型矢量光场生成系统技术特征:采用4K高分辨率SLM矢量光场单自由度调制综合调制所有的4个自由度,也可以选择调制其中的2~3个自由度铝合金箱体,紧凑尺寸:750x604x329mm元件组成:4K GAEA空间光调制器3维组合位移台1个激光器和准直器各1个反射镜3个偏振片1个1个反射式4f系统:透镜和反射镜各1个3维组合位移台1个精密位移台1个1个透射式4f系统:透镜2个可调光阑1个精密位移台2个三维组合位移台1个分束器模块:直角棱镜1个、1/2 波片1片、1/4 波片2片、偏振分束器1个、非偏振分束器4个,三维组合位移台1个CCD相机、线偏振片和1/4波片各1个精密位移台1个步进电机旋转安装座2个.图2 CVOFG-100装置示意图. 图3 CVOFG-100工作流程图.2.1 光学参数:空间光调制器:4160x2464 GAEA-2(PLUTO-2.1可选)波长:420-650nm/650-1100nm/1400-1700nm等调制像素精度:3.74um (6.4um/8um)调制幅度:相位(0~2π),振幅(1:6),偏振比(0-2π),椭偏率(-π/2-π/2)2.2 可移动性特点仅一个光学面包板就可以承载整个系统,铝合金箱体设计(750x604x329mm),结构紧凑,功能完备,非常适合于安装到各种实验系统里。2.3 4160x2464 GAEA-2空间光调制器 4160x2464 GAEA-2空间光调制器研究人员可能希望在多个实验中使用SLM。紧凑型矢量光场发生器的设计就考虑到了这一点。用户可以简单地从Model:CVOFG-100系统中卸下它,并将其添加到任何其他光学设置中。4160x2464 GAEA-2空间光调制器指标Resolution: 4160 x 2464 Active Area:15.56x9.22mm Pixel Pitch: 3.74um Fill Factor: 90%Max. Spatial Resolution:133.5 lp/mm Addressing: 8 Bit (256 Grey Levels) 软件特点:GAEA 4K 纯相位调制器设备可以使用显卡的标准 HDMI 接口像外接显示器一样简单地寻址。无需额外的软件或专用硬件即可操作 SLM。该设备随附基于 GUI(图形用户界面)的配置管理器软件。Configuration Manager 可用于通过应用新的伽马曲线或其他数字驱动方案来更改几何设置、亮度、对比度和电光响应。USB接口用于这些高级校准。紧凑型矢量光场生成系统还提供多自由度光场调控系统闭环控制软件,可根据客户需要将相位图加载到SLM上,同时自动控制四分之一波片和偏振片的旋转,采集不同旋转角度组合下CCD上接收到的光强数据,以对生成的矢量光场进行表征。提供用于设计灰度图的MATLAB示例程序语言:National Instruments LabVIEW&trade 8.6 and laterMathWorks MATLAB R2009b and later 图4 综合调制效果 图5 偏振比调制 图6 椭偏率调制 订货信息: CVOFG-100-XX-YY (XX: AA or BB or CC )(YY: TT or HH or HHC)AA: SLM选用GAEA-2, 3.74um,4160x2464的SLMBB: SLM选用Pluto-2.1, 8um,1920x1080的SLMCC: SLM选用LETO-3, 6.4um,1920x1080的SLMTT: 光学面包板开放结构HH:铝合金结构(750x604x329mm)HHC: 自定义需要调控的参数,优化铝合金结构 例如:采购CVOFG-100, 内置GAEA-2 空间光调制器,选用光学面包板开放结构,part no:CVOFG-100-AA-TT 定制化设计:如果需要用于光学捕获和操纵,显微成像,光学加工等特定应用的紧凑型光场发生器,我们可以按照客户要求定制光场发生器的调控参数个数。
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  • 产品综述思仪3672系列矢量网络分析仪产品包括3672A(10MHz~13.5GHz)、3672B(10MHz~26.5GHz)、3672C(10MHz~43.5GHz)、3672D(10MHz~50GHz)和3672E(10MHz~67GHz)。3672系列矢量网络分析仪提供频响、单端口、响应隔离、增强型响应、全双端口、电校准等多种校准方式,内设对数幅度、线性幅度、驻波、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式,外配USB、LAN、GPIB、VGA等多种标准接口,除具有传统矢量网络分析仪的全部测量功能外,还可以通过配置功能选件进行混频器/变频器、增益压缩二维扫描以及脉冲状态下S参数的多功能综合参数测试,能精确测量微波网络的幅频特性、相频特性和群时延特性。该产品可广泛应用于发射/接收(T/R)模块测量、介质材料特性测量、微波脉冲特性测量和光电特性测量等领域,是雷达、通信、导航等系统的科研、生产过程中必不可少的测试设备。功能特点人性化用户界面简洁直观,便于操作,可提高测试效率校准类型灵活可选,兼容多种校准件思仪3672系列矢量网络分析仪提供向导校准(自动化校准)、非向导校准(使用机械校准件进行直通响应校准、直通响应与隔离校准、单端口校准、增强型响应校准、全双端口SOLT校准、TRL校准)、电校准(ECal)等多种校准类型,可根据实际测试需要选择同轴机械校准件以及电子校准件等多种校准件,方便不同接口类型器件的测试。多窗口显示所有测量通道本产品具有多通道和多窗口显示功能,最多支持64个通道,最多可同时显示32个测量窗口,每个窗口最多可同时显示16条测试轨迹,使观测结果更加直观,用户使用更加方便。录制功能实现一键自动化测试记录用户在使用仪器过程中所有操作步骤,同时可以随时插入用户编辑的提示对话框,并且准时弹出提示对话框,等待用户确认,实现用户交互功能,真正实现了智能仪器一键自动化功能。大动态范围3672系列矢量网络分析仪采用混频接收的设计理念,有效扩展整机的测试动态范围,可以满足您对大动态范围的测试需求。外设接口丰富,灵活实用3672系列矢量网络分析仪采用兼容PC的嵌入式计算机模块和Windows操作系统组成的软硬件平台,实现了测试仪器和个人计算机的完美结合。用户可以利用丰富的I/O接口(包括GPIB、USB和LAN等)完成数据通讯。迹线噪声小,测量精度高3672系列矢量网络分析仪优异的迹线噪声指标极大地提高了整机的测试精度,可满足用户精确测量的需要,特别有助于小插损器件的精确测量。(下图以3672B为例)时域分析3672系列矢量网络分析仪可通过配置时域测量选件实现测量结果频域和时域之间的切换,用以确定器件、夹具或者电缆中的不连续点位置,实现故障点精确定位。高级时域分析(TDR选件)随着信息产业的高速发展,对网络带宽的需求也越来越高,需要信息设备(如大型服务器、计算机和交换机等)能够承载的数据速率越来越快。信息设备生产商对高速互连通道中的信号完整性问题也愈发重视,传输链路的特性变化会显著的影响信号传输质量,高级时域分析选件是评价高速链路信号传输质量的重要手段。TDR时域阻抗测试,可以精准测试传输线上阻抗特性的变化情况,定位不连续性。便捷的近端与远端串扰测试,可同时分析时域和频域数据,用于测试多条传输线之间的相互影响的程度。高级时域分析选件提供基于S参数的虚拟眼图生成及分析功能。仿真码型输出单元用于产生0、1变化的数据位,把仿真码型和被测件的时域冲激响应进行卷积,叠加后得到虚拟眼图。根据不同的高速数字通信标准,高级时域分析选件可以使用预先定义好的眼图模板进行高效率Pass/Fail测试。高级时域分析选件可以在仿真眼图上施加抖动、噪声等干扰,通过预加重和均衡等校正算法的加入,模拟真实环境下高速链路不同位置的仿真眼图。自动夹具移除功能,实现非标准接头器件测试矢量网络分析仪的测量对象涉及到非标准接头器件,如封装微波器件、在片器件等。此类器件最显著的特点是无法与矢量网络分析仪直接相连。使用夹具可以将被测件连接到矢量网络分析仪上,但同时也引入了夹具误差。自动夹具移除功能可以进行夹具参数的提取、存储以及夹具去嵌入,以获得被测件的真实参数,其操作简便,精度高。进行夹具的描述时,可以设置单端夹具及差分夹具,也可以选择夹具的端口数等信息。进行夹具参数的提取,需要对夹具标准进行测量。在标准描述界面,夹具标准包含三种类型:直通标准、开路标准、短路标准。利用自动夹具移除功能,把被测件作为一个整体,进行平衡参数提取,并进行四端口的去嵌入。测试结果显示,传输参数能够很好的去除掉,同样近端串扰和远端串扰也得到有效去除。
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  • E5071C ENA 矢量网络分析仪=======================================深圳佳捷伦电子仪器有限公司联系人:罗S/欧阳手机:/电话:传真:邮箱: 网站: 全国免费热线全国免长途通话费地址:深圳市龙岗区平新北路163号广弘星座B栋12楼 ========================================器件表征需要进行更多类型、更高频率、容限更严格的测量,因此您不仅要适应当前的情况,还要准备好应对未来的新挑战。 Keysight E5071C ENA 已经停产,替代它的 ENA 功能更强大,能够满足当前和未来的需求。 请点击以下链接,查看我们最新的台式 ENA、PXI ENA 以及新型精简系列 ENA。备注:我们的优势:品种齐全,货源充足,存库雄厚,服务快捷,维修能力强。欢迎来电!上门看货!价格好商量!您的满意是我们的追求!^_^我公司对销售的仪器仪表均负责保修一年.本公司长期供应/租赁/维修二手进口仪器注:因网站价格限制问题,发布的价格不代表最终价格
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光矢量相关的耗材

  • KOYO保亮美抹光亮布/珠宝首饰保养布光阳金属拉链黄色抛光布
    KOYO光阳社POLIMALL SHEET保亮美抹光亮布 用途:保亮美抹光亮布用于清除工件表面污渍,使其表面回复光泽。工件包括珠宝首饰、钟表、银器、金属器皿、木器、搪瓷、家电产品、塑料产品。用法:当使用保亮美在贵重金属,要用手在表面轻抹上数次,表面光泽会重见。使用保亮美之后,可以再用柔软及干洁布块在抹过表面轻轻再抹一次。当保亮美被使用后,它表面会呈黑色,但这不会影响它的功能。不可将用过的保亮美用水清洗。这会损害它的功用。注意当使用者手指有皮肤病时,使用保亮美时戴上手套。用保亮美抹光亮布于电镀多器或银器表面时,要用轻轻力度,以防将薄薄的电镀层抹去。在不肯定时,可以先将保亮美试用在不合格工件上。如果试用满意,然后才用它于正式抹光生产程序。不可使用在下列工件:#全新及亮泽的工作表面#光学玻璃镜表面#柔轻塑胶工件表面#工件表面已经有砂光亮泽包装规格:规格:125MM X 195MM 包装:100片/盒日本专利注册号码:1073685颜色:黄色:(用于清除工件表面上的厚污渍/去除黄金属表面锈迹,油迹,污迹和氧化层).蓝色:(用于清除工件表面上的薄污渍,特别在工件被包装之前,去除银饰表面锈迹,油迹,污迹和氧化层)成份:棉布,特幼磨料、腊及脂肪酸等。
  • 瑞士万通 超痕量石墨电极头的抛光套件 | 6.2802.020
    超痕量石墨电极头的抛光套件Polishing set for Ultra Trace Electrode Tip订货号:6.2802.020抛光套件,可对超痕量石墨电极头 6.1204.180的表面进行更新
  • 瑞士万通 抛光套件的抛光带,用于超痕量石墨电极 | 6.2802.030
    抛光套件的抛光带,用于超痕量石墨电极Polishing tape to Polishing Set for Ultra Trace Electrode订货号:6.2802.030抛光套件的抛光带,用于超痕量石墨电极。 粒径 12 μm. 在抛光筒中使用。 每套50件。技术参数宽度(mm)9长度(mm)140

光矢量相关的试剂

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