误差转换

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  • 中科飞测发明“检测设备及其检测方法”新专利
    天眼查显示，深圳中科飞测科技股份有限公司近日取得一项名为“检测设备及其检测方法”的专利，授权公告号为CN114688973B，授权公告日为2024年6月4日，申请日为2021年2月2日。 根据本发明的检测设备一实施例的结构示意图随着半导体行业的发展，半导体器件的关键尺寸逐渐缩小，在半导体制程中，小的生产误差也有可能引起半导体器件的失效，这就对半导体检测系统提出更高的要求。半导体器件的生产过程包括：在硅基底上一层层沉积多层堆叠的膜层，并在每次膜层中通过刻蚀形成不同的图案。在刻蚀膜层形成图案的过程中，上下两层膜层的图案的位置必须满足套刻要求。为了监控上下两层膜层之间的相对位置关系，在刻蚀膜层的同时在切割道区的膜层中形成套刻标记。通过对套刻标记进行套刻测量，确定上下层图案的对准误差，从而对半导体制程进行监控。现有技术中，套刻测量的方法包括：基于成像的光学测量方法(IBO)，基于衍射的光学测量方法(DBO)以及基于莫尔条纹的测量方法。由于基于莫尔条纹的检测方法能够将小空间周期的套刻标记的对准误差转换为大空间周期的莫尔条纹的对准误差，从而能够提高检测精度。然而随着半导体器件集成度的提高，套刻标记的尺寸逐渐减小，莫尔条纹的检测方法逐渐显示出其优势。然而，传统的基于莫尔条纹的检测方法的检测速度较低，导致半导体生产的吞吐量较低。根据本发明的待测物表面图案标记的结构示意图据专利摘要显示，为了解决以上问题，本发明提供一种检测设备，其中，所述检测设备包括：发光装置，用于产生照射待测物的入射光，所述入射光用于在所述图案标记表面形成图案光斑，所述待测物表面具有图案标记，所述图案光斑用于与所述图案标记形成莫尔条纹，所述图案光斑包括多个条纹光斑，所述多个条纹光斑的条纹延伸方向不同；成像装置，用于收集所述信号光并根据所述物镜收集的信号光形成检测图像。所述图案光斑包括多个条纹光斑，所述检测设备获取的图案标记的信息较多，进而能够增加检测设备的检测功能，且能够提高检测速度。
    时间： 2024-06-20
    作者： Jansky
  • 天平 基础知识 （检定篇）
    依据《JJG1036-2008电子天平》检定规程术语最大秤量：不计添加皮重时的最大称量能力；最小秤量：小于该载荷时称量结果可能产生过大的相对误差；称量范围：最小秤量和最大秤量之间的范围。计量性能要求检定分度值(e)： 用于划分天平级别与进行计量检定的，以质量单位表示的值；实际分度值(d)： 相邻两个示值的差；准确度级别： 天平按照检定分度值和检定分度数，划分成下列四个准确度级别：特种准确度级、高准确度级、中准确度级 、普通准确度级 ；偏载误差： 同一载荷下不同位置的示值误差，均应符合相应载荷最大允许误的要求 ；重复性：同一载荷多次称量结果间的差值，不得超过相应载荷最大允许误差的绝对值；示值误差：加载或卸载时各载荷点的示值误差不得超过相应载荷最大允许误差的要求。天平准确度级别与e、n的关系用d计算最小秤量，例如：一台电子天平，d=1mg，e=10mg，Max=210g，计算最小秤量。对照上表，该天平为级天平，而1mg≤e≤50mg，所以该天平的最小秤量Min=20d=20mg。确定天平的准确度等级，例如：一台天平，d=1mg，e=10mg，Max=210g，由公式 ，查表，5×103≤n≤1×105，所以该天平为 级天平。最大允许误差通用技术要求外观要求：1、天平必须具备下列标记：制造厂名称或商标、产品名称、准确度级别、型式批准标记、制造计量器具许可证标记、最大秤量、最小秤量、实际分度值、检定分度值、出厂编号、出厂日期等；2、适当时必备的标记：电源电压、电源频率、在满足正常工作要求时的特殊温度界限、由若干独立但又相互关联的模块组成的天平，每一模块均应有识别标记。结构的一般要求：1、自检程序、显示相关符号、表明工作状态；2、温度要求（-10℃～＋40℃）；3. 可备有接口与外部设备连接，并数据传输不受干扰；4. 具有良好绝缘和耐压。称量结果的示值：1、读数装置的读数准确、可靠、清晰；2、超过Max+9e时，应无显示或显示溢出；3、示值形式（含有计量单位，多显示器时应一致）；4、数字示值（至少应从最右端起显示出一位数字、小数和整数用“.”分开，分度值自动改变时， “.”保持在原位。）；5、打印（未平衡时，不得打印）。水平指示器：天平应安装水平指示器，并将水平指示器牢固安装在操作者明显可见的位置。未安装水平指示器的天平，不应有显见的倾斜。置零装置：1、天平可以有一个或多个置零装置；2、置零装置的效果不得改变天平的最大秤量；3、初始置零装置的效果不应超过20%最大秤量。零点跟踪装置：1、天平应具有零点跟踪装置，零点跟踪装置在出厂时默认为开启状态；2、置零装置和零点跟踪装置的总效果，不得超过最大秤量的4%。注：通常出厂设置零点跟踪为4d～5d，一般用10d摆脱零点跟踪。去皮装置：1、去皮装置应能保证准确置零，从而进行净重衡量；2、去皮装置不得在零点以下或最大秤量以上使用。主要器具-砝码应配备一组标准砝码，其扩展不确定度（k=2）不得大于被检天平在该载荷下最大允许误差绝对值的1/3，该标准砝码的磁性不得超过相应要求。 实际分度值（d）标准砝码等级1μgE2等级0.01mgE2等级0.1mgE2等级、F1等级1mgE2等级、F1等级、F2等级＞1mgE2等级、F1等级、F2等级检定项目偏载误差：试验载荷选择1/3(最大秤量+最大加法除皮效果)的砝码。优选个数较少的砝码，如果不是单个砝码，允许砝码叠放使用。单个砝码应放置在测量区域的中心位置，若使用多个砝码，应均匀分布在测量区域内。按秤盘的表面积，将秤盘划分为四个区域，下图为天平偏载误差检定位置示意图。Ec≤MPE，示值误差应是对零点修正后的修正误差。本规程与原规程不同，在对偏载测试时应对零点进行修正。例如：E0=-0.5g，E=0.5g，则Ec=E-E0=0.5-（-0.5）=1.0g重复性：1、相同载荷多次测量结果的差值不得大于该载荷点下最大允许误差的绝对值；2、如果天平具有自动置零或零点跟踪装置，应处于工作状态；3、试验载荷应选择80%～100%最大秤量的单个砝码，测试次数不少于6次；4、在做重复性检定时，试验载荷可以选取接近80%～100%最大秤量的单个砝码测试，如：Max=210g，重复性测试可以选取200g测试；5、测量中每次加载前可置零。重复性检定时不用记录零点示值，每次加载前可将天平置零，这与原规程不一样；6、天平的重复性等于Emax-Emin，式中Emax为加载时天平示值误差的最大值；为-Emin加载时天平示值误差的最小值，Emax-Emin≤MPE。示值误差：1、各载荷点的示值误差不得超过该天平在该载荷时的最大允许误差；2、测试时，载荷应从零载荷开始，逐渐地往上加载，直至加到天平的最大秤量，然后逐渐的卸下载荷，直到零载荷为止；3、试验载荷必须包括下述载荷点：空载、最小秤量、最大允许误差转换点所对应的载荷（或接近最大允许误差转变点）、最大秤量；例如：一台电子天平，d=0.1mg，e=1mg，Max=210g；试验载荷必须包括：1mg，10mg，50g，200g，210g这几个载荷点；4、无论加载或卸载，应保证有足够的测量点数，对应首次检定的天平，测量点数不得少于10点；对于后续检定或使用中检验的天平，测量点数可以适当减少，但不得少于6点。 Ec≤MPE，示值误差应是对零点修正后的修正误差。计算公式：E=I+0.5e-ΔL-L，Ec=E-E0E——化整前的示值误差；I——天平示值；e——检定分度值（e≠d时，d代替e）；ΔL —— 附加砝码值；L ——载荷值；E0——零点或零点附近的误差。注：按本规程要求检定合格的天平发给检定证书，检定不合格的天平发给检定结果通知书，并注明不合格项目。检定周期 一般不超过一年 。 本文内容来源于网络，用于交流学习，如有侵权，请联系我们删除！--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------超微量天平的优势创新调整系统新的 2 点式调整系统确保非常高的测量精度，同时减少线性误差，在整个称重量程内保证可靠结果。首屈一指的测量精度*新 Tegra 系列处理器与专为根据环境条件调整筛选而设计的原创解决方案相结合，确保出众的工作条件可重复性和快速结果稳定性。新的数据管理体验可扩大至高达 32 GB 的内存能够记录复杂报告形式的测量数据，以及显示统计数据等信息的图表。可重复性，符合 USP非常好的称重精度和 sd ≤ 1d 的可重复性，加上符合 USP 要求（第 41 和 1251 条），为重量测量品质树立新的标准。符合人体工程学，操作安全终端和称重设备之间的无线通信支持在层流柜和通风橱中使用天平。通过移动设备操作Wi-Fi 功能支持将天平数据传输到使用 iOS 或 Android 系统的移动设备。数据安全性由于采用 ALIBI 内存自动执行测量结果记录，您的数据始终安全，并且可以在需要时随时使用。
    时间： 2023-09-14
    作者： dermen
  • AURA Controls 发布高纯气体自动切换装置EXD
    压力和过程控制技术的世界领导品牌AURA Controls于2015年5月18日发布了一套精确度高、稳定性强的气体转换系统AURA EXD series。此系统能实现两个高压气源之间的自动切换，在对供气要求严格的应用过程中保障不间断气体供应。 　　AURA EXD series自动压差转换系统设计用来实现为重要的应用过程和要求严格的过程环提供持续的高纯气体供应。EXD非常适合色谱应用、样品采集和实验室设备中载气和校准气的气体输送。 　　此经得起考验的转换技术能通过定压阀装置提供失效保护程序，使终端用户能在不终止系统工作的情况下更换储气装置，同时也能延长每罐气体的使用时间。这项专利转换技术还可实现最大化的使用钢瓶气体，在气体将用尽时装置通过从每个储气装置抽取更多气体来增加流速 ，也能保障两个储气装置不会同时用竭。 　　EXD的全套接口可以灵活的运用于特殊需要的装配、冲洗等应用过程，隔离阀入口压力最高达3000psig。AURA EXD调节阀在100%洁净室中装配，整个系统全部经过了氦气检漏，也为氧气服务做过了清洁。 AURA EXD series 编译：郭浩楠
    时间： 2015-05-21
    作者： guohn
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  • 【活动】【仪器微课堂 第12期】误差转换与仪器标定 开始报名啦！

    【活动】【仪器微课堂 第12期】误差转换与仪器标定 开始报名啦！

    [b][color=red]一、仪器微课堂背景[/color][/b]仪器微课堂由仪器论坛官方（[url]http://bbs.instrument.com.cn/[/url]）推出，采用微信群直播的方式来给大家分析仪器及分析检测行业技术或行业知识！此前，线上讲座是仪器论坛主推的栏目之一，主要是邀请业界专家就某一技术领域以图文的形式进行系统讲解，同时回答用户的提问，进行互动交流。2016年，线上讲座与微信直播相结合，推出仪器微课堂！免费哦~[b][color=red]二、本期仪器微课堂[/color][/b][align=center][color=red] [img=,500,325]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711271049_01_3239527_3.jpg!w500x325.jpg[/img][/color][/align][color=red][b]三、嘉宾介绍[/b][/color][align=center][b][color=red] [img=,394,544]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711271022_01_3239527_3.png!w394x544.jpg[/img][/color][/b][/align][align=left]于文军, 1992年毕业于北京大学应用化学专业，天津石化培训中心主任师，2016年央企化工分析工竞赛命题人，多次中石化化工分析工竞赛命题人、技术顾问。讲授《色谱分析》《光谱分析》《电化学分析》《心态调整》《科技论文写作》等几十门课程，仪器信息网气象色谱论坛专家yuen72、皮皮鱼。[/align][b][color=red]四、分享内容[/color][/b]（1）误差分类（2）不确定度（3）误差转换（4）仪器方法的标定[b][color=red]五、分享形式[/color][/b]微信群直播：PPT图片+语音，分享结束后为问题解答时间。[b][color=red]六、报名方式[/color][/b]转发此主题帖到微信朋友圈，截图发给测美人（微信号：15611024493）。审核成功后，测美人拉您进群听课哦~[color=red]注：[/color]如因个人原因，不方便分享此链接，请给测美人发红包 9.99 元后，即可进群。[align=center][img=,250,248]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711271034_01_3239527_3.jpg!w250x248.jpg[/img][/align][align=center][color=#3333ff][b]测美人[/b][/color][/align][align=center][/align]

  • 【仪器微课堂第12期】 误差转换与仪器标定

    【仪器微课堂第12期】 误差转换与仪器标定

    11月30日晚8点，仪器微课堂 第十二期 误差转换与仪器标定如期举行。分享专家：[color=#006600]仪器信息网气象色谱论坛专家[/color]，皮皮鱼。分享形式：采用PPT图片+语音形式参与人数：285内容整理：ghsunmer嘉宾分享环节：[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042355_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042355_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042355_03_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]首先来谈一谈误差的分类。大概分成三类：一，系统误差又叫做可测量误差，它的误差来源来源于某一个固定的原因。因此，数值基本上是恒定不变的。二，随机误差，叫做偶然误差，是由一些偶然原因造成的，数值遵循正态分布规律。最后一种误差，称之为过失误差。过失误差是有时候是由于实验人员犯错误造成一个特大的偏差，有的时候是找不到原因。但是，从正常的正确的操作来讲是可以避免的。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042356_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]过失误差的原因，因为操作人员粗心，违规操作，过度疲劳，或者采用了不合格试剂，以及仪器的突发故障等会导致数据突然严重偏离正常值，这样的误差称之为过失误差。也就是有群友提到的人为误差。控制过失误差最主要的办法，就是强化操作培训，标准操作方法完善sop，严格把关各种试剂药品，严密监视分析仪器的状态。也只有过失误差是掌握在操作者手里的，其他两种误差则不然。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042357_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]随机误差和系统误差，他们并不掌握在操作者手里。随机误差是分析中各种完全不可控的因素。比方说读数时候读的不太准、环境的温度的变化、电子机械噪声等等，这些东西我们无法消除，怎么做都会有。这样的误差，称之为随机误差。随机误差虽然不可控制也不可消除，但是我们却有各种办法来控制随机误差的大小。比如我们强化分析方法、样品用量、试剂用量、分析仪器的要求测定范围等等。或者多次测量取平均值，那么平均值的随机误差就小很多。之前群友提问：同样稀释一百倍，从一毫升稀释到一百毫升，和从十毫升稀释到一千毫升，两种办法中哪一种的误差会更小？这个问题其实就是在于随机误差的控制。是从1稀释到100还是从10稀释到1000,都是一百倍，但是如果用同样的一个精度的天平，这个称量的时候就很不同。如果都用万分之一天平，那么称量一克的误差，就远远大于称量十克。如果一开始要求称量一克，那么随机误差就会比较大，如果是称量十克，那随机误差相对来说就会比较小。所以经常说随机误差掌握在方法制定者手里。在制定一个操作方法的时候，规定称量0.2克样品还是0.25克，就确定了随机误差的大小，称量的量越大，意味着随机误差越小，所以方法制定完了随机误差就基本上已经被确定了。所以随机误差是正常的，不可避免，也不存在责任问题。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042357_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]而我们今天主要讨论的内容是仪器的标定，也就是尽量消除仪器的系统误差。系统误差是仪器发生了漂移，或者因为有一些错误的习惯，或者所用的试剂标定仪器的时候试剂不纯，或者标准样不纯，或者条件发生错误等问题。这些都会造成一个单向的，每次测量都会重复出现的误差，这种误差称为系统误差。系统误差比较可怕，因为它会在每次测量中被复制。所以，如果一个仪器，没有标定好而存在系统误差，那么就意味着这台仪器做起实验来问题会非常大。系统误差不掌握在操作者手里，因为仪器标定的时候已经标成这个样子了，比如初始标定时把50ppm的一下子标成500ppm的。那操作者无论怎么做都会有10倍的误差。所以对于分析人员要特别注意系统误差，也就是把仪器标定准确了才能把实验做好。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042357_03_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]系统误差导致的是单项偏离。而随机误差呢，是在一定的概率上落在某一个范围里边。那么这个是要有一个概率的问题。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042357_04_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]这个也就是我们常说随机误差服从正态分布。也就是说我们的测量值应该在真实值，或者说数学期望值，无限次测量的平均值，如果不存在系统误差，那么它才是真实值，应该落在这个周围。距离他越近出现的概率越大，距离太远，出现的概率就越小，我们管这叫正态分布，或者高斯分布。高斯分布指的是无限次测量，而我们只能做到有限次测量。从整体上看，测量次数越多将会越接近正态分布。在数学上其实有一种说法，就是二十次测量取平均值，其平均值的数学期望值就非常接近于无限次测量的平均值数学上一般认为二十次测量就是无限次测量。实际工作中做20次试验很多情况下是不允许的，我个人认为做5-6次是比较接近无限次测量的比较小的试验次数。比方说分光光度法来做标准曲线，一般是包含零点、或者空白样在内选六个点，实际上这六个点，就相当于六个平行样，只不过分开了不同浓度而已，这样得到的曲线，认为比较合理，因为在一个角度上来讲，这是一个有限次的无限测量。而真实值我们则可以用正态分布来虚拟出来。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042358_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]上图是正态分布的概率图，说明随机误差服从正态分布的概率分布。而我们通常说仪器的误差并不包含概率问题，因为误差是遵循正态分布的概率事件，所以我们才会引入不确定度。不确定度，实际上就是说在一定的概率之下，误差发生的可能有多大。就完全是从正态分布角度出发的。首先第一点要明白不确定度跟误差有一个很明显的区别，不确定度，实际上讨论的是随机误差，不是系统误差也不是过失误差。实际上不确定度讨论的是误差里随机误差的一部分。而且把随机误差的一部分，用正态分布的方法来说，既然要用正态分布的方法来说，那就必须给出置信区间、置信度，这样两个概念配合使用。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042358_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]所以我们把这个误差的误差，实际上真正用的时候我们可以这样认为，90%就是1.5σ。95%就是2σ,99%就是2.5~3σ。稳妥的说一般我们会用3σ，而不太精确是则可以用2.5σ。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042359_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]在这里我们就可以认为k值即为σ的几倍。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042359_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]当统计范围扩大时系统误差可能就会转化为随机误差，但是相反的情况下，当系统缩小的时候，随机误差就会变成系统误差。这个事情就非常可怕了，也就是说本来是一个非常正常的随机误差。但是，会因为做标定，会把这个随机误差固化在标线里面成为今后的系统误差。也就是说如果随机误差过大，会在标线里直接就会固化一个非常大的系统误差。那再拿这个标准来做样品的时候，可能就会给样品带来更大的误差。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712042359_03_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050000_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050000_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]在90%置信度下，应该上下是1.5个σ，那也就是最大的时应该是平均值加1.5个σ，最小的时应该是平均值减1.5个σ。那么他俩相减得到应该是3个σ。也就是说两次测量值之差只要不超过3个σ，那就很有可能这两个数值都落在90%置信度区间内，就是合格的。这实际上运用的就是正态分布规律来检验是否有过失误差。这是做样品时的经验。可是标定的时候就不能这样了，否则就有可能固化一个很大的系统误差进去。比正常测定时的误差小一个数量级的误差就是足够小的误差，就可以忽略不计了。在合成不确定度时，如果一个部分的不确定度比最主要最大的不确定度小一个数量级，那么就可以忽略不计。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050000_03_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]一般标定可以进行6次，理论上6次测量的随机误差就可以比单次测量低一个数量级，其误差就可以忽略不计了。就是如果标样的不确定度本身，比分析要求的不确定度要低一个数量级。那么这个时候标样标定时候就不需要这么多次，这个标样的随机误差固化到标线里面所形成的系统误差可以忽略不计。真正标定需要多少次和标样密切相关。如果标样的不确定度特别低时，就可以少标定几次。如果标样的不确定度跟样品分析的要求差不太多，那这个时候标定的次数一定要足够多才可以。在标定的时候，选择在线性区间靠上三分之一的位置来选择这样浓度的标样来标定仪器才是最稳定可靠的。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050001_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050001_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]一般说天平的误差为0.01mg，这种说法就是绝对误差；而说分光光度计在一定范围内的误差为3%，这就是相对误差。任何仪器都存在绝对误差和相对误差。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050002_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]一个标样，如果他有一个跟浓度相对的相对误差。那么他在标定的时候几乎没有影响。为什么呢？因为浓度小的时候呢，它的误差范围，就像图中底下这个小圈。当浓度变大时，就相当于图上面的大圈。在测量的时候，标线最大可能的偏离也就是变成蓝线的时候，而他们实际效果是一样的。所以标样的相对随机误差，对标样的浓度，其实对标线几乎没有影响。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050002_02_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]对于标样来说的绝对误差是一致不变的，所以由图中我们可以看出浓度更大时所带入的误差更低，所以我们希望标样的浓度尽量大些。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050002_03_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]建议进行六次标定来制作标线。但是检验标线只要一次，如果合格请千万不要改动标线。[img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712050003_01_2384346_3.jpg!w690x517.jpg[/img]问答环节：1、 玻璃仪器的标定，比如移液管。玻璃移液管多久需要标定一次？可以内部标定吗？内部标定人员需要什么证件吗？一次性的移液管不需要标定吗？国家有玻璃仪器的相关检定标准，就是JJG196-2006，玻璃量器3年检定一次，无塞滴管一年检定一次。可以内部标定，内部标定人员必须有资质。一次性的移液管本身没有可标定的特点，需要标定的是上面用的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/9p][color=#3333ff][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/9p][color=#3333ff]移液枪[/color][/url][/color][/url]。2、 不确定度对实际工作的意义与应用，如何排除人的不确定度？就是前面提到的控制过失误差和随机误差的问题。3、 不确定度计算过程中，是不是要考虑到实验过程中用到的任何计量用具的误差在内？在合成不确定度时低于一个数量级的就可以忽略不计了。4、 同样稀释100倍，1-100和10-1000两种办法中，哪种误差更小？（在量具都经过计量检定过的前提下，其实我是用天平自己称的）。1-100和10-1000通过移液管和容量瓶的允差计算不确定度。关键在于使用的量具来确定误差的大小。5、 大部分标准溶液证书没说明最小取样量，这个有相关规定吗？如挥发性标准溶液。这个没有相关规定。取样量是根据试验精度要求确定的，证书上不会规定，挥发性标准溶液的使用则也是人为控制的。6、 不确定度：哪些重复性分量能够合并处理，进行A类评定？对于利用不确定度进行符合性判定时，在无法给出是否符合的区域，怎样处理结果？足够小的可以忽略不计，大的则必须考虑。

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    价格： 面议
  • 在LC技术平台间轻松转换 —UPLC方法转换包
    在LC技术平台间轻松转换—UPLC方法转换包越来越多的公司已经意识到UPLC技术所带来的益处，包括提高生产率和数据质量、节省每个样品的分析成本、加快产品上市时间等等。ACQUITY UPLC H-Class系统正是这种转换的范本，其在LC平台转换的同时能够确保分析方法的有效性。除了方法中的所有参数根据色谱柱规格及颗粒大小进行调整外，成功的分析方法转换需要在不同粒径的色谱柱之间，保持同样的分离选择性和分离度。沃特世公司行业内领先的制造工艺不仅保证了不同批次之间空前的重现性，也保持了HPLC和UPLC颗粒间的选择性一致。新的方法转换工具能够确保色谱分离在HPLC和UPLC之间的成功转换。ACQUITY UPLC方法转换套装[MTK: Method Transfer Kit]* 套装名称 UPLC 色谱柱2.1 mmID HPLC 色谱柱4.6 mm ID 部件编号CSH C 18 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186005529CSH Phenyl-Hexyl 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186005530CSH Fluoro-Phenyl 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186005531BEH C 18 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186004958BEH Shield RP18 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186004959BEH HILIC 1.7 to 5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 150 mm, 5 μm 186004960HSS C 18 1.8 to 5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 150 mm, 5 μm 186004961HSS T3 1.8 to 5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 150 mm, 5 μm 186004962HSS C 18 SB 1.8 to 5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 150 mm, 5 μm 186004963HSS Cyano 1.8 to 5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 150 mm, 5 μm 186005979HSS PFP 1.8 to 5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 150 mm, 5 μm 186006000CSH C 18 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186005532CSH Phenyl-Hexyl 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186005533CSH Fluoro-Phenyl 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186005534BEH C 18 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186004964BEH Shield RP18 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186004965BEH HILIC 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186004966BEH Amide 1.7 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.7 μm 100 mm, 3.5 μm 186004967HSS C 18 1.8 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 100 mm, 3.5 μm 186004968HSS T3 1.8 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 100 mm, 3.5 μm 186004969HSS C 18 SB 1.8 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 100 mm, 3.5 μm 186004970HSS Cyano 1.8 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 100 mm, 3.5 μm 186005980HSS PFP 1.8 to 3.5 μm MTK 50 mm, 1.8 μm 100 mm, 3.5 μm 186006001CSH C 18 1.7 to 3.5 μm High Rs MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186005535CSH Phenyl-Hexyl 1.7 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186005536CSH Fluoro-Phenyl 1.7 to 3.5 μm 高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186005537BEH C 18 1.7 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004971BEH Shield RP18 1.7 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004972BEH HILIC 1.7 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004973BEH Amide 1.7 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004974HSS C 18 1.8 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004975HSS T3 1.8 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004976HSS C 18 SB 1.8 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.7 μm 150 mm, 3.5 μm 186004977HSS Cyano 1.8 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.8 μm 150 mm, 3.5 μm 186005981HSS PFP 1.8 to 3.5 μm高分辨MTK 100 mm, 1.8 μm 150 mm, 3.5 μm 186006002*每个套装都含有一根UPLC色谱柱和一根HPLC色谱柱，可从ACQUITY UPLC在线社区www.waters.com/myuplc下载ACQUITY UPLC Columns Calculator用于计算方法转移。
    供应商： 百道亨仪器设备（北京）有限公司
    品牌： 沃特世
    价格： 面议
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