薄膜透光

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薄膜透光相关的资讯

  • 我国自主知识产权薄膜透光组件研制成功
    从启动项目至今,仅仅经过 31天的时间,该公司天威薄膜研发检测中心自主研发的具有我国自主知识产权太阳能薄膜透光组件,于今日正式下线。   试验和检测数据表明,该太阳能薄膜透光组件电池性能达到国际同行业领先水平,表明中国企业开发掌握了大面积硅基薄膜透光光伏组件的关键制造技术与工艺,为未来开发更多满足客户个性化需求的产品奠定了坚实的基础,标志着天威集团进军太阳能光伏发电行业迈出了坚实的一步。   据天威薄膜研发检测中心副主任贾海军博士介绍说,该透光组件透光率达 30%,可用于立面透明幕墙,相比于晶体硅透光组件,太阳能薄膜透光组件外观更加优美,高温和弱光性能好,可以在阴天微弱光线下发电,同标称功率下发电量最多。   据悉,天威薄膜研发检测中心是全世界技术最先进、涵盖工艺最全面的薄膜太阳能技术研发中心之一,不仅可以进行大面积硅薄膜太阳能电池的试制生产,还可以进行新一代高效率太阳能电池的基础研究和产品研发。同时,该中心还可为本企业、华北乃至整个中国其他企业提供符合行业相关标准的样品试制、产品检测检验等服务,对于拉动中国光伏行业发展具有重要意义。
  • 彩谱发布彩谱透光率雾度仪TH-100新品
    彩谱雾度计TH-100产品特性:1. 符合以下测试标准:GB/T 2410标准、ASTM D 1003标准、ISO 13468标准、ISO 14782标准2. 仪器无需预热,即用即测;测试时间短,3秒即出结果3. 满足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种标准照明光源下的雾度与全透过率测量4. 拥有雾度值自定标功能,实现仪器测量数据与目标数据一致5. 拥有垂直测量和卧式测量两种测量状态,适合片材、薄膜、液体等样品测量6. 拥有开放式的测量区域,可以满足任意大小的样品测量7. 人性化设计,配置附件收纳抽屉8. 采用5.0寸TFT显示屏,拥有良好的人机交互界面9. 采用LED光源,寿命长,十年无需更换10. 体积小,重量轻,方便携带彩谱雾度计TH-100技术参数: 型号TH-100光源CIE-A、CIE-C、CIE-D65遵循标准ASTM D1003/D1044,ISO13468/ISO14782,JIS K 7105,JIS K 7361,JIS K 7136,GB/T 2410-08测量参数雾度(HAZE),透过率(T)光谱响应CIE光谱函数Y/V(λ)光路结构0/d照明与样品孔径尺寸15mm/21mm量程0-100%雾度分辨率0.01%透过率分辨率0.01%雾度重复性雾度<10%,重复性≤0.05%;雾度≥10%,重复性≤0.1%透过率重复性≤0.1%样品大小厚度≤145mm存储数据20000个数值接口USB接口电源DC24V工作温度10~40℃,相对湿度80%或更低(在35℃下),无水气凝结储藏温度-20℃~50℃,相对湿度80%或更低(在35℃下),无水气凝结体积长X宽X高:310mmX215mmX540mm标配PC管理软件(Haze QC )选配测量夹具、雾度标准片、5/7/10mm定制口径板、40*10比色皿彩谱雾度计TH-100应用领域:1、玻璃:AG玻璃、手机盖板、导光板、眼镜镜片、汽车玻璃、屏幕… … 2、塑胶:光学薄膜、农业薄膜、包装膜、扩散片、灯罩、塑胶板… … 创新点:1.仪器无需预热,即用即测,测试时间仅需2秒 2.开放式的测试区域,解放了对样品尺寸的限制 3.支持双标准,ASTM和ISO标准 彩谱透光率雾度仪TH-100
  • 高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展
    p style=" text-indent: 2em " 透明导电薄膜是触控屏、平板显示器、光伏电池、有机发光二极管等电子和光电子器件的重要组成部件。氧化铟锡(ITO)是当前应用最为广泛的透明导电薄膜材料,但ITO不具有柔性且铟资源稀缺,难以满足柔性电子器件等的发展需求。单壁碳纳米管(SWCNT)相互搭接形成的二维网络结构具有柔韧、透明、导电等特点,是构建柔性透明导电薄膜的理想材料。但已报道SWCNT薄膜的透明导电性能仍与ITO材料有较大差距。 /p p style=" text-indent: 2em " 因此,进一步提高SWCNT薄膜的透明导电特性是实现其器件应用的关键。分析表明,SWCNT透明导电薄膜中的管间接触电阻和管束聚集效应是制约其性能提高的主要瓶颈。一方面,由于SWCNT之间的接触面积小且存在肖特基势垒,载流子在搭接处的隧穿效应较弱,使得管间接触电阻远高于SWCNT的自身电阻;另一方面,虽然SWCNT的直径一般仅为1-2nm,但由于范德华力的作用其通常聚集成直径几十、上百纳米的管束以降低表面能;管束内部的SWCNT会吸光而降低薄膜的透光率,但对薄膜的电导几乎没有贡献。因此,研制高性能SWCNT柔性透明导电薄膜的关键是获得单根分散、低接触电阻的SWCNT网络结构。 /p p style=" text-indent: 2em " 最近,中国科学院金属研究所与上海科技大学物质学院联合培养的博士研究生蒋松在金属所先进炭材料研究部的导师指导下与合作者采用浮动催化剂化学气相沉积法制备出具有“碳焊”结构、单根分散的SWCNT透明导电薄膜(图1A)。& nbsp /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " span style=" text-align: center text-indent: 0em " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/d1a3d102-e0c5-4683-b29e-cc493258961c.jpg" title=" 1 高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展 仪器信息网.jpg" / & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: center text-indent: 2em " span style=" color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px " 图1. 单根分散、具有碳焊结构的SWCNT网络。 /span /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " span style=" color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px " (A)典型TEM照片;(B)单根SWCNT的百分含量统计; /span /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " span style=" color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px " (C-D)无碳焊结构的金属性-半导体性SWCNT的I-V传输特性; /span /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " span style=" color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px " (E-F)有碳焊结构的金属性-半导体性SWCNT的I-V传输特性。 /span /p p style=" text-indent: 2em " 通过控制SWCNT的形核浓度,所得薄膜中约85%的碳管以单根形式存在(图1B),其余主要为由2-3根SWCNT构成的小管束。进而,通过调控反应区内的碳源浓度,在SWCNT网络的交叉节点处形成了“碳焊”结构(图1A)。 /p p style=" text-indent: 2em " 研究表明该碳焊结构可使金属性-半导体性SWCNT间的肖特基接触转变为近欧姆接触(图1C-F),从而显著降低管间接触电阻。由于具有以上独特的结构特征,所得SWCNT薄膜在90%透光率下的方块电阻仅为41Ω □-1;经硝酸掺杂处理后,其方块电阻进一步降低至25Ω □-1,比已报道碳纳米管透明导电薄膜的性能提高2倍以上,并优于柔性基底上的ITO(图2A-B)。利用这种高性能SWCNT透明导电薄膜构建了柔性有机发光二极管(OLED)原型器件,其电流效率达到已报道SWCNT OLED器件最高值的7.5 倍(图2C-D),并具有优异的柔性和稳定性。 /p p style=" text-align: center text-indent: 2em " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/31a1c88d-964d-4fda-af47-d5b192bb42f2.jpg" title=" 2高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展 仪器信息网.jpg" / /p p style=" text-align: center text-indent: 2em " span style=" font-size: 14px color: rgb(127, 127, 127) " 图2. SWCNT 柔性透明导电薄膜和SWNCT 有机发光二极管。 /span /p p style=" text-indent: 2em " span style=" font-size: 14px color: rgb(127, 127, 127) " (A-B)SWCNT 柔性透明导电薄膜的光学照片及其透明导电性能对比;(C-D)SWCNT 有机发光二极管原型器件的光学照片及其光电性能对比。 /span /p p style=" text-indent: 2em " 该研究从SWCNT网络结构的设计与调控出发,有效解决了限制其透明导电性能提高的关键问题,获得了具有优异柔性和透明导电特性的SWCNT薄膜,可望推动SWCNT在柔性电子及光电子器件中的实际应用。主要研究结果于5月4日在Science Advances在线发表(Sci. Adv. 4, eaap9264 (2018),DOI: 10.1126/sciadv.aap9264)。该研究工作得到了科技部、基金委、中科院等部署的相关项目的支持。 /p

薄膜透光相关的方案

薄膜透光相关的论坛

  • 哑光薄膜透光率

    各位老师,我测哑光薄膜的透光率超过了100%,仪器检测没有问题,我想知道是不是薄膜本身有啥特性呢

  • 日立的U3310无法测薄膜的透光率么?

    想测试一下玻璃衬底上的薄膜透光率,但负责仪器的老师说只能测溶液,不能测薄膜。是需要什么附件之类的还是根本不行呢?可以的话操作有什么要求么?

  • 【求助】紫外可见分光光度计测试薄膜透过率

    初次接触紫外可见分光光度计,对其操作过程很不熟悉,特别是薄膜的测试,比如玻璃片上附一层很薄的薄膜,用紫外可见分光光度计测试薄膜的透光率,该如何操作?比如,玻璃片该如何放置,玻璃片太大也放不进样品池,放在样品池侧边可行吗?

薄膜透光相关的资料

薄膜透光相关的仪器

  • 薄膜透光率雾度测试仪 薄片透光率雾度仪 塑料板透光率雾度试验仪用于一切透明、半透明平行平面样品(塑料板材、片材等)透光率、雾度的测试、液体样品(水、饮料等)的浊度或澄明度测定。薄膜透光率雾度测试仪 薄片透光率雾度仪 塑料板透光率雾度试验仪技术特征:LED数码显示微机自动控制雾度、透光率自动切换、测定、校正数据自动处理,连续测试,平均值显示透光率、雾度值同时显示BCD码串行输出标准打印接口测试原理:通过试样的光通量与射到试样上的光通量之百分比为透光率;透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之百分比为雾度。薄膜透光率雾度测试仪 薄片透光率雾度仪 塑料板透光率雾度试验仪技术指标:测量范围:透光率0~100.0% ;雾度0~30.00%准确度:透光率≤1;雾度H≤0.5%时 ±0.1%;H0.5%时 ±0.3%重复性:透光率0.5%;雾度 H≤0.5%时 ±0.05%;H0.5%时 ±0.1%最小读数:透光率 0.1%;雾度 0.01%光源:C光源(DC 12V 50W卤钨灯+色温片)样品尺寸:50mm×50mm(薄膜)校验样品:?40×2mm一块样品窗尺寸:入窗?25mm,出窗?21mm接收方式:准直照明、漫射视野、积分球接收器:硅光电池与视见函数修正片(符合V(λ)标准植)仪器尺寸:740mm(L)×270mm(B)×300mm(H)电源:220V 50HZ主机净重:21Kg薄膜透光率雾度测试仪 薄片透光率雾度仪 塑料板透光率雾度试验仪执行标准:GB/T 2410,ASTM D1003-61(1997),JIS K7105-81标准配置:主机、薄膜样品夹具、样品台、卤钨灯
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  • 薄膜透光率雾度测定仪_片材透光率雾度测试仪_透光率雾度计用于一切透明、半透明平行平面样品(塑料板材、片材等)透光率、雾度的测试、液体样品(水、饮料等)的浊度或澄明度测定。薄膜透光率雾度测定仪_片材透光率雾度测试仪_透光率雾度计技术特征:LED数码显示微机自动控制雾度、透光率自动切换、测定、校正数据自动处理,连续测试,平均值显示透光率、雾度值同时显示BCD码串行输出标准打印接口测试原理:通过试样的光通量与射到试样上的光通量之百分比为透光率;透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之百分比为雾度。薄膜透光率雾度测定仪_片材透光率雾度测试仪_透光率雾度计技术指标:测量范围:透光率0~100.0% ;雾度0~30.00%准确度:透光率≤1;雾度H≤0.5%时 ±0.1%;H0.5%时 ±0.3%重复性:透光率0.5%;雾度 H≤0.5%时 ±0.05%;H0.5%时 ±0.1%最小读数:透光率 0.1%;雾度 0.01%光源:C光源(DC 12V 50W卤钨灯+色温片)样品尺寸:50mm×50mm(薄膜)校验样品:?40×2mm一块样品窗尺寸:入窗?25mm,出窗?21mm接收方式:准直照明、漫射视野、积分球接收器:硅光电池与视见函数修正片(符合V(λ)标准植)仪器尺寸:740mm(L)×270mm(B)×300mm(H)电源:220V 50HZ主机净重:21Kg薄膜透光率雾度测定仪_片材透光率雾度测试仪_透光率雾度计执行标准:GB/T 2410,ASTM D1003-61(1997),JIS K7105-81标准配置:主机、薄膜样品夹具、样品台、卤钨灯
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  • WGT-S塑料薄膜透光率雾度仪(透明/半透明材料透光率雾度检测仪)执行GB 2410-80,ASTM D1033-61(1997),JIS K7105-81等检测标准,光源采用标准C光源(DC 12V 50W卤钨灯+色温片),采用zui佳积分球式光学系统。仪器结构合理,操作方便。适用于用于一切透明、半透明平行平面样品(塑料板材、片材等)透光率雾度的测试、液体样品(水、饮料等)的浊度或澄明度测定。测试原理通过试样的光通量与射到试样上的光通量之百分比为透光率;透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之百分比为雾度。技术指标测量范围:透光率0~100.0% 雾度0~30.00%准确度:透光率 ≤1%雾度H≤0.5%时 ±0.1% H0.5%时 ±0.3%重复性:透光率 0.5%雾度 H≤0.5%时 ±0.05% H0.5%时 ±0.1%zui小读数:透光率 0.1%雾度0.01%光源:C光源(DC 12V 50W卤钨灯+色温片)样品尺寸:50mm×50mm(薄膜)校验样品:?40×2mm一块样品窗尺寸:入窗?25mm,出窗?21mm接收方式:准直照明、漫射视野、积分球接 收 器:硅光电池与视见函数修正片(符合V(λ)标准植)仪器尺寸:740mm(L) × 270mm(B) × 300mm(H)电源:220V~50HZ主机净重:21KgWGT-S塑料薄膜透光率雾度仪技术特点采用平行照明,半球散射,积分球光电接收方式,采用微机自动操作系统及数据处理系统,无旋钮操作,使用方便,并且有标准打印输出拉口,自动显示透光率/雾度多次测量的平均值,透光率结果接显示到 0.1﹪,雾度显示到0.01﹪,无零点漂移,置信度强,特定的结构一开启式样品窗几乎不受样品尺寸的限制,测量速度快,由于调制品的采用,仪器不受环境光的影响,不必采用暗室,保证了大件样品操作者的安全,微机化的电子线路,精度高,备有标准化的数据打印输出接口,可配套供应程控打印机。备有薄膜磁性夹具及液体样品杯,给用户带来极大方便,随机附雾度片一块,便于随时检查仪器动作功能。WGT-S塑料薄膜透光率雾度仪产品应用适用于一切透明、半透明平行平面样品(塑料板材、片材、塑料薄膜、平板玻璃)的透光率、透射雾度、反射雾度、反射率的测定,也适用于液体样品(水、饮料、药剂、着色液、油脂)浊度的测量,在国防科研及工农业生产中具有广泛的应用领域,还适用于光学玻璃透光率的测定,感光胶片清新程度的检测,人造偏振片偏振度的中间控,航空玻璃、汽车玻璃、防毒面罩玻璃能见度的测定,包装塑料薄膜光学综合质量的评定,农用塑料薄膜透光率的检验,建筑、装潢玻璃透光特性的检查,光学投影屏漫射质量的考核,电影银幕、投影电视屏幕漫射能力的测定,广造灯箱幕质量的检验,工程描图纸质量的检验,透光率/雾度测定仪还可间接应用于毛玻璃洗涤剂质量的评定,塑料抛光材料光效的评价,凡立斯絮物的测定,塑料玻璃面罩搞划伤能力的评价,漫射涂料漫射特性的控制及检测。透光率/雾度测定仪用作液体样品浊度测定有:纺织厂、热电厂、钢铁厂、灯泡厂、半导体厂、造纸厂、合成纤维厂、工业用水的检测,自来水厂、汽水厂、啤酒厂、糖、制药及临床应用于结晶母液中微量固态、物质浓度测定,防疫站对细菌浓度的测定、血液临床化验、药物澄明度的测定等。.环保部门污水处理质量的检验,海水淡化质量的控制,化学工业中着色液浊度之测定,油脂、溶剂浊度之测定,厂、味精厂、调味品厂食用水、饮料质量检测。
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薄膜透光相关的耗材

  • 用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体
    用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体这种简单易用的前表面附件可将您的测定能力扩展至种类多样的固体和半固体样品,其中包括粉末、纸片、塑料薄膜、布样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。这种附件可用于LS-50B/45/55光谱仪。特点和优势:可用于荧光和磷光测定样品可直接放在该附件内,也可固定在带有合成熔融硅胶窗片的粉末托架内超微量或粘性样品可夹在两个窗片之间不透光和浑浊样品可在小号比色皿内(10 mm以下)进行测定订货信息:产品描述部件编号前表面附件52123130粉末样品托架适用于前表面附件(52123130)52123164合成熔融硅胶窗片适用于粉末样品托架52123814*包括粉末样品托架(52123164)
  • 杭州奥盛高透光粘性膜
    杭州奥盛高透光粘性膜是一款用于PCR实验的高透光粘性膜,密封性好,且撕下来无残胶。可避免PCR反应中的孔间交叉污染,是简单且经济实惠的微孔板密封用膜。 技术参数:材质高透聚丙烯厚度100 μm宽幅80 mm长度51 m 订货信息:AS-F15R高透光粘性膜
  • 氮化硅薄膜窗-X射线用
    X射线透射显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低),穿透能力越差,所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作(即薄膜与光束成一定角度)时,也需要较薄的薄膜窗口,便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成,由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅(0-250MP)薄膜,因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸:1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸:2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸:3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度: 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度:50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品(30-500nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 透光度: 对于X射线用窗口,500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果,对于软X射线(例如碳边吸收谱),100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性: 真空适用性数据如下:   薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度: 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定(粗糙度小于1nm),对于X射线应用没有任何影响。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 同步辐射X射线(紫外或极紫外)透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜(薄膜直接沉积在窗口上)。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献:PRL
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