超分辨显微

系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率： =5ps寿命衰减测量时间范围：=50ps—100us 高系统光谱分辨率： 0.1nm宽单次成谱范围： =200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱，荧光寿命，半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱，时间分辨拉曼光谱测量光通讯，量子器件的响应测量自由电子激光，超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射，激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率（1200l/mm）0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)最小时间分辨率：16ps荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式：1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器：sCMOS相机成像空间分辨率：优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线

简介： N-SIM在结构照明显微术中，通过分析采用已知的高频条纹照明装置对标本照明所产生的莫尔纹，来看清楚位置的细胞超细结构。Nikon的结构照明显微（N-SIM）技术可实现高达85nm的多色炒高分辨率。此外，其还可以0.6秒/帧的时间分辨率连续捕捉超分辨率的影像，从而可帮助您研究活细胞的动态相互作用。 主要特点： &bull 以两倍于传统光学显微镜的分辨率（约85nm）对活细胞进行观察 N-SIM超分辨率显微镜在&ldquo 结构照明显微&rdquo 技术中采用Nikon革命性的新方法。 通过将这一强大技术与Nikon著名的CFI Apo TIRF 100x油浸物镜（NA 1.49）结合在一起，N-SIM可实现 几乎两倍于传统光学显微镜的空间分辨率（约85nm），并能提供微小细胞内结构及其相互作用功能的细节 影像。 *在TIRF-SIM模式中采用488nm激光激发 &bull 0.6秒/帧的时间分辨率-超快超分辨率显微系统 N-SIM可提供用于结构照明技术的超快成像能力，时间分辨率最高可达0.6秒/帧，在活细胞成像中极为有效 （采用TIRF-SIM/2D-SIM模式；在3D-SIM模式中可实现最快1秒/帧左右的成像）。 &bull 提供多种观察模式 TIRF-SIM/2D-SIM模式 此模式可采用超高速、超高对比度捕捉超高分辨率的2D影像。TIRF-SIM采用分辨率为传统TIRF显微镜两倍的 全内反射荧光观察方式，能够帮助您对细胞表面的分子相互作用有更深入的了解。 3D-SIM模式 使用N-SIM系统的轴向超高分辨率观察可对最多20µ m厚度的标本细胞组织以300nm的分辨率进行光学断层显微 成像。另外，3D-SIM消除了焦外背景荧光，从而产生了极高的对比度。 &bull 激光多色超高分辨率 NIKON LU-5是一种最多可带有5个激光器的模块系统，可实现多光谱炒高分辨率。多光谱功能是研究分子级 多个蛋白质之间动态相互作用的必备功能。

简介： 随机光学重建显微（STORM)技术通过探测显微标本内的各荧光团的精确定位信息重建超分辨率荧光影像。 N-STORM利用NIKON的强大Ti-E倒置式显微镜应用3维高精度多通道分子定位和重建，从而实现了比传统显微镜 高10倍（横向约20nm）的超高分辨率。此强大技术能够观察到纳米级分子相互作用，开启研究的全新境界。 主要特点： &bull 比传统光学显微镜高10倍的超高分辨率（横向约20nm） N-STORM利用显微镜样本内部数以千计的离散荧光体分子，实现2D或3D高精度定位信息，展现无比壮观 的超高分辨率图像，与传统光学显微镜相比，空间分辨率可提高10倍。 &bull N-STORM还能提供比标准光学分辨率高10倍的纵向分辨率（约50nm) 除了侧向超高分辨率之外，N-STORM更运用专有技术，令轴向分辨率也同样提高十倍，有效提供纳米 级3D信息 &bull 使用各种荧光探针的多色成像 通过将各种&ldquo 活化&rdquo 探针和&ldquo 报告&rdquo 探针组合在一起，实现了多色超分辨率成像。从而能够对多个蛋白质 的共定位分析和相互作用进行重要的分子级研究。