新型电子器件

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新型电子器件相关的资讯

  • 深圳先进院等实现柔性电子器件“乐高式”高效稳定组装
    近年来,柔性电子器件在人体健康检测与分析以及可穿戴设备等生物医学工程领域展现出广阔的应用前景。然而,在柔性电子器件的组装中,用于连接不同模块的商用导电胶易变形、断裂,使得接口不稳定性成为该领域内长期存在的难题,阻碍了整个器件的拉伸性和信号质量。   中国科学院深圳先进技术研究院、新加坡南洋理工大学、美国斯坦福大学的科学家另辟蹊径,绕开利用“商业胶水”组装柔性电子器件的思路,开发了基于双连续纳米分散网络的BIND界面(biphasic, nano-dispersed interface,BIND)。这种新型界面能够作为柔性电子器件通常所包含的柔性模块、刚性模块以及封装模块的通用接口,只需要按压10秒钟,便可以实现“乐高式”的高效稳定组装。2月15日,相关研究成果发表在《自然》(Nature)上。   人机接口是人与电子设备之间进行的数字虚拟世界和现实物理世界的信息交换,而柔性电子器件则是人机接口技术的关键核心和先导基础。柔性电子器件在生物医学工程领域的研究备受关注,大致可分为植入式和体表式两种,主要功能就是采集应力信号、温度信号、生理电信号、超声信号、生物化学信号等生理数据以监测人体健康状态。然而,商用导电胶的瓶颈却破坏了柔性电子器件的整体稳定性。无论单个模块的拉伸性多好,只要模块接口处的拉伸性很弱,那么整个器件的拉伸性就会受到制约。   联合团队发现,在特定的制备条件下,基于SEBS嵌段聚合物和黄金纳米颗粒的柔性界面即BIND界面,面对面贴合时有“魔术贴”式的电气与机械双重黏合特性,能够将不同功能的柔性传感器稳定地黏合在一起,从而实现柔性模块与柔性模块之间的高效连接。通过热蒸发金(Au)或银(Ag)纳米颗粒制备BIND界面,在自粘苯乙烯-乙烯-丁烯-苯乙烯(SEBS)热塑性弹性体内部形成互穿纳米结构,SEBS是广泛应用于可拉伸电子产品的软基板。SEBS基质表面附近的纳米颗粒形成了一个双相层(约90纳米深),其中一些纳米颗粒完全浸入其中,而另一些纳米颗粒部分暴露在外。这种界面结构在表面产生了暴露的SEBS和Au,在基体内部产生了互穿的Au纳米颗粒,这为坚固的BIND连接提供了连续的机械和电气途径。总之,这种即插即用的接口可以简化和加速皮肤上和可植入的可拉伸设备的开发。实验表明,采用新型接口的柔性医疗器件可高精度、高保真、抗干扰地监测体内外不同器官,包括表皮、脑皮层、坐骨神经、腓骨肌肉、膀胱等,比起商用导电胶组装的系统信号质量有大幅提升。   采用BIND界面的柔性模块接口,其导电拉伸率可达180%,机械拉伸率可达600%,高于采用商用导电胶连接的普通接口(分别为45%、60%);对于硬质模块接口,其导电拉伸率达200%,并能适用于聚酰亚胺(PI)、玻璃、金属等多种硬质材料;对于封装模块接口,BIND界面能提供0.24 N/mm的粘附力,是传统柔性封装的60倍。   该研究为智能柔性电子器件的模块化组装提供了可拉伸、稳定高效的通用接口,不仅简化了柔性医疗器件的使用,而且加速了多模态、多功能的柔性医疗器件的研发。通过该接口组装的智能柔性传感器件可用于多个医疗领域,例如植入式人机接口、体表健康监测、智能柔性传感、软体机器人等。   研究工作得到国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目、国家重点研发计划、神经工程研究中心、中科院人机智能协同系统重点实验室、中科院健康信息学重点实验室的支持。可拉伸混合设备的BIND连接研究团队开发的“魔术贴”式柔性组装方法与在肌电监测中的应用实例
  • 国家电子器件及绿色照明产品质检中心在滁开建
    张万宽、韩先聪、江山、汪韧等启动开工球   7月6日,位于城南政务新区的建设工地上彩旗飘扬、鲜花吐艳,我市首个国家电子器件及绿色照明产品质量监督检验中心开工奠基仪式在这里隆重举行。省质监局党组书记、局长张万宽,市委书记韩先聪,市长江山,省质监局副局长汪韧共同启动开工球。市领导牛向阳、贾朝峰、王图强、吴雪、汪建中、张忠孝等出席开工仪式。   国家电子器件及绿色照明产品质量监督检验中心将按照“国内一流、国际先进”的要求,拟建电磁兼容、电气安全、节能认证、环境和可靠性、光源、寿命、光强度试验等18个专业实验室。综合检测楼总建筑面积为16800平方米,项目总预算6500万元,其中工程概算4000万元,需配备检测仪器设备300台(套),总费用约2500万元,主体工程预计于2011年底完工。建成后的国检中心检验范围包括:LED、LCD、遥控器、传感器、集成芯片、电子材料等电子元器件及产品 荧光灯、金卤灯、高压钠灯、风光互补节能灯、电子镇流器等节能灯具产品以及新型绿色小家电产品等,并围绕检验范围开展标准化和情报信息、相关科研开发和技术培训等方面的服务工作,具有检验、科研、培训、标准化情报信息服务等综合能力。   工程开工前,省质监局、市政府在滁召开联席会议,就筹建滁州国家电子器件及绿色照明产品质量监督检验中心工作进行磋商。省质监局党组书记、局长张万宽,市委书记韩先聪,市长江山,省质监局副局长汪韧出席会议并讲话。副市长王图强主持会议。   联席会听取了市质监局负责人关于国家电子器件及绿色照明产品质量监督检验中心筹建情况汇报。张万宽指出,筹建国检中心表明了滁州市委、市政府领导的远见卓识和强烈的使命感、责任心,省质监局会不遗余力地支持滁州国检中心建设。同时,国检中心建设也要适当留有发展余地,以适应不断丰富的检测手段和检测内容要求。   韩先聪讲话时强调,国检中心建设工作是省局提出的三大服务工作的重要体现和重大成果,是滁州经济社会发展特别是主导产业的壮大中的要事,是滁州承接产业转移的“推进器”,更是滁州追赶发达地区奋起一搏的重大起跳平台。这项工作的专业性、系统性很强,希望省局一如既往给予更多支持和指导。市委、市政府及相关部门将认真落实省质监局提出的意见和建议,从现在开始,一手抓建设,一手抓功能发挥应用,扎实推进好这个外树形象内强素质的国字号工程。   江山讲话时指出,国检中心是省局关心的结果,凝聚着省局领导对滁州的厚爱。市委、市政府将会在省局的指导下,按照要求和部署,在组织保障、投入、选址、政策等方面抓好落实。在工程建设中,按照快速工程、优质工程、亮丽工程的总体要求,高效保质地完成工程建设,同时做好服务,吸引更多的人才服务于国检中心。   省质监局相关部门负责人,市直相关部门负责人参加会议。
  • LDMAS2021低维半导体电子/光电子器件分论坛成功举办
    近日,2021年第四届低维材料应用与标准研讨会(LDMAS2021)在北京西郊宾馆成功召开。会议吸引了低维材料与器件相关领域的400余名专家学者与企业代表出席,云端参会人数超过1万人。会议同期举办5个不同主题的分会场,仪器信息网编辑对“第2分论坛:低维半导体电子/光电子器件分论坛”进行了跟踪报道。该会场共安排了16个邀请报告和6个青年论坛报告,相继由北京大学集成电路学院研究员黄芊芊、中国科学院半导体所研究员赵德刚、中国科学院半导体研究所研究员薛春来、华中科技大学光学与电子信息学院/武汉光电国家研究中心副教授叶镭和北京化工大学教授邵晓红主持;内容精彩纷呈,得到与会观众的高度关注。以下为此分会场的部分报告集锦,以飨读者。报告题目:GaN 基材料与激光器报告人:中国科学院半导体所研究员 赵德刚氮化镓(GaN)材料被称为第三代半导体,GaN基激光器在激光显示、激光照明、激光加工等领域重要的应用价值,材料生长与器件工艺是基础和关键。在材料方面,赵德刚课题组提出了独特的MOCVD外延方法,生长出高质量的GaN材料,室温下电子迁移率超过1000 cm2/Vs,这是目前国际上公开报道的最好结果;发现并抑制了碳杂质对p-GaN材料的补偿效应,提出了少量掺氧的p型杂质激活方法,解决了p型掺杂问题;还发现了GaN材料“黄光峰”与碳杂质和刃位错紧密相关。在器件方面,利用碳杂质实现了良好的p-GaN欧姆接触特性;掌握了InGaN量子阱界面控制方和局域态调控方法,并生长出高质量的InGaN量子阱材料;研究了InGaN波导层的生长技术,有效抑制了表面V型坑缺陷的形成;提出了降低吸收损耗、抑制电子泄漏的多种激光器新结构,提高了器件性能,研究了激光器物理,发现了GaN基激光器失效机制。研制出我国第一只GaN基紫外激光器,目前连续功率输出920mW,进一步实现了366nm的GaN基紫外激光器电注入激射,并研制出室温连续激射功率6W的蓝光激光器。报告题目:基于低维硅材料的异质结构及其光电神经突触器件报告人:浙江大学教授 皮孝东由于基于传统的冯诺依曼架构的计算的发展面临着高功耗等瓶颈问题,新型计算如神经形态计算正受到人们越来越多的关注。在生物神经系统中,信号的传递都是通过神经突触实现的,因此模拟生物神经突触的神经突触器件成为了发展神经形态计算所必需的核心器件。生物神经系统中的信号主要是电信号,所以早期的研究人员主要研究电刺激-电输出的电子神经突触器件。然而,光电集成特别是硅基光电集成的发展表明,神经形态计算将来若能建立在光电集成的人工神经网络之上,其性能将比只依赖于电集成的更加卓越。这导致近年来研究人员考虑到将光信号引入神经突触器件中,制备光电神经突触器件,进而构建光电集成的人工神经网络。对于光电神经突触器件,如果它们基于硅,研究人员就有望充分利用硅成熟的器件制备和集成工艺,推动光电集成的神经形态计算的快速发展。报告中,皮孝东主要介绍近年来基于低维硅材料如硅量子点和硅纳米膜,与新型半导体材料如二维半导体材料、有机无机杂化钙钛矿、有机半导体等构建异质结构,制备光电神经突触器件,实现对一系列生物突触行为的模拟。报告题目:基于二维层状半导体的偏振光探测器报告人:中国科学院半导体研究所研究员 魏钟鸣近年来,二维材料由于其独特的光电性能而受到了广泛的关注。相比于零带隙的石墨烯,二维半导体材料如MoS2,WSe2等具有一定宽度的带隙,使其可以广泛应用于各种光电器件(包括存储器、探测器和晶体管等)。魏钟鸣课题组针对二维半导体及光电器件进行了长期的探索,围绕材料的设计、制备和器件应用已经取得一些进展,部分材料在场效应晶体管和光探测器等方面显示出较好的性能。作为一种特殊的光电器件,偏振光探测器在光通信、成像等领域有非常重要的应用,魏钟鸣在报告中主要针对新型二维半导体在偏振光探测方面的原型器件和工作机理进行汇报。发现具有二维层状堆积晶体结构和面内各向异性的GeSe与GeAs等材料表现出优异的偏振光探测性能,并且探测波段从可见区覆盖到红外区,这两种材料都在808 nm的短波近红外区获得最优性能。报告题目:高性能低维半导体器件报告人:北京大学微纳电子学系研究员 吴燕庆超薄二维材料体系具有丰富的能带结构与优异的电学特性,可用来实现高性能逻辑、射频与存储器件。其超薄体特性可在超短沟器件中有效抑制短沟道效应。基于二维材料体系的垂直范德华异质结可突破传统体材料异质结的结构限制,实现超越传统器件的功能,并大幅提升性能。纳米尺寸的短沟道器件以及与硅基工艺相兼容的二硫化钼晶体管具有优异的输出特性,其输出电流可超过1mA/µm。基于大面积生长工艺的双层二硫化钼射频晶体管的最大振荡频率峰值可达到23 GHz,基于柔性衬底的混频器也可工作在GHz频段。基于面内各向异性最佳输运方向,沟长为100 nm的黑磷晶体管室温驱动电流达到1.2 mA/ µm,20 K时进一步提高到1.6 mA/µm。室温下其弹道输运效率达到36%,在低温20 K时提高到79.4%。基于上述两种二维材料的范德华异质结可实现电压可调的可重构多值逻辑,并且在超浅垂直异质结中可实现超高整流比与开关比。因此基于范德华异质结的量子隧穿器件具有优异的特性和极大的潜力。此外,在基于超薄4nm的氧化铟锡半导体的短沟道器件中实现了开关比超越1010的超低功耗器件,最短沟长可以达到10nm,并且实现了相关的环振电路,振荡频率为氧化物半导体中最高。并实现了极高的反相器增益及射频增益。低维材料高性能电子器件可为未来后摩尔时代提供具有应用潜力的新一代电子器件。报告题目:低维半导体载流子动力学调控报告人:南京大学教授 王枫秋低维半导体是发展新一代微纳电子和光电子器件的重要技术路径。从微观层面操控低维半导体载流子及载流子激发态的基本性质(如迁移率、寿命、弛豫通道、极化率等),是提升器件宏观性能并发展新原理光电器件的关键。近年来,王枫秋课题组聚焦二维半导体、碳基材料及其异质结构,深入开展限域体系载流子弛豫机制和新型光电器件研究,主要代表成果:(1)提出系列具有普适性的载流子动力学调控策略,实现了两类重要体系载流子寿命宽谱、大范围调制,一项成果入选“2017中国光学十大进展”。(2)首创全碳异质薄膜光探测器结构,解决光电导增益和响应速度协同优化难题,率先实现“光学神经元”新概念器件。(3)发展了低维半导体超快光开关技术,突破宽波段覆盖和参数精控两大实用化技术瓶颈,多项指标保持世界纪录。报告题目:新型二维半导体在集成电路中的可行性和优势报告人:复旦大学研究员 包文中近年来作为学术界研究热点的二维材料,也逐渐引起了工业界的关注。最新的国际器件与系 统发展路线图(IRDS 2020)高度评价了二维半导体材料在未来集成电路中应用于叠层纳米片晶体管及其他新型能带调控器件的巨大潜力。在此背景下,包文中课题组在实现批量生长高质量晶圆级二维材料的基础上,系统性的发展了多个可实用的工艺新方法,包括有效的掺杂、金半接触和栅介质生长等分立工艺。在此基础上开创性的提出了二维材料工艺集成的新方法,从而开发了二维材料的集成电路成套流片工艺。结合器件紧凑模型和电路仿真优化,我们成功制作了传统的数字、模拟、存储电路;同时,还充分发挥二维材料的独特优势,提出多种开创性的器件结构。报告题目:硅/石墨烯宽光谱红外探测器报告人:浙江大学教授 徐杨徐杨课题组研究了一种用于中红外光电探测的宏观组装石墨烯(MAG)纳米膜/硅异质结。高结晶度的MAG通过氧化石墨烯的可扩展湿法组装,然后进行热退火制备,厚度可调(14-60 nm),尺寸可以达到2 英寸。MAG/Si肖特基二极管在室温下响应波段范围为1- 4 μm,具有高速响应(120-130 ns,4 mm2窗口)和高探测率(1.5 μm波长下为1011 Jones),其瞬态光电流性能优于单层石墨烯/硅光电探测器2个数量级以上。这种光电性能归功于MAG的优越优势(~ 40%的光吸收、~ 23 ps 的载流子弛豫时间、相对较低的功函数 (4.52 eV) 和高准平衡热载流子倍增增益)、原子尺度的异质结接触界面,以及来自硅的碰撞电离雪崩倍增增益(~102倍)。MAG提供了一个了解2D材料中的热载流子动力学的平台,也为探索新型室温下宽光谱碳硅融合的图像传感器提供了研究基础。报告题目:局域场调控红外探测器研究进展报告人:中科院上海技物所青年研究员 王鹏随着半导体技术的快速发展,光电探测技术取得了长足进步。其中,以Si、InGaAs、HgCdTe等为代表的传统半导体薄膜光电探测器以其成熟的集成技术与稳定的探测性能在商业化产品与国防军工等领域占据主导地位,且已广泛应用于地球观测、环境监测、目标识别、空间遥感等领域。目前,新一代光电探测技术正朝着高性能、大面阵、低噪声以及高工作温度等方向发展,对光电探测材料与器件提出了更高的要求。低维半导体材料表现出明显区别于经典体系的物性特征,载流子输运、光学跃迁等物理行为具有可控的量子特性,产生许多新颖的物理性质和效应,并以此形成的具有颠覆性意义的光电技术在性能指标上超越传统器件的理论极限,对现有红外探测体系是很好的补充。因此,不断深入和优化现有材料体系的同时,持续开展新材料、新结构的研究和开发,是光电探测器技术发展的必然要求。本次报告将围绕新一代红外探测器技术的发展需求,介绍当前研究现状,汇报我们在局域场调控红外探测器研制与新颖探测机理研究等方面进展。

新型电子器件相关的方案

  • 可程式恒温恒湿试验箱可为电子元器件做哪些方面的试验
    可程式恒温恒湿试验箱用以电子器件电气元器件等样品纤维材料的物态变化,测验其原材料承担温湿度性能及其在热涨冷缩里的化学反应或物理学损害,能够确定产品品质,从高精密IC到重型机械设备元器件,无疑是各个领域产品检测不可缺少的环境试验箱。 在电子元器件与整个设备安装设备前,应尽可能清除初期无效的元器件,对元器件进行分类。依据世界各国筛分工作经验,根据合理筛分,可让电子器件总设备故障率减少1-2个量级。因而,不论是军用产品或是民用产品,挑选全是确保稳定性的重要途径。可程式恒温恒湿试验箱是电子元件自然环境可靠性测试的不二之选。
  • 电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法
    电子元器件对周围水蒸气含量要求严格,因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性,防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试,通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程,为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。
  • 电子元器件检测实验室专业测试仪器设备解决方案
    在电子电路中,除了接触最多的电子元器件( 例如电阻,电感,电容,二极管,三极管,集成电路等) 以外,还有其他常用电子元器件,如电声器件,开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功,安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术,或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器,我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型:半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。

新型电子器件相关的论坛

  • 光电子器件环境可靠性试验方法

    光电子器件环境可靠性试验方法

    如今,通信设备的制造厂商,对光电子器件的可靠性要求越来越高,光电子器件和通信设备的制造厂商之间没有专门的、统一的光电子器件可靠性试验很难进行有效的沟通,影响产品可靠性的提高。而电子器件可靠性评估是指对电子器件产品、半成品或模拟样片(各种测试结构图形),通过各种可靠性性试验、加速寿命试验和快速评价技术等,并运用数理统计工具和有关模拟仿真软件来评定其寿命、失效率或可靠性质量等级。下面,雅士林整理了光性的试验方法供给大家参考。[align=center][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206291702592424_851_1385_3.jpg!w600x600.jpg[/img][/align]  1、高温贮存:确定光电子器件能否经受高温下的运输和贮存,以保证光电子器件经受高温后能在规定条件下在[b][url=http://www.instrument.com.cn/netshow/C27536.htm]高低温试验箱[/url][/b]正常工作。  试验条件如下:  贮存温度:(85±2)℃或贮存温度;  贮存时间:2000h。  进行试验:  A)试验前测试试样的主要光电特性;  B)把光电子器件贮存在规定试验条件的高低温试验箱中,在开始计时之前应有足够升温时间,使所有试样处在规定的温度下,温度传感器应位于工作区内温度。  C)在达到规定的试验时间后,把试样从试验环境中移出,放置24h,使之达到标准测试条件,并对试样光电特性进行测试。验完成后,应在48h内完成试样的主要光电特性测试,并进行目检。当有规定时,也可以在试验过程中的某些时刻进行测试。  2、恒定湿热:本试验的目的是测定光电子器件承受高温和高湿的能力,以及高温和高湿对器件的影响程度,保证光电子器件的长期可靠性。试验设备为在加载负荷时能为工作区提供和控制规定的温度、湿度、热容量和空气流量的恒温恒湿试验箱。  试验条件如下:  温度:+85℃;  湿度:85%RH;  保持时间:500h(不加偏置)或1000h(加偏置);  规定的偏置电压或电流(适用时)。  进行试验:  a)试验前对光电子器件的主要光电特性进行测试;  b)将光电子器件放进恒温恒湿试验箱内,其摆放位置不应妨碍试样四周空气的流动;  c)试样在规定条件下连续完成规定的试验时间。  d)试样基材或外包材(如封帽,引线,封套等)腐蚀面积超过5%,或贯穿性腐蚀;  e)引线损坏或部分分离;

  • 【分享】物理所硅基氧化锌单晶材料及光电子器件研发获重要进展

    短波长光电子与Si微电子的集成因其重大的应用价值而被广泛关注,其中硅基ZnO材料与光电子器件研究是目前国际上的一个重要课题;然而Si基高质量ZnO单晶材料的制备、器件结构的设计等问题具有很大的挑战性,这是由于Si表面具有很强的活性,极易形成无定形的氧化物与硅化物,阻碍ZnO的外延生长。另外,由于Si的能带结构与ZnO不匹配,难以获得理想的光电子器件性能。因此如何控制Si衬底表面和ZnO/Si异质界面,并设计出新型器件结构已成为这一研究方向的核心科学问题。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室杜小龙研究组经过五年多的持续攻关研究,发展了一种低温界面工程技术,并进一步设计和构筑了具有锐利界面的新型n-ZnO/i-MgO/p-Si双异质结p-i-n紫外探测器结构,研制成功Si基ZnO可见盲紫外探测器原理型器件。 自2004年起梅增霞副研究员和博士生王喜娜、王勇等系统研究了Si(111)-7x7清洁表面上金属Mg薄层的沉积工艺,发现只有在低温下才能抑制Si与Mg原子的界面互扩散而形成Mg(0001)单晶薄膜,进一步研究发现该单晶Mg膜可通过活性氧处理形成岩盐相的MgO(111)超薄膜,从而为两步法外延生长ZnO提供了良好的模板;通过一系列生长参数的优化,利用MBE法最终在2英寸Si晶片上制备出高质量的ZnO单晶薄膜,其结晶性和光电性能等综合指标居国际领先水平;相关论文被应用物理快报的审稿人评为最高级的“EXCELLENT”(APL,90, 151912 (2007)), 评语中指出这是一项杰出的研究工作,论文以确凿的证据展示了一种在Si衬底上制备ZnO单晶薄膜的机理与方法,而且所述利用Mg氧化获得MgO的界面技术可应用到其他硅基异质膜的制备中。这一独创性的低温界面工程技术已申请国际专利一项、国内专利两项(其中一项已获授权(ZL200610064977.5))。这一工作是与清华大学的薛其坤院士、贾金锋教授、北京工业大学的张泽院士以及中科院上海技物所的陆卫研究员课题组合作完成的。 在Si基ZnO单晶薄膜制备工艺获得突破的基础上,杜小龙研究组进一步开展了Si基ZnO光电子器件应用研究。最近,该组的郭阳副研究员和张天冲博士生等与微加工实验室的顾长志研究组合作,设计并制备了一种新型n-ZnO/i-MgO/p-Si双异质结p-i-n可见盲紫外探测器原理型器件。该器件具有良好的pn结整流特性,在±2V时的整流比达到104以上。研究发现ZnO/Si中间插入的MgO势垒层有效地抑制了硅对可见光的响应,器件只对高于ZnO带隙(380nm)的紫外光响应,因而具有可见盲紫外光探测功能。与市售的硅紫外光电探测器相比,该器件充分利用了宽带隙ZnO卓越的光电性能,紫外光响应强,并可直接在可见光背景下工作,不需要滤光系统来屏蔽可见光的响应,因而具有结构简单、性能优越等优点。相关器件的制备技术已申请国家发明专利(申 请 号: 200810227958.9),相关研究工作最近已发表在应用物理快报上(APL, 94, 113508 (2009))。 由于ZnO的生长温度较低可以与成熟的Si平面工艺兼容,因此Si基ZnO体系可提供一种将电学、光学以及声学器件进行单片集成的途径,潜在应用价值巨大。物理所独创的硅基氧化锌单晶材料生长工艺以及新型器件结构设计与制备技术为我国在光电子技术领域的自主创新研究开辟了一条新路。该项研究获得中科院知识创新工程课题、国家自然科学基金委项目以及科技部项目等资助。

  • 电力电子器件热传导中的“热阻”

    Ta ,此时R即为d点到a点热阻。  在电力电子器件中,设芯片温度为:Tj、流动介质温度为Ta  热阻: Rja = (Tj - Ta)/P  当Ta为一定,发热功率P恒定时,热阻Rja 越小,芯片温度Tj也越小。  Rj-a 由三部分热阻叠加。ⅰ,芯片到器件外壳,热阻为Rjc;ⅱ,由器件外壳到散热器,热阻为Rcs;ⅲ,散热器到周围介质,热阻为Rsa  Rja = Rjc + Rcs + Rsa  第一项由器件制造者设计决定,第二项很小,装置设计者要考虑的就是第三项:Rsa  为叙述方便,先从强迫空气冷却(风冷)说起。  在风冷条件下Rsa 由以下几个因素决定:  ⅰ,散热器材质的热导率越大越好;  ⅱ,散热器与空气接触面面积越大越好;  ⅲ,风速大比小好;  但要注意的是:风机吹出的风是流体,同样遵循流体运动原理。即前方阻力小风速就大,流量增大;前方阻力大,风速就小,流量减小,有如并联电路的欧姆定律。所以不能用减小散热片的间距多加翅片,来单纯达到加大散热器的表面积的效果。因为间距一小,空气阻力增加,风在间隙处很难进去。此时,如在散热器周边没有阻挡物,大量的风就从周边通过。间隙内的风速很小,风量也不大,达不到冷却的目的。  文章来源:中国电力电子朱英文:高级工程师,中国电力电子产业网特约顾问

新型电子器件相关的资料

新型电子器件相关的仪器

  • ............. 用途:应用于微电子及光电子工艺电子器件:精密芯片,LED外延式芯片,LCD,BGA,精密光学仪器及光学元件,镀金铜线等;该系列产品被大量应用于在无尘净化车间电子器件及材料的安全防氧化保管。全自动氮气柜HSD系列(1%~60%RH)介绍Product Introduction 1.全自动氮气柜柜体采用1mm及1.2mm钢板制作,多处加强结构,承重性能好,重叠式结构设计,密封性能。2.表面处理采用先进的有18道工序组成的橘纹烤漆,耐腐蚀性强。 3.门镶3.2mm高强度钢化玻璃,防前倾耳式结构设计。带平面加压把手锁一体化设计,有防盗功能。底部安装可移动带刹车脚轮方便移动及固定(防静电机型脚轮为防静电)。4.LED超高亮数码显示,温湿度传感器采用品牌honeywell,温湿度独立显示,使用寿命长。湿度可设定且具有记忆功能,断电后无需再设定。5.湿度显示范围0%~99%RH,温度显示范围-9℃~99℃。显示精度:湿度±3%RH 温度±1℃6.配备氮气节约装置,当箱内湿度到达设定值时,系统会自动切断氮气供应,当超过设定值时,系统会智能打开氮气供应。相比市场其他直充氮气机型可节约70%氮气消耗量。大程度降低使用成本。7.采用多点供气系统。氮气通过30多个小孔冲入箱内,箱内氮气分布比较均匀。避免了普通单点供气而产生的死点死角现象。8.行业内一家拥有智能化控制系统的氮气柜。自动判断机器内湿度来决定工作时间,节省能源,延长产品使用寿命。产品机芯采用中外合作先进技术,使得产品性能稳定,质量大有保障。主机外壳采用高温阻燃材料,降低安全隐患。防静电机型表面处理采用先进的防静电烤漆,静电阻值为106-108欧姆,美观大方,耐腐蚀性强.,机型颜色为黑色。备注:普通不防静电柜子颜色为电脑白,防静电柜子颜色为黑褐色,型号为HSD98FD(可选配)。全自动氮气柜用途:应用于微电子及光电子工艺电子器件:精密芯片,LED外延式芯片,LCD,BGA,精密光学仪器及光学元件,镀金铜线等;该系列产品被大量应用于在无尘净化车间电子器件及材料的安全防氧化保管。 主要技术参数Specifications
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  • 飞纳台式电镜 Phenom 微型电子器件插件适用于半导体、微型电子器件和太阳能电池等。采用独特的固定机制,样品装载时不需要粘合剂和接触表面。 微型电子元器件插件规格试样:半导体或微电子器件夹持尺寸: 10 x 10 mm - 19 x 19 mm厚度: 高达1.5 mm主要优势不需要胶或粘结剂不刮擦或污染样品即时制样、加载不需要额外的工具来夹持试样
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  • 中图仪器NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。 产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3)应力测量:可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1)单区域测量模式:完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度,即可开始测量。2)多区域测量模式:完成Focus后,根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式,一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3)3D测量模式:完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置,一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机,在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径,在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪采用了磁吸式测针,当需要执行换针操作时,可现场快速更换扫描测针,并根据软件中的标定模块进行快速标定,确保换针后的精度和重复性,减少维护烦恼。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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新型电子器件相关的耗材

  • 微型电子器件插件、X-断面观测插件
    微型电子器件插件采用特制夹具将微型电子器件、太阳能电池以及其他晶片状材料固定在样品杯中,使其免遭到破坏。测试后,样品可以完好无损的取下,重新回到制备环节中去,或者参与其他损耗检测。微型电子器件插件与金像样品杯结合使用,可以直接将样品固定于插件上。不需要在背面粘附样品或者样品表面接触,通过倾斜的夹钳将样品牢固的固定在插件上,16 个夹钳均匀施力,不会造成样品的损坏。X-断面观测插件适合于涂层以及多层半导体器件等断口、断面的观测。与传统的耗时又费钱的树脂镶嵌相比,这种办法简单而快速,且不需要螺丝等其它工具来固定样品。X-断面观测插件与金像样品杯结合使用。借助X-断面观测插件,样品固定在特制夹具中,无需其他辅助工具,可以迅速而简便的对样品的位置进行调整。X-断面观测插件保留样品断面的原始状态,无需抛光,使得观测完毕后样品可重新使用或进行其它检测。
  • 检测器电子器件升级套件
    检测器电子器件升级套件通过升级可将检测器寿命至少延长20%。订货信息:所适用的ICP-MS型号部件编号2005年4月之前生产的ELAN 9000/6x00/DRC*W1013195*需要硬件工程师负责安装,但需缴纳安装费
  • 美国PE 珀金埃尔默 W1013195检测器电子器件套件
    美国PE珀金埃尔默 W1013195检测器电子器件套件检测器电子器件升级套件检测器寿命至少提高20%。ICP-MS模型部件编号2005年4月之前制造的ELAN 9000/6x00/DRCs* W1013195* 需要安装服务,但不包括在内。请联系吴女士:13336089003
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