表面分析科学

仪器信息网讯 2013 年8 月20日，&ldquo 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班&rdquo 在北京举行，本次会议为期两天。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。 　　本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。 会议现场 　　北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法介绍说：&ldquo 作为固体表面分析的重要手段，上个世纪90年代在我国掀起了表面分析技术的研究热潮，当时国内相关会议较多。但近年来，随着表面分析技术的发展成熟，其研究也进入了低谷期，国内已经多年没有召开过相关的会议。&rdquo 　　2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织了全国表面分析科学与技术应用学术会议，今年是该会议第二次举办。 北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法 　　朱永法说：&ldquo 目前全国的表面分析仪器有300台左右，有关表面分析技术的应用研究也比较多。今年在会议组织中我们希望能做的更规范，希望以后每年都能举行一次这样的学术会议，更好的促进同行之间交流与合作，推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合。&rdquo 　　会议的主题报告主要为X 射线光电子能谱法(XPS)、俄歇电子能谱法(AES)、表面增强共振拉曼光谱法(SERS)、扫描探针显微镜(STM)、飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)、辉光放电光谱法、椭偏光度法等表面分析技术手段在材料研究中的应用。值得一提的是，会议报告人不仅有高校科研院所的研究人员，还有来自企业的研究人员，如宝钢集团有限公司中央研究院、东莞新科技术研发有限公司、中国石化上海石油化工研究院等。 　　本次会议同期还将举行X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班，将进行XPS 中化学信息的抽取及其材料研究应用、XPS 数据的后期处理与(半)定量计算、XPS 谱图解析案例，以及分析设备的维修与维护技巧、多功能XPS 核心部件的维护和维修等内容的介绍。 高校分析测试中心理事会理事长梁齐 　　据高校分析测试中心理事会理事长梁齐介绍：&ldquo 从今年起，高校分析测试中心计划举行&lsquo 高端分析仪器研修班&rsquo ，希望帮助大家更好的了解大型仪器的先进技术及应用。第一届研修班以&lsquo 透射电子显微镜的前沿技术与应用&rsquo 为主题，已于七月份在中国科技大学举办，会议得到了很多分析人员的响应，本次研修班是第二届。&rdquo 　　梁齐说：&ldquo XPS是目前最主要的表面分析技术手段，以前由于仪器价格贵，国内用户并不是很多，但是目前我们了解到很多高校都采购了仪器。大家对XPS的应用也从常规分析发展到高端分析，比如利用XPS进行mapping、深度剖析、原位分析等。&rdquo 。 　　另外，据介绍会议还将对《GB/T 25185-2010/ISO 19318 表面化学分析X 射线光电子能谱荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 28894-2012/ ISO 18117：2009 表面化学分析分析前样品的处理》这两项标准进行宣贯。 　　表面分析仪器的主要供应商赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等都参加了此次会议，就最新表面分析仪器的最新产品和技术分别作了介绍。 与会人员合影 　　有关会议主题报告及最新产品和技术进展，敬请关注仪器信息网后续报道。（撰稿:秦丽娟） 　　相关新闻： 　　2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 主题报告 　　2013全国表面分析科学会议上的仪器厂商 　　X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班在京举办 　　2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 标准宣贯

表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同,而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。目前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。 　　为了深入了解表面分析技术最新动态、最新仪器性能特点，促进同行之间的技术交流，2014年8月29~30日，2014 全国表面分析科学与技术应用学术会议在成都.四川大学举行。60余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。因为本次会议是由高校分析测试中心研究会主办，所以会议内容不只有新方法新技术研究，还有关于如何用好仪器、如何解决工作中困难方面的交流。 　　实验数据&ldquo 去伪存真&rdquo 　　此次会议交流的内容更多的围绕着XPS展开。XPS是重要的表面分析技术手段，在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用，它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析，微区分析以及深度剖析(1-2nm)等。 　　对于复杂的材料体系或单一体系中复杂的化学状态，XPS的谱图一般多为数个化学状态的合成峰，且有可能因为轨道杂化的不同而造成峰型的变化。实验者要从众多的复杂的XPS谱图数据中得到有价值的实验结果，需要掌握数据处理基本原则和相关技巧。清华大学朱永法教授认为数据处理是&ldquo 去伪存真&rdquo 的过程。 　　北京大学谢景林教授分享了其在重叠谱图拟合方面的经验技巧 赛默飞葛青亲对谢景林教授的报告进行了展开，具体介绍了非线性最小二乘拟合方法的基本思想，并且分享和探讨了如何使用实际采集谱图、参考谱图，配合非线性最小二乘拟合方法对XPS数据进行处理 岛津龚沿东从XPS谱图的本底扣除、线型选择以及其他特殊处理方法介绍了XPS数据处理的一般原则。 　　北京师范大学吴正龙教授介绍了通过能量去卷积的数据处理方法提高了XPS谱图质量。目前常规的XPS最佳分辨水平(FWHM)约为0.5eV(Ag3d5/2)，仍不能满足多数元素价态分析的需求。而XPS分析中对谱峰展宽的贡献主要来源于仪器能量响应、X射线的线宽、样品等。而通过对表观谱进行能量去卷积处理，可以消除仪器和样品对展宽的贡献，进而提高XPS谱峰的分辨率。 　　应用研究热点 　　在国外，XPS等表面分析技术已经在生产企业中得到了广泛的应用，如进行半导体失效分析等。而在国内，表面分析技术还局限于科研单位，主要是利用XPS、AES等表面分析技术进行材料表面或界面发生的物理化学反应机理研究。研究热点主要集中在催化材料、碳纳米管石墨烯等新型材料、聚合物太阳能电池等新型器件等。 　　清华大学朱永法教授介绍了AES化学位移的产生、特点、影响因素等情况，以及AES化学位移在石墨、金刚石的表面吸附、固体表面的离子注入、薄膜制备、界面扩散等研究这个的应用。 　　铀在国民经济和国防事业中均有重要，但是金属铀的化学活性高，在环境中极易氧化腐蚀，导致其部件性能的劣化或失效，并且这种腐蚀还会带来环境的核污染。中国工程物理研究院刘柯钊研究员使用XPS等分析技术作为表征手段，研究了金属铀腐蚀行为与防腐蚀表面改性技术。 　　聚合物太阳能电池最有希望成为下一代太阳能电池之一。中山大学陈建教授以紫外光电子能谱(UPS)和XPS、AFS等技术，研究了醇/水溶性共轭聚合物阴极修饰层对不同电极材料功函数的影响，通过降低阴极功函数达到了提高器件能量转换效率的目的。 　　清华大学姚文清教授的研究对象是航空用电子元器件，这些器件长期在宇宙环境中工作不可避免的受到影响，可能引起器件的密封破坏等而最终失效。姚文清教授通过在超高真空系统中对器件进行紫外辐照、温度变化、电场变化等试验，在此环境下对航空用电子元器件进行原位模拟腐蚀，并采用AES等表面分析技术对器件腐蚀进行微观评价，建立器件腐蚀和失效的早期判断新方法。 　　南京大学高飞教授通过外置原位电池的应用，利用实验室现有常规XPS获得催化剂材料在真空条件下的准原位 (Ex-situ)信息。结合相关表征手段，准原位XPS成为了探究催化剂在反应条件下反应过程的有利工具。 与会人员合影 　　2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织召开了第一届全国表面分析科学与技术应用学术会议，此后该会议每年举行一次。今年是该会议第三次举办，会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、四川大学分析测试中心共同承办。2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议将由宁波新材料所承办。

关于召开&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 通知 　　(通知) 　　随着我国航天、微电子、信息产业、材料科学、能源及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术正起着越来越重要的作用。此外，随着我们科技实力的增强，各高校和研究机构购置大量新的表面分析仪器，拓展了表面分析学科的发展。为了推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合，加强同行之间交流与合作，建立表面分析学科和技术表面的交流平台,由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办，在北京举办&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 。 　　研讨会将于2013年8月20-21日在北京西郊宾馆举行，热忱邀请各位表面分析专家、学者参加，期望各位专家、学者与其他参会者进行广泛交流，探讨电子能谱表面分析与材料研究的共同发展，进一步拓展电子能谱表面分析技术在材料领域内的应用。 　　一、 学术委员会 　　主 任：朱永法，教授，清华大学 　　副主任：梁齐，教授，上海交通大学 　　成 员(以姓名首字母排序)： 　　程 斌，教授，北京化工大学 　　陈 建，研究员，中山大学 　　丁泽军，教授，中国科技大学 　　董林， 教授，南京大学 　　付晓国，研究员，核工业部表面物理与化学国家重点实验室 　　郭建东，教授，中科院物理所表面物理国家重点实验室 　　郝建薇，教授，北京理工大学 　　李崧，教授，北京师范大学 　　刘柯钊，研究员，核工业部表面物理与化学国家重点实验室 　　刘芬，副研究员，中科院化学所 　　马农农，高工，中国电子科技集团公司第四十六所 　　宋伟杰，研究员，中国科学院宁波材料技术与工程研究所 　　宋武林，教授，华中科技大学 　　吴正龙，教授，北京师范大学 　　王金淑，教授，北京工业大学 　　王海，副研究员，中国计量科学研究院 　　谢景林，高工，北京大学 　　姚 琲，教授，天津大学 　　姚文清，高工，清华大学 　　卓尚军，研究员，中科院上海硅酸盐所 　　郑遗凡，教授，浙江工业大学 　　朱 健，副教授，上海师范大学 　　张毅，高工，宝山钢铁股份有限公司研究院 　　二、 会议组委会： 主 任： 朱永法 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 副主任：李崧 北京师范大学分析测试中心 谢景林 北京大学分析测试中心 秘书长： 姚文清 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 　 吴正龙 北京师范大学分析测试中心 成 员： 宗瑞隆 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 　 李展平 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 　 张占男 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 　 常崇艳 北京师范大学分析测试中心 　 金波 北京师范大学分析测试中心 　　三、 会议时间、地点： 　　会议时间：2013年8月20-21日 　　报到时间：2013年8月19日全天 　　会议地点：北京西郊宾馆 　　四、 会议网站域名：http://m2020.meeting163.com 　　为便于加强同行间的交流与联系，请加入表面分析研究群，QQ：141579868。(进群后将群名片改为&ldquo 单位+姓名&rdquo ) 　　五、 征文要求 　　1. 论文投稿中、英文不限。 　　2. 论文篇幅：一页，请不要标页码。论文题目：三号黑体，居中。作者名：小四号楷体，居中。单位名、市名、邮编：小五号宋体，加圆括号，居中，下空一行。论文正文：五号宋体。 　　3. 正文中小标题：五号黑体。图表：图表与正文上下、左右都隔一行或一字的空隙。小五号字体。参考文献：小五号宋体，引用不超过5篇。 　　4. 为扩大交流会学术成果影响，优秀论文将推荐给相关核心、EI期刊发表。 　　六、 截稿日期 　　1. 截稿日期：2013年8月10日前。 　　2. 摘要及全文请发至zhangzn@tsinghua.edu.cn 　　七、 会议注册费 　　一般代表1000元，学生代表800元。会务费包含论文集、通讯录、专家费、会场费及会议期间餐费。住宿会务组统一安排，费用自理。 　　会议不组织旅游。 　　汇款信息如下： 　　开户行：工行北京分行海淀西区支行 　　帐号：0200004509089131550 　　收款单位：清华大学 　　备注：化学系姚文清会务费 　　八、 会务组联系 　　联 系 人：姚文清，吴正龙 　　联系电话：010-62783586，010-58805597 　　电子邮箱： yaowq@tinghua.edu.cn，wuzhenglong36@sina.com 　　主办单位：高校分析测试中心研究会 　　全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会 承办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心 　　北京师范大学分析测试中心 　　北京大学分析测试中心 　　媒体支持：仪器信息网 我要测 　　北京超星数字图书馆 　　2013.7.25 　　　　会议日程安排 日期 日程安排 备注 8.19星期一 报到、注册 北京西郊宾馆 8.20星期二 开会 北京西郊宾馆 8.21星期三 开会 北京西郊宾馆 　　参会回执表 单位名称 联系人 地 址 邮 编 姓 名 性别 职务 电 话 传真/E-mail 手 机 演讲人 职 务 住宿标准 单间 ○ 合住 ○ 发言题目 是否提交会议论文： 是○ 否○ 论文题目： 　　注：为便于订房，请各参会者在7月10日之前将回执发送至：张占男 zhangzn@tsinghua.edu.cn。