区分辩识

系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率： =5ps寿命衰减测量时间范围：=50ps—100us 高系统光谱分辨率： 0.1nm宽单次成谱范围： =200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱，荧光寿命，半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱，时间分辨拉曼光谱测量光通讯，量子器件的响应测量自由电子激光，超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射，激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率（1200l/mm）0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)最小时间分辨率：16ps荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式：1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器：sCMOS相机成像空间分辨率：优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线

X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 高分辨衍射仪平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接未来的挑战。X'Pert3 MRD 系列新增功能具体包括：&bull 全新高分辨率测角仪，它使用 Heidenhain 编码器，因而准确性更高且定位反馈时间更短&bull 无需使用工具即可快速将光管位置从点焦斑更改为线焦斑&bull 得益于气动快门和光束衰减器，系统正常运行时间满足过程控制要求&bull CRISP*（包括无铅光管塔）确保入射光路组件的寿命更长&bull 第二代 PreFIX，确保实现更准确的光学器件定位&bull 面向未来的单板计算机控制器，确保更好的连接性和更出色的远程支持*CRISP 指的是耐腐蚀智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。该技术使仪器运行更可靠，避免额外的维护工作。

日本理学Rigaku nano3DX是一款真正的X射线显微镜（XRM），能够以高分辨率测量相对较大样品的3D计算机断层扫描（CT）图像，这是通过使用高功率旋转阳极X射线源和高分辨率探测器来实现的。nano3DX允许通过改变X射线波长来增强对比度或穿透力，拓展了可检测样品的类型，包括那些具有低吸收对比度的样品（例如CFRP）、或更密集的材料（如陶瓷复合材料），因此，nano3DX扩展了无损成像的范围，使研究中至关重要的灵活性和洞察力有了重大突破。nano3DX特征◆ 高功率旋转阳极X射线源◆ 多种靶材可供选择(Cr，Cu和Mo)，可得到不同波长的特征X射线，以优化不同样品基质的成像◆ 光学耦合高分辨率探测系统，多种物镜可供选择◆ 快速数据采集，源自于高亮度的X射线源和高分辨率探测系统，速度比同类产品快3倍以上◆ 低Z材料的高对比度，实现了优于0.13g/cm3的密度分辨率◆ 支持原位实验◆ 高分辨率：空间分辨率优于400nm（特殊定制可达100nm）◆ 宽视野：采用相同分辨率和扫描时间，FOV比同类系统大5倍以上nano3DX典型应用日本理学nano3DX适用于逆向工程、产品研究、失效分析、高可靠筛选、质量评价、改进工艺等无损检测和评估工作。常用于各类材料(如合成材料、陶瓷复合材料等)、电子半导体元器件、地矿标本、仿生材料、生化物质等的计算机断层扫描成像，现已广泛应用于以下领域：◆ 材料学：结构材料、复合材料的微观特性分析，探讨/解析样品内部结构l金属材料、合金/铸造：航空航天， 精密制造， 半导体零部件l复合材料l高分子材料/聚合物：纤维材料， 发泡材料， 橡胶， 树脂， 高分子聚合物◆ 工程材料：建筑材料内部孔隙度、连通度和渗透性分析◆ 储能设备：质量控制、新产品开发的结构试验、失效分析等◆ 农牧业：动植物组织，木材和农产品（如种子）的质检和分析◆ 古生物学和考古学：种系鉴定、化石的结构分析，文物保护和修复◆ 地质：矿物勘察、地质分布、油气藏开发等 ◆ 半导体：元器件的结构分析应用案例：CFRP材料曾被认为很难通过X射线成像分析。由于nano3DX具有0.13g/cm3的密度分辨率，可以清晰的区分CFRP中碳纤维、环氧树脂和材料孔隙的显微结构，以三维形式观察，并可测量空隙数量、体积和方向。碳纤维增强聚合物(CFRP)。图像为1.8mm×1.8mm×1.4mm，体积由3300× 3300×2500体素表示。在相同的分辨率、时间范围内，单次扫描的测量体积比其他系统大25倍。