平面时间分辨测量

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平面时间分辨测量相关的耗材

  • TPX3Cam用于纳秒光子时间戳的单光子快速光学相机 (1.6ns时间分辨高速成像光学相机)
    总览荷兰ASI出品的TPX3Cam是一款用于光学光子时间戳的快速光学相机。它基于一种新型硅像素传感器,并结合了Timepix3 ASIC和读出芯片技术,适用于电子、离子或单光子等需要时间分辨成像的各种应用。TPX3Cam可以很容易地集成在桌上型研究装置中,也可以集成在同步加速器或自由电子激光环境中。使用TPX3Cam,可在速度映射成像设备中测量电子和离子。纳秒级的时间分辨率和数据采集速率使我们能够以前所未有的方式进行测量。TPX3Cam能够在400至1000 nm波长范围内以高量子效率同时对超过1000个光子的闪烁光进行成像和时间戳记。它可以在VMI(速度映射成像)装置中高效地记录撞击在MCP(微通道板)上的离子。 MCP耦合到一个快速P47磷光体屏,该屏产生响应离子撞击MCP的闪烁光。TPX3Cam放置在真空之外,能检测来自磷光体屏的闪光。在TPX3Cam中,所有单个像素都可独立工作,且能对伴随发生的' 事件' 进行时间戳记。 这就将成像传感器变成了快速数字转换器阵列,具有并行作用的空间和时间分辨率,因此可以同时记录多个离子种类,允许进行符合测量和协方差分析。 工作波长400-1000nm 技术参数优点光敏硅传感器波长范围:400 - 1000nm每像素的同时检测时间(ToA)和强度(ToT)时间分辨率1.6ns,有效帧率 500 MHz无噪声、数据驱动读数,高达80 Mhits/s (10Gb/s)灵活光学设计 下图:TPX3CAM能够同时对超过1000个光子进行成像和时间标记,在400到1000 nm波长范围内具有高量子效率。它可以在VMI(速度图成像)配置中有效地记录撞击在微通道板上的离子。MCP与快速P47荧光粉耦合,当离子撞击MCP时,该荧光粉会产生闪光。TPX3CAM,放置在真空之外,可以检测荧光粉的闪光。“在TPX3CAM中,所有单个像素都独立工作,能够对‘事件’进行时间标记。这将成像传感器转变成一个快速数化器阵列,具有空间和时间分辨率,同时发挥作用,因此可以同时记录多个离子种类,从而进行重合和协方差分析。"应用离子和电子成像TPX3CAM的应用包括飞行时间质谱中离子的空间和速度图成像;离子和电子的符合成像,以及其他时间分辨成像光谱类型。TPX3CAM能够以1.6 ns的时间分辨率检测离子撞击并对其进行时标记,从而可以同时记录所有碎片离子的离子动量图像。这种单检测器设计简单、灵活,能够进行高度差分测量。右边的图像显示了CH2IBr的离子TOF质谱,该质谱是在德国汉堡同步加速器的闪光光源下,用TimepixCam(TPX3CAM的之前型号)记录的,在强激光脉冲强场电离后,以及每个探测器的图像在TOF光谱中的峰值。单光子成像强化版TPX3CAM可以是单光子敏感的。在这种配置中,检测器与现成的图像增强器结合使用。应用包括宽场时间相关单光子计数成像(TCSPC),磷光寿命成像和任何需要时间分辨单光子成像的应用。 图像(a): 通过TimepixCam获得,TimepixCam是TPX3CAM的前一个模型。图像(b):对于(a)中所示的A1-A4区域,强度是时间的函数(磷光衰减),磷光衰减和拟合的残差具有单指数拟合。 规格传感器材料光敏性增强的硅波长范围400 - 1000 nm探测范围~1000光子/每像素 光学传感器活动区域14.1 x 14.1 mm2类型C型接口成像专用集成电路类型Timepix3像素间隔55 µm像素数量256 x 256阈值数量1吞吐量10 Gb/s 的情况下,高达80 Mhits/s1 Gb/s的情况下,高达15 Mhits/s停滞时间读数停滞时间为0时间分辨率1.6 ns有效帧速率 500 MHz像素击中停滞时间~1 µs读出模式数据驱动,通过每像素ToA和ToT检测同步时间和强度其他参数计算机接口1 Gb/10 Gb外部快门控制 有外部信号时间戳260 ps重量2.2 kg尺寸(长x宽x高)28.8 x 8 x 9 cm冷却空气采集软件Windows/ Linux/Mac的图形用户界面
  • 应用于时间分辨PIV的高重频激光器
    LDY300 PIV 系列 应用于时间分辨PIV的高重频激光器特点: —高能量@527nm —0-20KHz连续可变 —可在现场更换的泵浦模块 —专用PIV激光头 —薄殷钢光学轨道 —坚固耐用的工业设计应用: —PIV —粒子筛选 —Ti:S泵浦 LDY300系列是半导体泵浦,双腔,Q开关Nd:YLF激光系统,适用于高速PIV.输出能量高达30mJ@1kHz(每个腔)@527nm。激光器建立在一个坚固的自承重殷钢轨道上,机械性能优异,光学稳定性好。配合专利的谐振腔设计,输出光束在时间/空间上分布平滑,稳定,从而提供几乎相同的间隔照明。
  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications

平面时间分辨测量相关的仪器

  • 仪器简介:■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率:50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱技术参数:■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率:50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱主要特点:■ 红外吸收光谱测量范围:2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率:50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源,波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜,增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源,又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收),也可测量时间分辨红外光谱
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  • 系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率: =5ps寿命衰减测量时间范围:=50ps—100us 高系统光谱分辨率: 0.1nm宽单次成谱范围: =200nm静态(稳态)光谱采集,瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光,分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上,激发出的光电子通过阳极加速,入射到偏转场中的电极间,此时电压加在偏转电极上,光电子被电场偏转,激射荧光屏,以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大,并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比,因此,通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来,也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等,图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱,荧光寿命,半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱,时间分辨拉曼光谱测量光通讯,量子器件的响应测量自由电子激光,超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射,激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率(1200l/mm)0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合,配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口,标准荧光样品室,镜头收集耦合,共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试,也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统,以及低温制冷室,飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围:200-900nm(可拓展)最小时间分辨率:16ps荧光寿命测量范围:500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源: 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选,或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率:≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式:1:点泵浦-宽场探测:测量载流子迁移和热导率等;2:宽场泵浦-宽场探测:测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器:sCMOS相机成像空间分辨率:优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围:0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜,可兼容低温,探针台,电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线
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  • compact —— 即刻获得专业准确质谱数据的LC-MS/MS   作为超高分辨飞行时间(UHR-TOF)技术的先驱者,布鲁克树立了用LC-MS/MS精确质量所能达到的新标准和期望。compact 可以提供满足研究应用要求的强大技术,是稳定而且经济的台式系统,把研究级的技术应用到每一个常规分析任务。布鲁克 compact QTOF质谱仪 具有以下功能:* 采样速率高达50 GBit/sec,即使在超快速色谱分析时依然保持全灵敏度分辨率* 增强的动态范围,可以从复杂、高背景的基质中进行准确的痕量分析* 可与三重四极杆质谱竞争的亚pg级灵敏度,并且提供全扫描、准确的质谱数据* 通过自动校正确保优于1 ppm的质量精度 具有以下优越的功能:为可靠的精确度而生,无须妥协,为您打造即时专业信息可以实现所有仪器性能参数指标同时达到。您可以不采用折中的办法优化您的LC/MS方法。全灵敏度的分辨率 无需在灵敏度,分辨率两种模式之间做出选择,从而使您对样品的分析毫无限制。更宽的动态范围 大大增加了仪器对不同浓度样品的稳定性,这样就可以简化样品预处理过程,尤其是在高通量的定量实验中。超高灵敏度;创造性的灵敏度的改善使得compact对痕量物质的分析能力达到了三重四极杆质谱仪的水平,并将数据全扫描模式和精确分子量确认的优势带给所有常规筛查检测。  compact提供更高质量的结果,满足您所希望的尽可能充分地分析您的样品。compact具有独特的技术,无需调谐或优化,即可在一次运行中同时达到所有规定的性能参数。compact体现了布鲁克的一次性分析理念,加快生产率,保证每一位分析人员即使是第一次操作也能得到专业的校正结果。compact与先进的应用软件结合,提供完美的解决方案。无论您面临何种挑战,都是您专业的合作伙伴。compact为您的实验室提供即时的专业知识,囊括合成化学的确认,高级筛查和鉴定,蛋白组学和代谢组学,以及完整蛋白和生物制药分析。  compact 应用领域:化学合成产物的确证兴奋剂和非法添加剂的检测药物代谢和降解、杂质的鉴定和定量蛋白组学和代谢组学中生物标记物的发现和确证生物医药中完整蛋白的分析鉴定
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  • 【原创】扫描电镜的分辨率是如何测量的?

    各个厂家的扫描电镜对分辨率都有一个指标,例如在某个工作条件下是1nm,请问这个指标最后是怎么测量确认的呢?我知道透射电镜的分辨率的测量是拍摄金颗粒的某个晶面的图像,如111面的,因为Au的111面的面间距是已知的,只要能拍到清晰的高分辨图像,就可以说仪器到了这个分辨率了。但扫描电镜没有那么高的分辨率,所以通常它是怎样测分辨率就不清楚了,请指教。另外,还有一个关于spot size 的问题,请大侠也讲讲不同spot size对成像质量的影响,如何与电压、探头模式配合起来得到好的图像?

  • 采用瞬态平面热源法测量NIST标准参考材料SRM 1453热导率随真空度的变化

    采用瞬态平面热源法测量NIST标准参考材料SRM 1453热导率随真空度的变化

    1. 测试目的 美国国家标准与技术研究院(NIST)出品的标准参考材料泡沫聚苯乙烯板SRM 1453主要用于281~313 K温度范围内各种热导率测试仪器和设备的标定和校准,是目前国内外各种低热导率测试方法(稳态保护热板法和稳态热流计法)热导率测试的计量溯源,同样此标准参考材料也可以用于瞬态平面热源法热导率测试的标定和校准,以验证测试方法和测试设备的测量准确性。为此,采用上海依阳公司出品的瞬态平面热源法热导率测试系统对NIST SRM 1453标准参考材料进行热导率测试,以期实现以下目的:(1)评测和验证上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统的测量准确性,重点验证低导热材料(热导率0.03W/mK左右)测量的准确性。(2)NIST标准参考材料SRM 1453是一种典型的泡沫聚苯乙烯板,由于低密度和具有一定气孔率,所以这种材料的热导率会随真空度增高而减小。因此希望通过在不同真空度下测试SRM 1453的热导率,评估上海依阳公司瞬态平面热源法热导率测试系统测量极低热导率(小于0.03W/mK)的能力。(3)通过真空控制和真空腔提供变真空测试环境,在1E-04~1E+03Pa覆盖七个数量级的真空度变化范围内,测试NIST标准参考材料SRM 1453在不同真空度下的热导率,得到一条热导率随真空度变化的完整曲线,以期获得热导率随真空度变化的规律。2. 低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统 瞬态平面热源法热导率测量系统是依阳公司低温变真空环境热物理性能测试系统的一部分,采用HOTDISK公司配套产品进行热导率测试,配套主机如图1所示。选择HOTDISK公司的这台测量装置进行配套,主要考虑了以下几方面因素:(1)在采用瞬态平面热源法测试过程中,只需要简单地将探头固定在两块被测试样之间,在试样和探头温度恒定后,测试过程迅速。这样使得与试样直接发生关系的相关装置非常简单,便于对被测试样加载各种环境条件,这非常有助于进行低温和真空环境的材料热导率测试。 (2)瞬态平面热源法的热导率测试范围宽泛,基本可以覆盖绝大多数材料的热导率测试。有此采用一台这种测试仪器就可以实现金属和非金属的热导率测试,特别是低温和深低温环境下多涉及隔热材料和金属结构材料,以往至少需要两套大型测试设备才能分别实现隔热材料和金属材料的热导率测试,现在可以通过一套设备完美的解决热导率测试问题。(3)瞬态平面热源法热导率测试核心装置比较小,所需试样尺寸也不大,这就为多试样同时测量提供了可能。低温变真空环境材料热物理性能测试系统如图2所示,这套系统除了可以进行热导率测试能力之外,主要功能是模拟空间低温高真空环境,测试空间材料的低温热辐射性能。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041708_584268_3384_3.png图1 瑞典HOTDISK公司热常数分析仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584269_3384_3.jpg 图2 低温变真空环境材料热物理性能测试系统低温变真空瞬态平面热源法热导率测量系统主要技术指标如下:(1)温度范围:-200℃~200℃(任一点可控)。 (2)真空度范围: 1E-06Pa~1E+05Pa(可控制范围 1E-01Pa~1E+05Pa)(3)热导率测试范围:400W/mK以下。3. 试样和测试卡具 将购置的厚度为14mm的NIST标准材料材料SRM 1453切割成100mm见方的正方形,如图3所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584270_3384_3.jpg图3 NIST标准材料材料SRM 1453测试试样和测试卡具整体放置在如图4所示的真空腔体内,如图5所示将被测的NIST标准材料材料SRM 1453放入测试卡具内,如图6所示试样和探测器压紧后关闭真空腔,即可进行真空度的控制和热导率测试。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584271_3384_3.jpg图4 低温高真空腔体 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584272_3384_3.jpg图5 测试试样和测试卡具http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584273_3384_3.jpg图6 试样安装完毕后的待测状态4. 测试结果 在NIST标准参考材料SRM 1453不同真空度下热导率测试过程中,首先在常温常压下进行测试,然后再逐渐提高真空度并进行真空度控制,真空度控制精度达到5‰,稳定性优于1%。每个真空度至少恒定半小时后再开始热导率测量,每个真空度下进行2次重复性测量,任何2次测量间隔至少30分钟以上。由于NIST标准参考材料SRM 1453比较薄,厚度为14mm,由此在测试中采用了小尺寸的探头,编号C5501。整个测试过程中,试样温度保持在室温范围内,温度范围为22℃~23℃。为了便于测量控制及描述,真空度单位采用Torr,测试结果如下表所示。表中的试验参数表示测试过程中的探头加热功率(豪瓦)和测试时间(秒)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041722_584275_3384_3.png将以上测试结果绘制成横坐标为真空度、纵坐标为热导率的对数坐标曲线,如图7所示。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602041721_584274_3384_3.jpg图7 NIST标准参考材料SRM 1453常温不同真空度下的热导率测试结果5. 分析与结论 按照NIST所提供的SRM 1453热导率标准数据,在常温22℃的常压环境下,热导率标准数据为0.03348W/mK。按照上述的测试结果,在常温22℃的常压环境下,多次热导率重复性测量测试结果范围为0.03226~0.03251 W/mK,偏差范围为2.90%~3.65%,完全处于±5%的误差范围内。另外,从图7所示的测试结果可以看出,整

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  • 亚微米分辨红外+拉曼同步测量技术——打破传统芯片/半导体器件失效分析局面
    前言芯片是科技领域核心技术,是电子产品的“心脏”,是“工业粮食”。在新一轮科技革命与产业变革背景下,大力推动高科技产业的创新发展对于抢占全球高科技领域制高点、增强产业发展优势和提高国际竞争力的战略作用更加凸显。 而如何解决芯片/半导体器件有机异物污染问题,成为众多科研工作者的研究难题。虽然元素和无机分析存在高空间分辨率技术,如SEM-EDX,但在微米和亚微米尺度上识别有机污染物一直是巨大挑战。在过去的几十年里,传统的傅里叶变换红外光谱FTIR/ QCL显微技术虽然得到了广泛的应用,但在关键问题上存在一些局限性,例如相对较差的空间分辨率(5-20 μm)和对仪器介绍图1. 设备及原理图 基于光学-光热技术(O-PTIR)的亚微米分辨率红外拉曼同步测量系统mIRage可实现远场红外+拉曼显微镜的同步测量,该技术具有非接触、免样品制备、亚微米分析等优点,已广泛应用于硬盘和显示器等器件的成分分析。mIRage扩展集成的同步拉曼显微镜,主要用于目标物的应变/应力、掺杂浓度、DLC等测试。获取的高质量反射模式光谱可以通过亚微米红外拉曼同步测量系统mIRage在商业数据库中进行光谱比对检索,终确定亚微米到微米的污染物成分。mIRage光谱的显著优势:1. 亚微米红外空间分辨率,比传统FTIR/QCL显微镜提高30倍,达到500 nm;2. 非接触式测量,非破坏性,反射(远场)模式测量,无须制备样品;3. 高质量光谱(测试可兼容粒子形状/尺寸和表面粗糙度),没有色散/散射伪影问题;4. 可直接在商业数据库中匹配搜索 的污染识别和控制对于把控制造过程以及高科技产品开发至关重要,随着愈发严格的标准和产品尺寸的缩小,识别较小的污染物变得越来越重要和困难。mIRage的先进光学光热红外(O-PTIR)技术的出现彻底改变了微电子器件微小缺陷的红外化学分析方法。mIRage的工作原理是用宽可调谐的脉冲红外激光源激发样品,在样品中产生调制光热效应。通过光热效应提取并计算红外吸收, 通过检测反射探头光束强度的变化作为红外波数调谐的函数,从而提供红外吸收光谱。这种短波长脉冲探测光束(通常是532 nm)决定了红外测试空间分辨率,而不是传统FTIR/QCL显微镜中依赖的红外波长。由于其特的系统架构,短波长探测光束同样也能作为一个拉曼激光源,集成拉曼光谱仪后,mIRage系统可提供同一地点,同一时间,同一空间分辨率的亚微米红外+拉曼显微镜的检测结果。 精彩案例分享 在本文中,我们将介绍通过亚微米红外+拉曼同步测量技术对只有几微米尺寸的缺陷进行电子器件失效分析的研究,案例中的硬盘组件和显示组件由希捷技术提供。 图2为微电子器件免制样,原位测量数据。该案例展示了互补的、验证性的mIRage红外光谱和拉曼光谱的信息。尽管mIRage红外光谱是在反射模式下采集的,但它完全可以与FTIR/ATR数据库中的光谱相媲美。通过与KnowItAll(Wiley)红外光谱和拉曼光谱数据库进行比对,确定这种特殊的污染物可能是一种聚醚(缩醛)材料。污染可能源于研发过程中的异物,包括聚合物、润滑剂等。在此次测试中,mIRage获取的谱图与标准谱峰位重合度超过95%。图2. 左:可见图像显示6 µm缺损位置,右上:与标准数据库比对未知物质的红外光谱;右下:与数据库比对未知物质的拉曼光谱 在许多情况下,传统红外仪器可能会收到一些物质的影响无法直接接触到污染物。图3显示了金属薄膜下20 μm的黑色污染,从金属薄膜的白色圆形分层中可以看到,这是由于有缺陷的薄膜晶体管显示器突出造成的。传统的ATR显微镜的使用将受到薄膜存在的限制,阻碍直接接触污染粒子。此类样品可以通过mIRage进行光谱焦平面定位实现光谱检查,无需额外的样品制备或对粒子进行物理提取。特别是在1706 cm−1波段有强宽红外吸收带的存在,表明污染粒子可能是硫化的苯乙烯-丁二烯橡胶(SBR),已氧化形成羧酸。图3. 左上角:样品和测量的示意图;左下:光学图像缺陷;右:缺陷区域不同位置的mIRage红外光谱。颜色对应于光学图像上的标记。 结论综上所述,我们引进的革命性红外拉曼同步测量系统mIRage在显微红外方面取得了重大进展,如亚微米分辨率测量(~500 nm)、非接触模式测量(非ATR)、非破坏性和免样品制备、点线/面多模式分析、无任何色散/散射伪影以及提供数据库检索等。希捷科技选择mIRage系统是为了研究制造工艺和产品早期开发的污染改善问题。本文介绍的基本原理和实例表明mIRage在识别硬盘和相关精细电子行业的缺陷和污染方面有诸多优势。在红外显微光谱的重要发展领域中,mIRage技术具有颠覆性的潜力。而拉曼光谱仪的联用进一步拓展了它的能力,实现亚微米红外+拉曼显微镜同步测量(同一时间、同一点、同一空间分辨率),以提供互相印证的补充和确认信息。亚微米分辨红外拉曼同步测量系统mIRage的应用领域正在不断扩大,涵盖了聚合物、药学、司法鉴定、半导体器件缺陷分析、生命科学、环境地质、古生物等众多传统领域。
  • 中国科学院西安光机所获得时间分辨率优于10皮秒的激光内爆图像
    作者:张行勇 严涛 来源:中国科学报近日,由中国科学院超快诊断技术重点实验室分幅成像团队缑永胜副研究员负责的时间放大分幅相机,成功在中国工程物理研究院激光聚变研究中心神光-III原型装置上完成激光打靶实验,在国内首次获得了时间分辨率优于10ps(1皮秒=1-12秒)的激光内爆图像,为激光聚变过程精细化测量奠定了基础。时间放大分幅相机系统。 激光内爆图像。 图片均由西安光机所条纹相机工程中心提供该团队持续聚焦超快分幅成像技术,历经10年的的不懈攻关,终于攻克宽束电子光学调制、电子脉冲时间放大和宽谱电子聚焦等多项关键技术,研制成功时间放大分幅相机。他们将分幅相机时间分辨极限从60ps提高至5ps,空间分辨率优于20lp/mm(lp/mm是line-pairs/mm即每毫米线对,常用于表示镜头分辨率的单位,指成像平面1mm间距内能分辨开的黑白相间的线条对数)。据了解,这也是我国目前已实现工程化应用的最高时间分辨率分幅相机,对推动分幅成像技术发展和超快诊断技术发展具有重要意义。 该项研究获得中国科学院超快诊断技术重点实验室基金、中国科学院科研仪器设备研制项目、西安光机所自主部署项目和西部青年学者等项目的大力支持。
  • 河北大学76万元采购时间分辨光谱测量系统
    项目名称:时间分辨光谱测量系统  项目编码:HB2016063601060011  项目联系人:李俊旭  项目联系电话:0311-83086837  采购人:河北大学  采购人地址:河北省保定市五四东路180号  采购人联系方式:0312-5079589  代理机构:河北省国际招标有限公司  代理机构地址:石家庄市工农路486号  代理机构联系方式:0311-83086827  本项目招标公告日期:2016-06-24  定标日期:2016-07-15  总中标金额:76万元  合同履行日期:按合同约定  采购数量:1套  评审委员会成员名单:冯素江、王文淑、王庆林、张聪、祝梦林  供货商信息:  中标供应商名称:北京三宝兴业视觉技术有限公司  中标供应商地址:北京市海淀区北四环西路9号银谷大厦908室  中标供货商金额:76万元
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