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激光诱导击穿光谱(LIBS)通过样品表面的一个小点就能给出样品元素组成的信息，而且，使用灵敏度好的仪器，即使是含量很低的Z元素也可以测量。通过LIBS Software Suite(LSS)校准(单变量或多变量，PLS)和识别(PCA,NN)模型，可以创建宽范围的分析任务。校准模型可用于离线和在线测量。位于德国柏林的SECOPTA GmbH公司将Avantes的光谱仪集成到他们的FiberLIBS和 MopaLIBS元素分析系统，广泛应用在工业和实验室当中。方案
冶金样品中元素检测方案(激光诱导击穿)
金 | 含量分析
AvaSpec激光诱导击穿光谱仪
检测仪器 Avaspec -
本文按照ASTM B562-95标准规定，使用ICP-OES分析黄金纯度。珀金埃尔默 Avio 系列 ICP-OES具备操作成本低，几乎无需维护，而且分析速度快等优势。Flat Plate™等离子技术消耗的氩气显著减少，大大降低了每次的分析成本；PlasmaShear™技术生成一层薄的空气流切断等离子体的顶部，避免样品在轴向观测窗上发生沉积，实现在复杂基质中的卓越稳定性。因此，Avio ICP-OES能够长时间分析复杂基体样品，无需维护。另外，Avio ICP-OES卓越的光学系统能够稳定且准确地进行即时分析，缩短样品间隔时间。方案
黄金中黄金纯度检测方案(ICP-AES)
金 | 含量分析
电感耦合等离子体发射光谱仪Avio 500
检测仪器 Avio 500 -
纳米材料在许多消费产品领域的快速发展和应用要求我们必须快速和准确地对不同粒径和成分的纳米颗粒（NP） 进行表征。有多种技术可用来表征由金属组成的和含有金属成分的纳米颗粒，但均受技术所限无法大规模应用1。相比于这些技术，单颗粒ICP-MS 技术（SP-ICP-MS）具有明显的优势和更广的应用范围，已有大量资料证明它可以快速对金属纳米颗粒和/ 或纳米材料的组成和数量进行表征。欧盟委员会（EC）（2011/696/EU）对“纳米材料”的建议定义为：纳米材料是一种由基本颗粒组成的粉状或团块状天然或人工材料，这一基本颗粒的一维或多维尺寸在1 纳米至100 纳米之间，并且这一基本颗粒的总数量在整个材料的所有颗粒总数中占50%以上。一般而言，SP-ICP-MS 纳米颗粒（NP）分析的挑战之一就是准确地表征粒径小于20 nm 的颗粒。为了检测到尺寸小于20 nm 的纳米颗粒，SP-ICP-MS方法必须具备高灵敏度、快速数据采集速率（< 75μs 驻留时间）和低本底等特点。另外，具有自动阈值检测和实时本底扣除功能的数据处理软件也是至关重要的。本文介绍了搭载了独特射频发生器和离子透镜技术的珀金埃尔默公司NexION® 2000ICP-MS 配合Syngistix ™纳米应用软件模块可以准确地测量单一粒径或混合粒径纳米颗粒样品中粒径小于和等于10 nm 的纳米颗粒并对其进行表征。方案
10 nm Au纳米颗粒中粒径和数量检测方案(等离子体质谱)
金 | 理化分析
PerkinElmer NexION 2000 ICP-MS
检测仪器 NexION 2000 -
通过对样品不同部位的测试，比较测试的数据和图谱，发现样品异物的成分，推测异物来源，是一种很有效简便的方法，分析过程快速，无损，操作简单方便。方案
黄金中表面异物成分检测方案(能散型XRF)
金 | 理化分析
能量色散型X射线荧光分析装置
检测仪器 EDX-LE -
超纯水水质是许多敏感技术类实验获取成功的关键所在，伦敦大学学院 (UCL) 研究人员充分信任 ELGA PureLab Option系列主机 + DV35升水箱组成的纯水系统，可以生成用于符合其多种实验需求的必要试剂。方案
金和银中纳米颗粒的精细结构检测方案(超纯水器)
金 | 纳米颗粒的精细结构
PURELAB Option-Q 纯水机
前处理设备 PURELAB Option-Q 7/15 -
从原材料处理到金属加工再到最终产品的监控，赛默飞满足您在线及实验室所有严苛的金属分析需求，帮助您改善工作流程，为您提供优异的元素分析产品和用心的服务。 赛默飞是卓越的元素分析仪器、材料辐射剂量测试系统和过程仪器的供应商，从仪器选型到安装维护再到方法开发，我们的专业人员可以向您提供其在金属行业数十年的专业知识, 以此来帮助您提升效率、降低生产成本。方案
冶金——从实验室到在线全方位解决方案
金 | null
色谱与质谱分析
检测仪器 赛默飞色谱与质谱分析 -
Olympus Evident于2023年正式推出Vanta GX 贵金属分析仪，更新贵金属检测仪热销款GoldXpert。Vanta GX搭载高阶CCD实时镜头，任何珠宝饰品以及金条、银块等，都可于数秒钟实时分析八大贵金属含量。方案
Vanta GX 贵金属鉴定的新科技
金 | Vanta GX 贵金属鉴定的新科技
HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪
检测仪器 FT160
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