wawawa
第1楼2008/04/26
Ni / N0 = gi / g0 exp(- Ei / kT)
Ni与N0 分别为激发态与基态的原子数; gi / g0为激发态与基态的统计权重,它表示能级的简并度;T为热力学温度; k为Boltzman常数; Ei为激发能。
从上式可知,温度越高, Ni / N0值越大,即激发态原子数随温度升高而增加,而且按指数关系变化;在相同的温度条件下,激发能越小,吸收线波长越长,Ni /N0值越大。尽管如此变化,但是在原子吸收光谱中,原子化温度一般小于3000K,大多数元素的最强共振线都低于 600 nm, Ni / N0值绝大部分在10-3以下,激发态和基态原子数之比小于千分之一,激发态原子数可以忽略。因此。基态原子数N0可以近似等于总原子数N。
caijvren
第2楼2008/04/26
很感谢,不过你说的这个问题不是我要的问题,我是指原子化器中的基态原子在吸收光源发射的谱线后,以谱线减少的程度作为定量的依据,但是原子化器中的基态原子在吸收谱线后会重新跃迁为激发态原子,会发射出发射谱线,怎么会测定出吸收谱线强度减弱的程度呢???
我在故我思
第3楼2008/04/26
你好!首先减少的是谱线的强度I,当从元素灯光源发出的锐线元素特征谱线经过基态原子被吸收之后,辐射强度减弱。虽然基态原子吸收了辐射能之后跃迁至激发态,而激发态的时间很短,立即返回基态,也发射相应的共振谱线。但是,此时虽然会出现发射的共振谱线,然后,由于发射的方向是空间球体任意的,能与元素灯发射谱线方向一致的谱线相对要少的多,也就是几率很小的发射谱线能到达检测器。这些谱线的强度与光源的谱线强度相比几乎可以忽略。所以,发射谱线对测定的影响是很小的。
caijvren
第4楼2008/04/26
你好!首先减少的是谱线的强度I,当从元素灯光源发出的锐线元素特征谱线经过基态原子被吸收之后,辐射强度减弱。虽然基态原子吸收了辐射能之后跃迁至激发态,而激发态的时间很短,立即返回基态,也发射相应的共振谱线。但是,此时虽然会出现发射的共振谱线,然后,由于发射的方向是空间球体任意的,能与元素灯发射谱线方向一致的谱线相对要少的多,也就是几率很小的发射谱线能到达检测器。这些谱线的强度与光源的谱线强度相比几乎可以忽略。所以,发射谱线对测定的影响是很小的。[/quote]
非常感谢,这种解释非常合理!
原子化器中被激发的原子发射的谱线可以理解为空间中的一个灯泡,但是怎样解释元素灯发射的谱线方向一致呢?没看到元素灯里有光反射、聚焦的材料呀?