求助！急需要老师傅来帮忙！

你在哪，要在本市的话我可以免费上门处理。嘿嘿。

能不能详细说说,是测定样品有问题吗,地质样品比较复杂,你可以通过谱线扫描来看看干扰情况,尽量辟免干扰的出现,主要从样品处理和分析波长的选择上,另位你的有IEC功能,可以采用干扰元素校正 不过要选择一个好的分析方法必须要做测试条件的优化工作

说说你的样品是如何处理的？基体的问题想到了吗？加内标了吗？所测元素是什么？

他是贵阳的，很远，有附近的朋友可以去

大佬,我帮你出一个大都能用的ICP-OES的工作参数吧:

RF POWER;1.15~1.3KW
PLASMA GAS:15ml/min
AUXI GAS: 1.5ML/MIN
NEBU GAS: 0.7ML/L (28psi)
Pump Rate: 1.5
你说的测试标准样品差,有好几个原因产生的啦:
1)样品处理有没有完全,过程中有没有损失或污染
2)标准溶液的基体与待测样品基体是否匹配
3)选择的谱线是否存在待测元素的交叉干扰
4)可以用SPIKE来处理非光谱干扰引起的误差

对于分析基体比较复杂的样品在所有分析条件中我觉得观测高度的选择还是比较重要的，哈哈，其他的吗可默认了，

不，作地质样品的基体是不一致的，只能模拟来消除，所以误差比较大，所以我通常是这样作的，模拟基加内标，这样效果会更好一点，你不妨试试看

其实这问题说简单出不简单，你首先要确定是那方面的原因，不过从你的描述来讲，应该是样品的基体较复杂所导致的，不过你可以从下面几个着手：
1、基体匹配，就是让你的空白、标样、样品的基体基本一致
2、波长的选择，如果该条波长附近有干扰的元素，你可以选择另外的波长。MPX上每个元素有几十条波长可选。
3、如果基体干扰实在太大，那你可以采用外标法或内标法进行检测，MPX软件上都有这些方法可用I
4、如果实在没有办法，你可以打电话给VARIAN，让其帮忙，VARIAN在每个办事处都有专业的应用工程师可以提供支援