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【讨论】马尔文测量结果的残差

颗粒度测量

  • 马尔文人员说,其测试结果的残差越小结果越准确,当测试结果出来后如果对结果不满意可以改变折射率,改变几个折射率后在其中找出残差最小的那个折射率计算的结果做为最好结果,对这样的做法我表示怀疑态度,因为残差代表的是结果的反演精度,并不代表残差越小越接近真实结果,不同的折射率对应着不同的Mie矩阵,不同的矩阵的病态性有所区别,那么反演的精度自然不一样,和结果的真实性没有必然的联系,比如一个样品的真实折射率虚部是0.1,在这个折射率下的残差是0.5,当把虚部换为0,计算的残差确为0.1,残差是小了,但结果确不比原来更准确了.所以说变折射率来寻找残差最小的做为最后结果是完全没有道理的,和理论也是完全不符的.我认为在马尔文仪器中只有在确定真实折射率的前提下,来改变软件中的几种计算模型(通用,多峰,单峰),来找到一个残差最小的模型计算出来的结果做为最后结果还是有一定道理的,但前提是光散射信号的采集精度要足够高. 以上是我的个人看法,请大家讨论.
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  • litsas

    第1楼2008/08/28

    正如楼上所说的,残差结果是由样品的真实折射率来决定,改变折射率能够改善残差,但是选择结果时不是选择通过改变折射率后得到的残差较小的,而是选择同一测试情况下,平行测量结果中残差较小的;改变折射率后的残差结果比较没有意义。
    其实残差本身的意义就是表明的样品分散效果的好坏,如果样品处理不好的话,残差肯定相当高。

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  • youjian000

    第2楼2008/08/28

    如果样品的折射率不是很确定时,又该如何处理呢?

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  • fanjilai

    第3楼2008/08/29

    版主所说"表明样品分散效果的好坏"这种说法根据是什么?我不敢认同您所说.

    litsas 发表:正如楼上所说的,残差结果是由样品的真实折射率来决定,改变折射率能够改善残差,但是选择结果时不是选择通过改变折射率后得到的残差较小的,而是选择同一测试情况下,平行测量结果中残差较小的;改变折射率后的残差结果比较没有意义。
    其实残差本身的意义就是表明的样品分散效果的好坏,如果样品处理不好的话,残差肯定相当高。

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  • litsas

    第4楼2008/08/29

    我所说明的残差表明样品分散效果的好坏的依据是实验,不认同你也做一下试试,多做做实验,不要光研究理论,颗粒度测量还不是一个很成熟的测量技术,理论还需要试验数据的支持和实践的检验。

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  • litsas

    第5楼2008/08/29

    2楼专家提得问题是现在颗粒度测量技术的一个瓶颈,要想彻底解决这个问题,最好是发明一项在线即时测量样品折光率的技术。

    现在在实验室认证方面,颗粒度测量都没有给出一个确切的校正方法,认证时都是通过比对试验,就连标样也只是给出了一个测量范围,这项技术还有待于继续深入探索完善。

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  • fanjilai

    第6楼2008/08/29

    版主说的很好,理论是需要实验去验证,但实验数据必须要有理论做基础.但像您所说的残差与分散效果的关系,真的一点理论基础都没有,就算您做实验时发现有这样的现象,但也是个别现象,如果广泛实验我想一定露馅.

    踊跃参与讨论是好的,给予表扬!

    litsas 发表:我所说明的残差表明样品分散效果的好坏的依据是实验,不认同你也做一下试试,多做做实验,不要光研究理论,颗粒度测量还不是一个很成熟的测量技术,理论还需要试验数据的支持和实践的检验。

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  • yjjccan

    第7楼2008/08/31

    关于残差本身的意义就是表明的样品分散效果的好坏这一说法,我也持怀疑的态度,我觉分散处理只是一方面的原因,另外媒质中的气泡影响和内置超声时间也对残差有一点的影响。

    litsas 发表:正如楼上所说的,残差结果是由样品的真实折射率来决定,改变折射率能够改善残差,但是选择结果时不是选择通过改变折射率后得到的残差较小的,而是选择同一测试情况下,平行测量结果中残差较小的;改变折射率后的残差结果比较没有意义。
    其实残差本身的意义就是表明的样品分散效果的好坏,如果样品处理不好的话,残差肯定相当高。

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  • 人来人往

    第8楼2008/09/01

    楼主谈的这点可能是激光粒度测试中最让人头疼的部分了吧

    盲目的改变光学参数,很可能造成残差越小测试值距离真实值越远。那么,到底应该怎么评判一次激光粒度测试的好坏呢?

    fanjilai 发表:马尔文人员说,其测试结果的残差越小结果越准确,当测试结果出来后如果对结果不满意可以改变折射率,改变几个折射率后在其中找出残差最小的那个折射率计算的结果做为最好结果,对这样的做法我表示怀疑态度,因为残差代表的是结果的反演精度,并不代表残差越小越接近真实结果,不同的折射率对应着不同的Mie矩阵,不同的矩阵的病态性有所区别,那么反演的精度自然不一样,和结果的真实性没有必然的联系,比如一个样品的真实折射率虚部是0.1,在这个折射率下的残差是0.5,当把虚部换为0,计算的残差确为0.1,残差是小了,但结果确不比原来更准确了.所以说变折射率来寻找残差最小的做为最后结果是完全没有道理的,和理论也是完全不符的.我认为在马尔文仪器中只有在确定真实折射率的前提下,来改变软件中的几种计算模型(通用,多峰,单峰),来找到一个残差最小的模型计算出来的结果做为最后结果还是有一定道理的,但前提是光散射信号的采集精度要足够高. 以上是我的个人看法,请大家讨论.

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  • littleming

    第10楼2008/09/11

    其实残差的意思是比较测试的数据和标准数据库内的数据,即计算器自己找出最合理的一条曲线,然后和测试的曲线比较。所以只可以说残差越小,越接近计算器预计的数据。

    改变软件中的几种计算模型(通用,多峰,单峰)也不是一个好方法,因马尔文设计计算模型时没有考虑这点(已在其它帖子中说过,不再重复了。)。而且结果可能与楼主说的一样,残差小了,但结果差了。

    所以最终怎样评估测验好坏,只有靠对试样的认知,重复性,重现性和对比性。

    个人同意楼主说光散射信号的采集精度要足够高,因为这是数据计算的前提,所以,大家不妨问问仪器公司,他们的仪器有多少探测器!因为探测器越多,数据越准确。

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