扫描电镜(SEM/EDS)
春天的桃子
第1楼2008/10/09
用SEM+EDS测的都不是准确的,特别是象C,O的轻元素
daewoo_zy
第2楼2008/10/10
我们用EDS测出的B、C、O三个元素都是直接删除。
半个网客
第3楼2008/10/17
那是测试背景。你把空的样品台(带黏膜)放上去测一下就知道了,你测到的那是铝及上面的黏膜,黏膜主要就是碳和氧,还有氢你测不到的。
jwlee
第4楼2008/10/17
1、轻元素是测不准的;2、计算元素比重的时候可以把C、0直接去掉,不参与计算。
zhuangj581
第5楼2008/10/19
导电胶的主要成分就是C O 做微小颗粒或膜的成分时 很有可能电子束会打穿样品 把背景的成分打出来。
第6楼2008/10/20
不一定是电子束打穿样品,多是二次X射线。
百合仙子
第7楼2008/11/03
刚从老板那儿了解的XPS的情况,大概能套到楼主说的SEM上。这些测试仪器的检测灵敏度太高了,表层吸附的空气中的成分都能检测出来,所以任何样品在不经过氩离子刻蚀的情况下都被C和O盖的严严实实的,就好像宏观上我们看到好多天没擦的桌子一样,表面都是吸附的灰尘。当然样品室一般都是高真空的状态,尽管如此,由于通常用机械泵-油扩散泵抽真空,油扩散泵的残余油蒸汽在电子束的轰击下,会分解成碳的沉积物,影响超轻元素的定量分析结果,特别是对碳的分析影响严重。
rodgerfei
第8楼2008/11/04
很容易理解啊如果LZ想知道金属块的真实含量只要把表面打磨清洗干净就行了C、O多是有可能的C可能来自于表面有机污染物,O来自于氧化EDS计算含量是按百分比的C、O多了,金属肯定就少了而且EDS也是测的表面几微米的元素百分含量,基体里金属含量再多再固定也没用的,综上,你测到的很可能就是带有有机污染物的表面氧化层
huangtao0307
第9楼2008/11/04
EDS對輕元素分析可信度不高
第10楼2008/11/05
一般情况下是C不计算的,O可以计算.
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