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【求助】碳化硅块体材料透射电镜制样问题

  • ggwwmm1234
    2008/12/03
    • 私聊

透射电镜（TEM）

  • 各位高手，我的样品是碳化硅陶瓷，硬度比较高，很难磨，并且我还没有制过透射电镜样品，只是在网上看了一些资料。请问切片用什么设备？磨薄又用什么？我的样品脆性较大，可以挖坑么？
    制样的过程中有哪些需要特别注意的问题呢？
    谢谢各位！！
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    +关注 私聊

  • 蓝莓口香糖

    第2楼2008/12/03

    必须研磨吗？直接敲碎用粉末行不行？

0
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  • ggwwmm1234

    第3楼2008/12/03

    必须用磨的方法，我的颗粒较大，敲碎了就不能确定观察的位置了，还有请问这种制样方法能够观察到多大的范围？可达数十个微米么？

0
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  • 蓝莓口香糖

    第4楼2008/12/06

    离子减薄的穿孔范围达到几十微米没有问题。如果你对观察位置的精确性要求很高，恐怕只能FIB了。

0
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  • Ins_4a24714c

    第5楼2021/03/11

    老师，您好！

    想问下您现在对于这类材料我们是怎么处理的？

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