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【求助】3C-SiC的HRTEM照片解析

  • comet-2008
    2009/03/12
  • 私聊

透射电镜(TEM)

  • 样品中有多余的C,Raman看出存在严重的Stacking Faults现象;TEM样品是用FIB切后,又减薄的;
    我不明白为什么图中有的地方晶格很清晰,有的地方很模?可能原因是什么呢?样品太厚,非晶区还是Stacking Faults原因呢?
    先谢谢了

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  • tygk98

    第1楼2009/03/13

    模糊的地方应该是结晶不好造成的。

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  • comet-2008

    第2楼2009/03/14

    thank you, that might be one reason; but I realized that it looks like FIB process.

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  • avease100

    第3楼2009/03/14

    非常好~~~~~~沒什麼意見

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  • iamikaruk

    第4楼2009/03/14

    对图像做下FFT,我觉得一是带轴不正,二是有非晶影响

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  • comet-2008

    第5楼2009/03/14

    对不起,怎么判断带轴不正呢?在操作过程中怎么避免呢?非晶也有可能,是在离子减薄的时候造成的。

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  • iamikaruk

    第6楼2009/03/14

    看电子衍射判断带轴是否正。非晶可以尝试用低电压离子清洗一下。

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  • 天黑请闭眼

    第7楼2009/03/15

    我也觉得是带轴不正,一般带轴正的话,能看到两维的晶格条纹。

    comet-2008 发表:对不起,怎么判断带轴不正呢?在操作过程中怎么避免呢?非晶也有可能,是在离子减薄的时候造成的。

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  • comet-2008

    第8楼2009/03/16

    既然是非晶了,用低压等离子清洗目的是什么呢?

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  • comet-2008

    第9楼2009/03/16

    FFT转换后斑点少并且模糊,不是规则的SiC晶体衍射图,估计“iamikaruk”和您的说话一致

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  • iamikaruk

    第10楼2009/03/16

    能够去除样品表面非晶

    comet-2008 发表:既然是非晶了,用低压等离子清洗目的是什么呢?

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