【求助】X荧光分析镀层重量

XRF可以分析镀层的重量吗，还是第一次听（我孤陋寡闻吗？）
分析镀层成份就有，还有就是有分析镀层厚度的，有分析镀层重量的？
也想长一下见识！

XRF可以测量镀层的厚度，然后可以通过密度推算出重量。

有分析软件，直接得出结果

XRF可以测量镀层的面密度（g/m2或mg/mm2)，然后根据密度算出厚度。

什么牌子/型号,也许可以找到方法?!

XRF对铝硅的检出灵敏度性能较低，用此种方法检测镀层重量可能会引起较大的误差

若僅為基體塗覆上一層，可用一般的方式，若多層則可以用層膜計

准确的说是镀层质量而非重量，目前冷轧薄板镀铝锌用XRF分析已经算是比较成熟的方法了，采用的分析方法为检量线法和FP法，从日常生产检测角度来说建议采用检量线法。此方法的要求难点为建立曲线的内部标准物质最好为自己单位生产的产品，要有一定梯度，以减少基板材料的不同引起误差。对于多层镀层分析，荧光无法做到逐层剥离扫描的能力（辉光可以）；对于基板厚度小于0.2mm的双面镀层如双面镀Zn或者Sn要注意射线穿透基板激发非测量面的待测元素而使总待测元素强度升高。

是的，我们需要分析的就是面密度，前面描述不准，汗！