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【求助】请教一下关于SEM的问题

nakeking

2009/08/14

扫描电镜（SEM/EDS）

请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章，在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片，审稿人提了这样一个问题：Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息？在SEM上可以做么？
请大家帮忙解答一下啊，谢谢！

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rtl423

第1楼2009/08/14

我也不知道，想学习呀

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golf

第2楼2009/08/14

就是问你有没有拍背散射电子图像或者二次离子图像？
不好意思，我不太理解二次离子的意思，只听说过二次电子。不会是笔误吧。呵呵。期待高手指点。

nakeking 发表:请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章，在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片，审稿人提了这样一个问题：Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息？在SEM上可以做么？
请大家帮忙解答一下啊，谢谢！

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jeolzxj

第3楼2009/08/15

二次电子和背散射电子都是同时产生的，选择不同的探头就可得到不同的图像。二次离子是在低真空和环扫上有这个概念，它是由二次电子与气体作用而产生的，由它就可获得在低真空和环扫模式的图像。

0

anihaseyo

第4楼2009/08/27

确实没听过二次离子像，不知是不是笔误还是我孤陋寡闻。
不过可以告诉你的是，背散射电子像主要是看样品成分分布的，二次电子像主要反映样品表面面貌，背散射电子要比二次电子打入的深一些。

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insulater

第5楼2009/08/27

最后一句话说的有问题
好好看看资料
anihaseyo 发表:确实没听过二次离子像，不知是不是笔误还是我孤陋寡闻。
不过可以告诉你的是，背散射电子像主要是看样品成分分布的，二次电子像主要反映样品表面面貌，背散射电子要比二次电子打入的深一些。

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ceisar

第6楼2009/09/05

secondary ion是二次离子，常用于SIMS（离子探针），
backscattered不知是背散射电子，还是ＥＢＳＤ（背散射电子衍射）呢，如果是前者，只要有BEI探头就可以在SEM上观察！

nakeking 发表:请教一下关于SEM的问题。最近投了一篇文章，在文章中我给出了所做颗粒的SEM照片，审稿人提了这样一个问题：Were backscattered or secondary ion images obtained?
不知道backscattered or secondary ion images能提供什么信息？在SEM上可以做么？
请大家帮忙解答一下啊，谢谢！

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