djp1980
第2楼2009/08/20
感谢楼主提供了一个干扰现象和解决干扰的实例,但有下述问题和楼主商榷:
1.从你发表的文章中的现象看,没有任何证据说明你这是“物理干扰”。而使用标准加入法对基体干扰是很有效的,你的样品测量中很可能是遇到了基体干扰,大多数可以认是为在气相中发生。
2.在文中说到“物理干扰”的概念我认为有误:你说道“指试样在蒸发和原子化过程中,由于其物理特性如黏度、表面张力、密度等变化引起的原子吸收强度下降的效应。它是非选择性干扰。”从性质上看物理特性:粘度,表面张力,密度等影响的是雾化,由于这些原因使进入原子化器的待测物少了。属于“迁移干扰”,发生在样品的迁移过程中,当然这是物理干扰。但不是你说的在蒸发和原子化过程中。
3.对于这一类物理干扰最好的办法是内标法。
以上如有错误,望指正。
ldgfive
第4楼2009/08/21
谢谢提醒,我的物理干扰概念写的太笼统了,已经重新修改。