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【分享】一篇有趣的关于EBIC的文章

扫描电镜（SEM/EDS）

  • 版上有一些人正在做SEM-EBIC方面的研究
    下面的一篇文章可以看看

    Electron-beam-induced current study of stacking faults and partial dislocations in 4H-SiC Schottky diode

    APL,93,033514(2008)
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  • brave03

    第1楼2009/10/08

    附件怎么上传不上去啊？

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