【求助】请问SEM图像明暗的问题

LZ请上图~用的加速电压过高，的确会透过样品看到下层。

应助达人

明暗可能是导电程度引起的，也可能是正对/背对二次电子探测器吧

有图有真相

把样品直接放在导电胶上，用环扫看样品，

发现图像上同样的样品不同的颗粒明暗不一样，
亮的颗粒导电不是很好

是因为导电程度不一样引起的吗？

另外在观察很薄的片状样品时，好像能透过样品看到下层，这可能吗？
加速电压比较高时会发生这种情况，电子束穿透样品在底层激发出二次电子。

是否透明啦？


都是一样的成分的颗粒

看来你的材料是薄片状，根据下面的公式计算激发深度看是否击穿。
公式 Zm＝0.033（V01.7－VK1.7）A／ρz

Zm: 电子束激发深度（μm）
V0 : 激发电压（仪器用的高压）千伏
VK: 吸收边 （ 临界激发电压） 千伏
A: 原子量
ρ : 密度 克/厘米3
Z : 原子序数

楼上给出的公式很好。
可是我不明白“临界激发电压”指啥？

我这个东西的密度也不知道怎么测啊~囧~~~

第一张是石墨烯吗？薄膜材料用低电压拍好些。
第二张像是导电性不好导致边缘有放电现象。
两张图片的亮度、对比度可以调得更好些。

密度=∑元素i的密度×元素i的原子百分数
临界激发电压是激发某线系需要的最低电压