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【求助】请教如何用AFM测杨氏模量

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 初做力学性能测量,仪器是VEECO nanoscope IV, Multimode.想测纳米线的力学性质,看到manual上写着可以采用force modulation和nanoidentation的方式去测,文献上则采用identation的方式比较多,现有几个问题请教:
    1) 请问用identation的话是否必须用金刚石针,因纳米线较软,硅探针不知是否可以?
    2) 用identation测量薄膜的性质时是增加压力直到有压痕出现,但是纳米线如果有压痕不是很容易断吗?不知针对纳米线应该如何操作?
    3) 按照杨氏模量的公式,是得到力和形变量的值即可算出,不知用AFM测的时候具体应该得到哪些信息?

    请大家多多指教,谢谢大家了!
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  • qiar

    第1楼2010/02/24

    不好意思,是 nanoindentation

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  • leaflet

    第2楼2010/03/08

    测纳米线Young's模量的话应该是三点弯曲的方式吧,不是出现压痕,也就是把线悬空搭在一个沟槽上用针尖去压

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  • carne52

    第3楼2010/03/23

    楼上说的是对的,我做纳米纤维的杨氏弹性模量的时候用的是三点压弯测试技术,测力-距离曲线。

    nanoindentation也有试用过,测得的结果有很大的差别。

    不是很清楚两者测试的力学性能有什么本质意义上的区别。

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  • sciencemaji

    第4楼2010/04/22

    三点弯曲测模量是朱静院士一直专注的问题,建议你去查些朱静院士的工作。用纳米压痕做也可以,是根据Oliver-Pharr方法,需要知道力曲线和针尖参数,你可以去查下Oliver和Pharr的文章。

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  • quyanliang

    第5楼2010/05/24

    楼上的都很专业啊,我也学学

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  • leijingyatou

    第6楼2010/05/31

    是呀,多学习,O(∩_∩)O~

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  • chenga

    第7楼2010/06/17

    多多学习请教,但是应该用纳米压痕仪测量阿

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