hsteel
第1楼2010/05/03
关于第一条,确实如此,XRF的应用范围还是很广的。对于块状样品只要能加工成进样器的尺寸,放入样盒,就可以用XRF进行分析。液体样品可以特殊样品在氩气氛下进行直接分析,不过最近我看过把液体样品制成固体状,然后直接在抽真空的情况下当做一般块状样品分析的报道。对于粉末样品如果能直接压片,或者采用各种方式熔成玻璃片同样能够在XRF上分析。
对于微区分析,也有些人研究了专门的微区进样系统。对于能散型的仪器可以和扫描电镜配合使用,进行微区元素定量半定量分析。而波散型的仪器也有专门做微区分析的,比如电子探针EPMA,是电镜和XRF的结合体,其元素定性定量系统本质上就是XRF。
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第2楼2010/05/03
对于第三点,随着仪器性能的不断提高,检出限越来越低,对于常规元素,波散型的仪器检测ppm级别的元素含量已不成问题,当然这也和制样的质量有关。我做过1ppm级别的检测,线性还不错,至于0.1ppm本人没有试过,个别元素应该也行,但不能保证对常规元素都行。这样XRF在检出限上就可以和ICP-AES相媲美了,因为ICP虽然检出限要远低于XRF,但在溶液中大稀释比的情况下,反算到物料中的检出限就高不了荧光那么多了
hsteel
第3楼2010/05/03
人们对未知世界的探索,都希望能用简单的数学式来表达,也许科学发展的极限便是任何科学最终都能用数学来表达。
对于XRF来说,各种校正式层出不穷,也有影响力非常大的,得出的结果也还可以。但对于标准曲线法来说,以个人的经验来说,应遵循这样的原则,能不校正就不校正,虽然有时候校正后曲线回归的却是不错,但具体到测量的时候结果却并没有像曲线回归的那么完美,个人觉得可以从制样方式上存在突破而非一味的求助于数学模型。仅个人观点。
至于无相似标准样品时,采用熔融法要比选择数学校正好的多得多,无相似标样是强烈建议选用熔融法而非数学校正。