热分析仪
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tutm
第1楼2010/09/21
第一个问题,可能的原因:样品在测试过程中进一步发生交联反应,弹性模量增加;还有比较普遍的情况就是发生结晶,或测序度变大、产生应变硬化了。假设由于第一个原因,就能解释第二个问题了。
KK-yiqi
第2楼2010/09/21
这种现象可以重复吗?会不会是样品加工引入的问题?
goldbridge
第3楼2010/09/22
是可以重复的。我们在两种设备上都做了试验,Diamond DMA设备,合成波模式,现象十分明显Pyris系列7e型 DMA,每次测一个频率点,基本没有随温度升高的现象,即使有也不明显所以,我比较怀疑,是不是合成波模式造成的?
第4楼2010/09/22
谢谢您的解答,您说的原因是可能的。另外,我们在两种设备上都做了试验,Diamond DMA设备,合成波模式,一次设置五个频率(0.5Hz,1Hz,5Hz,10Hz,50Hz),随温度升高的现象十分明显Pyris系列7e型 DMA,每次测一个频率点,基本没有随温度升高的现象,即使有也不明显所以,我还怀疑,是不是合成波模式造成的?我看软件帮助也没有对合成波模式工作原理有解释
第5楼2010/09/22
看来是两种模式不同造成的。合成波模式没用过,是个怎么设置?是一次run做完5种频率?
第6楼2010/09/23
合成波是用5个频率合成的波形来测试的,结果用富利叶变换来分离的,是不是这个分离过程引入的?毕竟不是实际测试数值.
第7楼2010/09/23
哦,测试过程是快了,但引入了一些不可预知的影响吧
第8楼2010/09/23
是啊,富利叶变换分离实部虚部取值时,可能大多数情况适合,但有时候有的样品可能会引入未知情况,所以我们测试时,还是使用传统测试模式。因为对于经过数学处理得到的数据和仪器实际测得的,我们更相信实际测得的数值。不过楼主可以在同一台仪器上用两种模式相互验证一下,如果真有新现象,就值得深究了。
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